[發(fā)明專利]一種存儲設(shè)備及其測試方法、測試系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210581391.5
• 申請日: 2022-05-26
• 公開（公告）號: CN114974389A
• 公開（公告）日: 2022-08-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳劍鋒
• 申請（專利權(quán)）人: 合肥康芯威存儲技術(shù)有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12;G11C29/44
• 代理公司: 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) 31219
• 代理人: 吳向青

1.一種存儲設(shè)備的測試方法，其特征在于，至少包括：

提供一存儲設(shè)備，并根據(jù)存儲信息的種類，在所述存儲設(shè)備中建立數(shù)據(jù)區(qū)域、系統(tǒng)塊區(qū)域和壞塊表映射區(qū)域；

對所述數(shù)據(jù)區(qū)域進(jìn)行第一讀寫測試，并根據(jù)所述第一讀寫測試的結(jié)果，在所述數(shù)據(jù)區(qū)域中建立第一壞塊區(qū)域和工作塊區(qū)域；

調(diào)節(jié)所述存儲設(shè)備的時序信息，并獲取所述工作塊區(qū)域的讀寫錯誤信息，根據(jù)所述讀寫錯誤信息，重復(fù)調(diào)諧所述存儲設(shè)備的讀寫參數(shù)信息；

根據(jù)所述讀寫參數(shù)信息，對所述工作塊區(qū)域和所述系統(tǒng)塊區(qū)域進(jìn)行第二讀寫測試，并根據(jù)第二讀寫測試的結(jié)果，在所述工作塊區(qū)域和所述系統(tǒng)塊區(qū)域內(nèi)標(biāo)記出第二壞塊區(qū)域；以及

獲取所述第一壞塊區(qū)域和所述第二壞塊區(qū)域的壞塊信息，并將所述壞塊信息記錄于所述壞塊表映射區(qū)域。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種存儲設(shè)備的測試方法，其特征在于，調(diào)諧所述存儲設(shè)備的讀寫參數(shù)的步驟包括：

以單倍數(shù)據(jù)速率對所述工作塊區(qū)域?qū)懭霐?shù)據(jù)，再以雙倍數(shù)據(jù)速率從所述工作塊區(qū)域讀出數(shù)據(jù)；以及

根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)產(chǎn)生的錯誤校正碼，校正讀取階段的時序信息，獲得最優(yōu)讀取時序信息。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種存儲設(shè)備的測試方法，其特征在于，調(diào)諧所述存儲設(shè)備的讀寫參數(shù)的步驟包括：

調(diào)整所述存儲設(shè)備的時序信息為最優(yōu)讀取時序信息，并以雙倍數(shù)據(jù)速率向所述工作塊區(qū)域?qū)懭霐?shù)據(jù)；

從所述工作塊區(qū)域讀出數(shù)據(jù)，并根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)產(chǎn)生的錯誤校正碼，校正寫入階段的時序信息，獲得最優(yōu)寫入時序信息。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種存儲設(shè)備的測試方法，其特征在于，在重復(fù)調(diào)諧所述存儲設(shè)備的讀寫參數(shù)信息后，搜尋所述存儲設(shè)備中存儲塊的結(jié)果頁，在所述壞塊映射表區(qū)域建立壞塊映射表，所述壞塊映射表包括所述第一壞塊區(qū)域的壞塊地址和壞塊信息。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種存儲設(shè)備的測試方法，其特征在于，所述第一讀寫測試的步驟包括：

提供多個預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)，按照所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)從大到小的順序，將所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)寫入所述工作塊區(qū)域，至寫滿所述工作塊區(qū)域；以及

讀出所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)，并記錄讀寫數(shù)據(jù)過程產(chǎn)生的錯誤校正碼。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種存儲設(shè)備的測試方法，其特征在于，在建立所述壞塊映射表后，在所述第二讀寫測試前，對所述存儲設(shè)備進(jìn)行預(yù)測試。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種存儲設(shè)備的測試方法，其特征在于，所述第二讀寫測試的步驟包括：

擦除待測存儲塊的存儲信息；

對所述待測存儲塊的全部存儲頁寫入數(shù)據(jù)；以及

讀取所述待測存儲塊的全部存儲頁。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種存儲設(shè)備的測試方法，其特征在于，標(biāo)記所述第二壞塊區(qū)域的步驟包括：

編輯系統(tǒng)塊區(qū)域的邏輯地址，在系統(tǒng)塊區(qū)域建立第一測試部和第二測試部；

對所述第一測試部和所述第二測試部進(jìn)行第二讀寫測試；以及

根據(jù)所述第二讀寫測試過程中的誤差校正碼，標(biāo)記并替換所述系統(tǒng)塊區(qū)域的壞塊。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種存儲設(shè)備的測試方法，其特征在于，標(biāo)記所述第二壞塊區(qū)域的步驟包括：在第二讀寫測試的過程中，將所述第一測試部和所述第二測試部的存儲信息互相備份存儲。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種存儲設(shè)備的測試方法，其特征在于，建立所述第一測試部和所述第二測試部的步驟包括：

編輯所述系統(tǒng)塊區(qū)域的邏輯地址，使所述第一測試部和所述第二測試部包括同等數(shù)量的參數(shù)塊、代碼塊和上電復(fù)位數(shù)據(jù)存儲塊。