[發明專利]混合質譜裝置

在審

• 申請號: 202210497003.5
• 申請日: 2022-05-09
• 公開（公告）號: CN115346855A
• 公開（公告）日: 2022-11-15
• 發明（設計）人: 羅蘭·萊曼;尤里·卡林依特成科
• 申請（專利權）人: 耶拿分析儀器有限公司
• 主分類號: H01J49/42
• 分類號: H01J49/42;H01J49/02;H01J49/06;H01J49/10
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 穆森;戚傳江

1.一種用于分析分析物樣品的質譜裝置(100)，包括：

離子源(1)，能夠從所述離子源(1)獲取來自所述分析物樣品的一定量的分析物離子，以用于提供離子束(7，11)，

質量分析儀(9)，所述質量分析儀(9)用于將所述離子束(7，11)的分析物離子基于其質荷比進行過濾，以及

第一檢測器單元(A)，所述第一檢測器單元(A)用于分析所述離子束(7，11)的離子，

其特征在于

所述裝置(100)還包括第二檢測器單元(B)，所述第二檢測器單元(B)基于飛行時間原理，且包括用于分析所述離子束(7，11)的離子的第二檢測器(15)。

2.根據權利要求1所述的質譜裝置(100)，

其中，所述第一檢測器單元(A)包括四極檢測器(10)。

3.根據權利要求1或2所述的質譜裝置，

其中，所述第二檢測器(15)為四極檢測器。

4.根據前述權利要求中任一項所述的質譜裝置(100)，

其中，所述質量分析儀(8)為四極質量分析儀。

5.根據前述權利要求中任一項所述的質譜裝置(100)，

包括至少兩個質量分析儀(8、26)。

6.根據前述權利要求中任一項所述的質譜裝置(100)，

其中，所述第一檢測器單元(A)平行于第一平面(E₁)布置，且所述第二檢測器單元(B)平行于第二平面(E₂)布置，所述第一平面(E₁)和所述第二平面(E₂)彼此之間具有預定角度，以及

其中，所述質譜裝置(100)被配置為將從所述質量分析儀(8)接收的離子束(11)引導至所述第一檢測器單元(A)或第二檢測器單元(B)。

7.根據前述權利要求中任一項所述的質譜裝置(100)，

還包括至少一個第一引導光學器件(C)，被布置和/或配置為沿著平行于所述第一平面(E₁)的第一流動方向(f₁)和/或沿著平行于所述第二平面(E₂)的第二流動方向(f₂)引導從所述質量分析儀(8)接收的離子束(11)。

8.根據權利要求7所述的質譜裝置(100)，

其中，所述引導光學器件(C)包括至少一個電極(12、13、25、30、31)和/或透鏡裝置或離子鏡。

9.根據權利要求7或8所述的質譜裝置(100)，

其中，所述質譜裝置(100)還包括切換裝置，用于在第一狀態和第二狀態之間切換所述引導光學器件(C)的至少一個組件，在所述第一狀態中，所述離子束(11)被引導或指導到所述第一流動方向(f₁)，在所述第二狀態中，所述離子束(11)被引導向所述第二流動方向(f₂)。

10.根據權利要求7-9中任一項所述的質譜裝置(100)，

其中，所述引導光學器件(C)被布置在所述質量分析儀(9)與所述第一檢測器單元(A)和所述第二檢測器單元(B)之間。

11.根據權利要求6-9中任一項所述的質譜裝置(100)，

其中，所述第一平面(E₁)平行于所述質量分析儀(9)的縱軸(L)。

12.根據權利要求6-9中任一項所述的質譜裝置(100)，

其中，所述第一平面(E₁)和所述第二平面(E₂)相互正交。