[發(fā)明專利]圖像缺陷檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和程序產(chǎn)品在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210586712.0 | 申請(qǐng)日: | 2022-05-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114943708A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-08-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 袁肇飛;徐邵稀;付學(xué)寶;鄒軍;唐文博 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京沃東天駿信息技術(shù)有限公司;北京京東世紀(jì)貿(mào)易有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06V10/764;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270 | 代理人: | 賈偉;胡春光 |
| 地址: | 100176 北京市大興區(qū)經(jīng)濟(jì)技*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖像 缺陷 檢測(cè) 方法 裝置 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) 程序 產(chǎn)品 | ||
1.一種圖像缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取第一樣本集;根據(jù)所述第一樣本集對(duì)第一初始模型進(jìn)行預(yù)訓(xùn)練,得到訓(xùn)練完成的第一模型;所述第一樣本集包括多張無(wú)缺陷圖像;
獲取第二樣本集;根據(jù)所述第二樣本集對(duì)第二初始模型進(jìn)行訓(xùn)練,得到訓(xùn)練完成的第二模型;所述第二樣本集包括設(shè)置有正樣本標(biāo)簽的無(wú)缺陷圖像和設(shè)置有負(fù)樣本標(biāo)簽的有缺陷圖像;其中,所述第二初始模型是基于所述第一模型得到的;
獲取待檢測(cè)圖像,使用所述第二模型對(duì)所述待檢測(cè)圖像進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一樣本集對(duì)第一初始模型進(jìn)行預(yù)訓(xùn)練,包括:
獲取所述第一樣本集中的每張圖像,將所述第一樣本集中的每張圖像調(diào)整到固定尺寸;
對(duì)調(diào)整后的每張圖像進(jìn)行預(yù)處理操作;
基于預(yù)處理操作后的每張圖像,對(duì)所述第一初始模型進(jìn)行預(yù)訓(xùn)練。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于預(yù)處理操作后的每張圖像,對(duì)所述第一初始模型進(jìn)行預(yù)訓(xùn)練,包括:
將所述預(yù)處理操作后的每張圖像劃分為大小相等的圖像小塊;
對(duì)所述劃分后的每張圖像的圖像小塊進(jìn)行扁平化處理,得到第一圖像塊序列;
將所述第一圖像塊序列和第一嵌入向量進(jìn)行組合,得到第一圖像塊向量序列;所述第一嵌入向量包括旋轉(zhuǎn)嵌入向量和位置嵌入向量;
將所述第一圖像塊向量序列輸入至第一初始模型進(jìn)行預(yù)訓(xùn)練。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,在所述預(yù)處理操作包括Mask操作的情況下,所述將所述第一圖像塊向量序列輸入至第一初始模型進(jìn)行預(yù)訓(xùn)練,包括:
將所述第一圖像塊向量序列輸入至所述第一初始模型,得到輸出的圖像塊序列;
將所述輸出的圖像塊序列投影至圖像空間,得到重建圖像;
基于所述重建圖像和所述Mask操作前的圖像確定重建損失;
基于所述Mask操作前的圖像的類別標(biāo)簽確定旋轉(zhuǎn)損失;所述類別標(biāo)簽是根據(jù)所述Mask操作前的圖像的旋轉(zhuǎn)角度對(duì)應(yīng)設(shè)置的;
根據(jù)所述重建損失和所述旋轉(zhuǎn)損失,對(duì)所述第一初始模型進(jìn)行預(yù)訓(xùn)練。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第二樣本集對(duì)第二初始模型進(jìn)行訓(xùn)練,包括:
獲取所述第二樣本集中的每張圖像,將所述第二樣本集中的每張圖像調(diào)整到固定尺寸;
將調(diào)整后的每張圖像劃分為大小相等的圖像小塊,對(duì)所述劃分后的每張圖像對(duì)應(yīng)的圖像小塊進(jìn)行扁平化處理,得到第二圖像塊序列;
將所述第二圖像塊序列與第二嵌入向量進(jìn)行組合,得到第二圖像塊向量序列;所述第二嵌入向量包括分類嵌入向量和位置嵌入向量;
將所述第二圖像塊序列輸入至所述第二初始模型,得到每張圖像的缺陷分類結(jié)果;
基于所述每張圖像的缺陷分類結(jié)果和設(shè)置的樣本標(biāo)簽類型,確定分類損失;
根據(jù)所述分類損失,對(duì)所述第二初始模型進(jìn)行訓(xùn)練。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
在得到訓(xùn)練完成的第一模型后,獲取所述第一模型的骨干網(wǎng)絡(luò);所述骨干網(wǎng)絡(luò)為ViT網(wǎng)絡(luò);
對(duì)所述第一模型的ViT網(wǎng)絡(luò)添加分類頭,得到所述第二初始模型;所述分類頭用于得到圖像缺陷類別。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述對(duì)所述第一模型的ViT網(wǎng)絡(luò)添加分類頭,得到所述第二初始模型,包括:
在對(duì)所述第一模型的ViT網(wǎng)絡(luò)添加分類頭的基礎(chǔ)上,添加檢測(cè)頭,得到所述第二初始模型;所述檢測(cè)頭用于得到圖像缺陷位置。
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