[發(fā)明專利]試樣斷裂測量裝置及使用方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210516958.0
• 申請日: 2022-05-12
• 公開（公告）號: CN114839044A
• 公開（公告）日: 2022-08-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙靜;魏彤;魏天路;張思欣;段歡慶;高碩
• 申請（專利權(quán)）人: 蚌埠學院
• 主分類號: G01N3/02
• 分類號: G01N3/02;G01N3/04;G01N3/08
• 代理公司: 昆明合眾智信知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 53113
• 代理人: 杜安杰

本發(fā)明提供一種試樣斷裂測量裝置及使用方法，包括撐架、底座、固定架、移動架、軸承座、四爪卡盤、水平運動機構(gòu)、第一測量平臺、推力測量底座、推力計、第二測量平臺、激光筆、長度標記底座和刻度尺，本發(fā)明通過兩個四爪卡盤固定斷裂的試樣，能夠方便裝夾固定截面為各種形狀的試樣，四爪卡盤能夠在軸承座上自由的進行轉(zhuǎn)動，可以方便將試樣上的原始標記朝上，便于調(diào)節(jié)兩個四爪卡盤之間的距離，從而適合各種長度的試樣，另外在試樣對齊后通過推力計測量四爪卡盤對斷裂試樣施壓的壓力，確保試樣的斷裂處既能夠壓緊又不至于形變，使用激光筆發(fā)出的激光能夠更方便的對準試樣的兩個原始標記，能夠快速準確的測量出斷后拉伸試樣的標距。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及試樣測量設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種試樣斷裂測量裝置及使用方法。

背景技術(shù)

在金屬材料拉伸力學性能試驗中，為了得到拉伸試樣的斷后伸長率，需要測量試樣斷裂后的標距，然后計算獲得材料的一些力學參數(shù)，其測量的方式只要為預(yù)先標出標距，然后通過拉伸試驗機將拉伸試樣拉斷，再測量斷后的拉伸試樣的標距，進而通過計算獲得相關(guān)參數(shù)，在現(xiàn)有技術(shù)中的拉伸試樣斷后標距測量過程中，主要通過人工一手手持已斷裂成兩段的拉伸試樣、并將其重新對接后，另一手拿刻度尺等測量工具進行測量，或者直接將已斷裂成兩段的拉伸試樣放置于桌面上、簡單拼接后進行測量，此種方法對測量人員熟練程度要求很高，必要時還需要其它人配合才能完成測量。

公開號為CN213481943U提供的一種拉伸試樣延伸率測量裝置，其通過將拉伸后的斷裂試樣裝入V型定位塊確保試樣平直，并通過彈簧上的壓力將試樣斷裂部位彌合緊密，從而減少測量數(shù)值上的人為誤差，該在一定的程度上方便了試樣斷裂的測量，但是仍舊存在著以下的不足：1、V型定位塊圓柱形的試樣，夾緊和固定不同截面的試樣時十分的不方便，放置在凹槽內(nèi)已斷裂成兩段的拉伸試樣，在重新對接時也較為困難；2、該裝置使用彈簧壓力讓斷裂的部分貼合緊密，雖然彈簧的彈力可調(diào)，但是無法確定知曉彈簧的彈力大小，彈力較小時施加給試樣的壓力較小無法緊密貼合，彈力較大時施加給試樣的壓力較大，容易造成形變，均會影響測量的準確性；3裝置僅能夠進行固定，沒有配備測量裝置，仍舊需要人工進行測量，測量效率較低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種試樣斷裂測量裝置及使用方法，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：

一種試樣斷裂測量裝置及使用方法，包括支撐架、底座、固定架、移動架、軸承座、四爪卡盤、水平運動機構(gòu)、第一測量平臺、推力測量底座、推力計、第二測量平臺、激光筆、長度標記底座和刻度尺，其中：

所述支撐架上安裝有底座，所述底座一端固定有固定架，所述底座的內(nèi)部安裝有水平運動機構(gòu)，所述水平運動機構(gòu)上安裝有移動架，用于帶動移動架沿著底座的方向水平運動，所述固定架和移動架上均安裝有軸承座，所述軸承座轉(zhuǎn)動安裝有四爪卡盤，兩個所述四爪卡盤相對設(shè)置；

所述底座一側(cè)固定有第一測量平臺，另一側(cè)固定有第二測量平臺，所述第一測量平臺上安裝有推力測量底座，所述推力測量底座上安裝有推力計，用于帶動推力計沿著底座方向運動并鎖緊固定，所述第二測量平臺上安裝有兩個長度標記底座，所述長度標記底座上固定有激光筆，用于帶動激光筆沿著底座的方向運動并調(diào)整激光筆的傾斜角度，所述第二測量平臺上還固定有刻度尺，用于指示兩個長度標記底座之間的距離。