[發明專利]耐壓測試裝置

在審

• 申請號: 202210562471.6
• 申請日: 2022-05-23
• 公開（公告）號: CN115128406A
• 公開（公告）日: 2022-09-30
• 發明（設計）人: 胡湘洪;陳波;羅軍;區憲來;劉石
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01R31/52
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 陳小娜

本申請涉及一種耐壓測試裝置。所述裝置包括第一控制組件、多個測試端口、開關陣列以及測試組件，其中多個測試端口與第一電連接器的第一殼體以及多個第一接觸件分別連接，第一電連接器與待測試的第二電連接器連接，第一控制組件通過與開關陣列通信，來控制開關陣列中開關的開閉，使得測試組件依次與每相鄰兩個接觸件行間形成測試通路、與每相鄰兩個接觸件列間形成測試通路、與各接觸件行以及第二殼體間形成測試通路、與各接觸件列以及第二殼體間形成測試通路，最后，測試組件通過上述測試通路向第二電連接器施加測試電壓，并在施加測試電壓后測量漏電流。采用本裝置能夠提高電連接器耐壓測試的效率及準確性。

技術領域

本申請涉及電連接器介質耐壓測試技術領域，特別是涉及一種介質耐壓測試裝置。

背景技術

電連接器是連接和斷開電線、電纜以及電插頭等部件的互聯元件，在航空航天、軌道交通、新能源汽車以及重大儀器裝備等領域具有重要且廣泛的應用。其中，介質耐壓是電連接器的一項重要的可靠性指標，用于表征電連接器的絕緣性能。如果電連接器的介質耐壓不合格，當電連接器的電壓突然增大時，電連接器的絕緣能力會大幅下降，可能導致電連接器短路。因此，介質耐壓測試是電連接器檢測中的必要檢測項。

目前，常用的介質耐壓測試的方法有兩步測量法，基本原理是測量電連接器上間距最近的接觸件和接觸件或者接觸件與電連接器外殼之間的絕緣能力。

但是，兩步測量法需要人工測量接觸件之間的間距，測量效率低，且人工測量容易產生誤差，影響介質耐壓測試的準確性。

發明內容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種測量效率高及準確性高的耐壓測試裝置。

第一方面，本申請提供了一種耐壓測試裝置。該耐壓測試裝置包括：

第一控制組件、多個測試端口、開關陣列以及測試組件，開關陣列設置于多個測試端口和測試組件之間，開關陣列包括多個開關；多個測試端口，用于與第一電連接器的第一殼體以及多個第一接觸件分別連接，第一電連接器用于與待測試的第二電連接器連接，在連接時，多個第一接觸件與第二電連接器的多個第二接觸件相互接觸，且，第一殼體與第二電連接器的第二殼體相互接觸，其中，多個第二接觸件按照陣列排布，陣列劃分為多個接觸件行和多個接觸件列；第一控制組件與開關陣列通信連接，用于控制開關陣列中開關的開閉，以使測試組件依次與每相鄰兩個接觸件行間形成測試通路、與每相鄰兩個接觸件列間形成測試通路、與各接觸件行以及第二殼體間形成測試通路、與各接觸件列以及第二殼體間形成測試通路；測試組件，用于通過測試通路向第二電連接器施加測試電壓，并在施加測試電壓后測量漏電流。

在其中一個實施例中，對于相鄰的第一接觸件行以及第二接觸件行，第一控制組件，具體用于控制開關陣列中的開關開閉，以使第一接觸件行中的各第二接觸件相互短路，第二接觸件行中的各第二接觸件相互短路，且，測試組件與第一接觸件行中的第一目標接觸件和第二接觸件行中的第二目標接觸件間形成測試通路。

在其中一個實施例中，對于相鄰的第一接觸件列以及第二接觸件列，第一控制組件，具體用于控制開關陣列中的開關開閉，以使第一接觸件列中的各第二接觸件相互短路，第二接觸件列中的各第二接觸件相互短路，且，測試組件與第一接觸件列中的第三目標接觸件和第二接觸件列中的第四目標接觸件間形成測試通路。

在其中一個實施例中，對于各接觸件行以及第二殼體，第一控制組件，具體用于控制開關陣列中的開關開閉，以使接觸件行中的各第二接觸件相互短路，且，測試組件與接觸件行中的第五目標接觸件和第二殼體間形成測試通路。

在其中一個實施例中，對于各接觸件列以及第二殼體，第一控制組件，具體用于控制開關陣列中的開關開閉，以使接觸件列中的各第二接觸件相互短路，且，測試組件與接觸件列中的第六目標接觸件和第二殼體間形成測試通路。

在其中一個實施例中，耐壓測試裝置還包括連接端口，連接端口用于與測試組件連接。