[發(fā)明專利]一種用于探測顆粒大小高度的電阻脈沖傳感裝置及其方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210570743.7 | 申請日： | 2022-05-24 |
| 公開（公告）號： | CN114963954A | 公開（公告）日： | 2022-08-30 |
| 發(fā)明（設計）人： | 劉安;王琪 | 申請（專利權(quán)）人： | 復旦大學 |
| 主分類號： | G01B7/00 | 分類號： | G01B7/00;G01B7/02;G06N3/08;G06N3/10 |
| 代理公司： | 上海科盛知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31225 | 代理人： | 葉敏華 |
| 地址： | 200433 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 用于 探測 顆粒 大小 高度 電阻 脈沖 傳感 裝置 及其 方法 | ||
1.一種用于探測顆粒大小高度的電阻脈沖傳感裝置，其特征在于，包括設置在微通道內(nèi)的多個共面電極對，所述多個共面電極對之間的間距互不相同，所述共面電極對通過焊盤連接有對應的感應電路，所述感應電路連接有處理器，所述感應電路用于檢測共面電極對的顆粒識別信號幅值；
所述處理器根據(jù)多個顆粒識別信號幅值，基于預先訓練好的顆粒探測模型，輸出得到對應的顆粒大小和高度數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于探測顆粒大小高度的電阻脈沖傳感裝置，其特征在于，所述共面電極對位于微通道的底部。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于探測顆粒大小高度的電阻脈沖傳感裝置，其特征在于，所述共面電極對位于微通道的內(nèi)壁。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于探測顆粒大小高度的電阻脈沖傳感裝置，其特征在于，所述多個共面電極對的尺寸互不相同。
5.一種用于探測顆粒大小高度的方法，其特征在于，包括以下步驟：
S1、獲取多個已知顆粒大小和高度的樣本數(shù)據(jù)；
S2、基于樣本數(shù)據(jù)以及設置于微通道的多個共面電極對，通過感應電路檢測得到對應的顆粒識別信號幅值，結(jié)合機器學習算法，訓練得到顆粒探測模型；
S3、針對待測顆粒，基于設置于微通道的多個共面電極對，通過感應電路檢測得到待測顆粒的識別信號幅值；
S4、將待測顆粒的識別信號幅值輸入顆粒探測模型，輸出得到待測顆粒的大小和高度數(shù)據(jù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于探測顆粒大小高度的方法，其特征在于，所述步驟S2具體包括以下步驟：
S21、基于樣本數(shù)據(jù)以及設置于微通道的多個共面電極對，通過與共面電極對應的感應電路，檢測得到多個共面電極對在同一樣本數(shù)據(jù)下的一組顆粒識別信號幅值；
S22、結(jié)合多個樣本數(shù)據(jù)對應的多組顆粒識別信號幅值，采用機器學習算法進行模擬訓練，得到顆粒探測模型。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種用于探測顆粒大小高度的方法，其特征在于，所述步驟S22具體是采用機器學習算法模擬訓練出樣本數(shù)據(jù)的顆粒大小和高度對顆粒識別信號幅值的影響。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于探測顆粒大小高度的方法，其特征在于，所述顆粒探測模型采用神經(jīng)網(wǎng)絡模型架構(gòu)。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于探測顆粒大小高度的方法，其特征在于，所述機器學習算法的運行環(huán)境為Python。
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于探測顆粒大小高度的方法，其特征在于，所述機器學習算法的運行環(huán)境為Java。
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