[發(fā)明專利]一種批量測試用例生成方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210452433.5 | 申請(qǐng)日: | 2022-04-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114780414A | 公開(公告)日: | 2022-07-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 田濟(jì)榕 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國銀行股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 薛平;周曉飛 |
| 地址: | 100818 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 批量 測試 生成 方法 裝置 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)程序測試技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種批量測試用例生成方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),所述方法包括:獲取狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖,其中,所述狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖根據(jù)預(yù)設(shè)的測試業(yè)務(wù)場景表得到,所述狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖包括若干狀態(tài)與所述狀態(tài)之間的狀態(tài)轉(zhuǎn)移關(guān)系;在所述狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖中去除一個(gè)或多個(gè)狀態(tài)以生成簡化表達(dá)式,其中所述簡化表達(dá)式包括狀態(tài)轉(zhuǎn)移關(guān)系、并列關(guān)系和聚合關(guān)系;根據(jù)所述簡化表達(dá)式生成測試用例,通過上述降低狀態(tài)的數(shù)量,將狀態(tài)合并,得到簡化狀態(tài)狀態(tài)圖以編寫測試用例的方法,可以實(shí)現(xiàn)全面且高效的生成測試用例。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)程序測試技術(shù)領(lǐng)域,可應(yīng)用于金融領(lǐng)域,尤其涉及一種批量測試用例生成方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)
本部分旨在為權(quán)利要求書中陳述的本發(fā)明實(shí)施例提供背景或上下文。此處的描述不因?yàn)榘ㄔ诒静糠种芯统姓J(rèn)是現(xiàn)有技術(shù)。
現(xiàn)有對(duì)系統(tǒng)的測試中,需要測試人員編寫測試用例,受測試人員專業(yè)技術(shù)的影響及測試場景的復(fù)雜性(例如涉及多模塊或多步驟、需要考慮邊界值、模塊或步驟之間的輸入輸出、系統(tǒng)狀態(tài)的變化等因素的場景)的影響,手工編寫測試用例的方式存在測試用例編寫效率低、無法覆蓋所有場景。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種批量測試用例生成方法,用以解決手工編寫測試用例的方式存在測試用例編寫效率低、無法覆蓋所有場景的問題,該方法包括:
獲取狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖,其中,所述狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖根據(jù)預(yù)設(shè)的測試業(yè)務(wù)場景表得到,所述狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖包括若干狀態(tài)與所述狀態(tài)之間的狀態(tài)轉(zhuǎn)移關(guān)系;
在所述狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖中去除一個(gè)或多個(gè)狀態(tài)以生成簡化表達(dá)式,其中所述簡化表達(dá)式包括狀態(tài)轉(zhuǎn)移關(guān)系、并列關(guān)系和聚合關(guān)系;
根據(jù)所述簡化表達(dá)式生成測試用例。
作為本文的一個(gè)實(shí)施例,獲取狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖包括:
根據(jù)所述測試業(yè)務(wù)場景表生成初始轉(zhuǎn)移圖,其中所述初始轉(zhuǎn)移圖包括狀態(tài)轉(zhuǎn)移關(guān)系指向結(jié)束狀態(tài)時(shí),出現(xiàn)成功和失敗的兩種狀態(tài)轉(zhuǎn)移關(guān)系;
根據(jù)兩種狀態(tài)轉(zhuǎn)移關(guān)系,生成兩種狀態(tài)轉(zhuǎn)移關(guān)系圖。
作為本文的一個(gè)實(shí)施例,所述在所述狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖中去除一個(gè)或多個(gè)狀態(tài)以生成簡化表達(dá)式,包括:
在所述狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖中,將除結(jié)束狀態(tài)與開始狀態(tài)外的狀態(tài)合并,每次合并時(shí)重新確定狀態(tài)之間的狀態(tài)轉(zhuǎn)移關(guān)系;
將所述結(jié)束狀態(tài)與所述開始狀態(tài)之間的狀態(tài)轉(zhuǎn)移關(guān)系作為所述簡化表達(dá)式。
作為本文的一個(gè)實(shí)施例,所述在所述狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖中,將除結(jié)束狀態(tài)與開始狀態(tài)外的狀態(tài)合并,包括:
在所述狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖中,篩選出與所述結(jié)束狀態(tài)最近且相連的狀態(tài);
將與篩選出的狀態(tài)相關(guān)的狀態(tài)轉(zhuǎn)移關(guān)系進(jìn)行合并。
作為本文的一個(gè)實(shí)施例,所述簡化表達(dá)式中所述并列關(guān)系用并列符號(hào)表示,所述聚合關(guān)系用聚合符號(hào)表示;
所述根據(jù)所述簡化表達(dá)式生成測試用例,包括:
遍歷所述簡化表達(dá)式,根據(jù)所述并列符號(hào)及聚合符號(hào)將所述簡化表達(dá)式拆分為并列的至少兩個(gè)簡化子表達(dá)式;
將所述簡化子表達(dá)式進(jìn)行拆分,生成若干測試用例。
作為本文的一個(gè)實(shí)施例,所述將所述簡化子表達(dá)式進(jìn)行拆分,生成若干測試用例,包括:
S1,在所述簡化子表達(dá)式中遍歷并列符號(hào);
S2,當(dāng)遍歷到第一個(gè)并列符號(hào)時(shí),將所述簡化子表達(dá)式進(jìn)行拆分,得到更新后的簡化子表達(dá)式,返回并繼續(xù)執(zhí)行步驟S1;
S3,若未遍歷到所述并列符號(hào),則根據(jù)最后生成的簡化子表達(dá)式,生成所述若干測試用例。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國銀行股份有限公司,未經(jīng)中國銀行股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210452433.5/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測;錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測試作故障硬件的檢測或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 一種數(shù)據(jù)庫讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測試終端的測試方法
- 一種服裝用人體測量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





