[發(fā)明專利]一種緊湊型多分幅陰影和紋影成像儀在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210588235.1 | 申請日: | 2022-05-27 |
| 公開(公告)號: | CN114993949A | 公開(公告)日: | 2022-09-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 袁鵬;李欣焱;鄭堅;黃浩彬;高凡;吳立軒 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/73 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責(zé)任公司 11251 | 代理人: | 安麗 |
| 地址: | 230026 安*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 緊湊型 多分幅 陰影 成像 | ||
本發(fā)明涉及一種緊湊型多分幅陰影和紋影成像儀,包括:脈沖光源及目標(biāo)靶系統(tǒng)、像傳遞系統(tǒng)、多分幅模塊系統(tǒng)和成像記錄系統(tǒng)。本發(fā)明具有光路搭建簡易且緊湊,多分幅實現(xiàn)簡單的優(yōu)點。能利用簡單的幾片分束鏡完成以往復(fù)雜光路才能實現(xiàn)的多分幅,在調(diào)節(jié)分幅數(shù)目與分幅間隔的可操作性上有巨大優(yōu)勢。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種緊湊型多分幅陰影和紋影成像儀,屬于激光等離子體的陰影和紋影成像診斷領(lǐng)域。
背景技術(shù)
在慣性約束聚變的研究過程中,對于冕區(qū)等離子體的診斷主要有成像型與非成像型診斷,對于成像型診斷而言,冕區(qū)等離子體的陰影、紋影成像診斷是目前主要采用的診斷方式之一。等離子體的陰影圖像敏感于等離子體密度梯度的二階導(dǎo),而紋影圖像敏感于等離子體密度梯度的一階導(dǎo)。在對等離子體的診斷中,兩者通常一起使用,對不同密度區(qū)間的等離子體形貌進行診斷。
常用的陰影、紋影成像診斷一般只能獲取某一個時刻的等離子體陰影/紋影圖像,如果要對同一物理過程獲取不同時刻的等離子體陰影、紋影圖像,一般采用的方式是在不同發(fā)次中,調(diào)節(jié)診斷光延時,獲取不同時刻的等離子體陰影、紋影圖像。然而對于慣性約束聚變而言,發(fā)次十分珍貴,發(fā)次之間的一次性很難保證,因此如果能夠在同一發(fā)次中對等離子體的狀態(tài)進行多個時刻的陰影、紋影診斷,將大大提高診斷效率,同時也能夠避免發(fā)次之間不一致性所帶來的問題。
目前已有幾種多分幅技術(shù),可以實現(xiàn)在單發(fā)次中實現(xiàn)多個時刻的等離子體陰影、紋影圖像記錄。然而它們的實現(xiàn)方式主要是通過光學(xué)方法生成診斷脈沖串,脈沖串之間具有時間間隔,在后端通過空間(Rev.Sci.Instrum.83,043501(2012))、時間(Rev.Sci.Instrum.91,033711(2020))或頻譜(Opt.Lett.31,1636-1638(2006))上的分離進行分離記錄,多分幅實現(xiàn)方式在光路排布上不簡單、不緊湊,同時在光路搭建完成后,分幅數(shù)目與分幅間隔基本已經(jīng)固定,分幅數(shù)目與分幅時間間隔切換困難。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的技術(shù)解決問題:針對現(xiàn)有多分幅技術(shù)光路搭建困難,光路排布不緊湊,分幅數(shù)目與分幅時間間隔切換困難的缺點,提供一種緊湊型多分幅陰影和紋影成像儀,具有光路搭建簡易且緊湊,多分幅實現(xiàn)簡單的優(yōu)點。能利用簡單的幾片分束鏡完成以往復(fù)雜光路才能實現(xiàn)的多分幅,在調(diào)節(jié)分幅數(shù)目與分幅間隔的可操作性上有巨大優(yōu)勢。
本發(fā)明技術(shù)解決方案:一種緊湊型多分幅陰影和紋影成像儀,包括:脈沖光源及目標(biāo)靶系統(tǒng)100、像傳遞系統(tǒng)200、多分幅模塊系統(tǒng)300、成像記錄系統(tǒng)400;
脈沖光源及目標(biāo)靶系統(tǒng)100,由納秒長脈沖激光器1產(chǎn)生的一束脈沖光經(jīng)過由目標(biāo)靶2產(chǎn)生的等離子體后,成為攜帶等離子體信息的信號光,經(jīng)過第一透鏡3后入射到像傳遞系統(tǒng)200;
像傳遞系統(tǒng)200,用于接收信號光,并對等離子體的像進行像傳遞,導(dǎo)入到多分幅模塊系統(tǒng)300中;
多分幅模塊系統(tǒng)300,用于接收信號光并在此處完成對信號光的延時;信號光在多分幅模塊系統(tǒng)300里不斷地進行透射與反射,形成多束具有不同延時的信號光,入射到成像記錄系統(tǒng)400里。
成像記錄系統(tǒng)400用于接收經(jīng)過多分幅模塊系統(tǒng)300后的多束具有不同延時的信號光,同時將不同延時的信號光成像到門控相機10的記錄面上,在門控相機10的記錄面上會出現(xiàn)多個具有不同延時的等離子體的像,門控相機10對不同延時的等離子體的像進行門控記錄,實現(xiàn)多分幅成像記錄;
所述脈沖光源及目標(biāo)靶系統(tǒng)100由納秒長脈沖激光器1與目標(biāo)靶2組成,在具體實驗時,另有一束脈沖激光聚焦到目標(biāo)靶上,用于產(chǎn)生等離子體;納秒長脈沖激光器1與目標(biāo)靶2光路連接;由長脈沖激光器產(chǎn)生的一束脈沖光經(jīng)過由目標(biāo)靶2產(chǎn)生的等離子體后,成為攜帶等離子體信息的信號光,經(jīng)過第一透鏡3后入射到像傳遞系統(tǒng)200中;
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





