[發明專利]一種用于白光干涉儀的多功能新型檢測平臺有效
| 申請號: | 202210434405.0 | 申請日: | 2022-04-24 |
| 公開(公告)號: | CN114778085B | 公開(公告)日: | 2023-01-24 |
| 發明(設計)人: | 劉路通 | 申請(專利權)人: | 新啟航半導體有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/04 | 分類號: | G01M11/04;G01D3/08;F16F15/067;G01B9/02 |
| 代理公司: | 中山華文專利代理事務所(普通合伙) 44737 | 代理人: | 鮑璐璐;曹聰聰 |
| 地址: | 528000 廣東省佛山市高明區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 白光 干涉儀 多功能 新型 檢測 平臺 | ||
本發明公開一種用于白光干涉儀的多功能新型檢測平臺,包括有用于放置干涉儀本體的儀器固定臺和用于放置計算機的電腦固定臺,可以根據操作者的使用需求以及使用習慣來調節儀器固定臺和電腦固定臺之間的位置,便于操作者的使用;通過蓋板組件以及狀態選擇機構的設置,能夠使其蓋板組件中的主蓋板和伸縮蓋板保持向上豎直狀態,從而能夠有效的起到保護干涉儀本體的作用,進而能夠極大的降低干涉儀本體因存放不當或外部的意外因素造成損壞;當干涉儀本體不使用時,可通過升降機構帶動干涉儀本體從開口處縮入到儀器固定臺的內部,從而能夠有效的保護到干涉儀本體以及能夠起到防塵的作用;通過緩震底座的設置,使得干涉儀本體在運行中更加穩定精確。
技術領域
本發明涉及白光干涉儀技術領域,尤其涉及一種用于白光干涉儀的多功能新型檢測平臺。
背景技術
干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動,而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起,所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關的其他物理量。
很多領域中都會用到白光干涉儀對物體進行測量,白光干涉儀使用過程中,通常與計算機進行連接,通過計算機查看測量數據;而且,現有都是將干涉儀和計算機都是放置在一個檢測平臺上,操作者需要在干涉儀和計算機之間進行操作,從而操作者要頻繁的左右移動進行操作,操作起來極其的不便;另外,現有的檢測平臺只能使干涉儀簡單的進行放置,無法對干涉儀起到良好的保護作用,因為干涉儀屬于高精密儀器,在存放時不僅需要在潔凈干燥的環境下,還不能受到碰撞。
因此,有必要設計一種能便于操作者使用以及具有保護干涉儀結構的多功能檢測平臺。
發明內容
本發明的目的是為了提供一種用于白光干涉儀的多功能新型檢測平臺,來解決上述背景技術中的一個問題以上。
為了達到上述目的,本發明采用以下方案:一種用于白光干涉儀的多功能新型檢測平臺,包括有用于放置干涉儀本體的儀器固定臺和用于放置計算機的電腦固定臺,所述儀器固定臺與電腦固定臺的一側活動連接,在所述儀器固定臺內設有具有緩震結構的緩震底座以及驅動所述緩震底座上下升降的升降機構,干涉儀本體安裝在所述緩震底座上,在所述儀器固定臺的端面貫通設有開口,所述升降機構能驅動干涉儀本體上下升降從而伸出開口外或縮入開口內,在所述開口的左右兩側均鉸接有能敞開或封閉開口的蓋板組件,所述蓋板組件包括有轉軸、主蓋板以及伸縮蓋板,所述轉軸的兩端轉動安裝在開口的兩側,且在所述轉軸的外壁沿其軸向方向設有第一通槽,所述主蓋板活動穿設在第一通槽內,在所述主蓋板的端部貫通設有第二通槽,所述伸縮蓋板活動穿設在第二通槽內,在所述儀器固定臺上還設有狀態選擇機構,所述狀態選擇機構能夠使主蓋板與伸縮蓋板保持豎直狀態設置在儀器固定臺的上方,或使主蓋板與伸縮蓋板保持豎直狀態縮入儀器固定臺內,在干涉儀本體上安裝有開板組件,所述開板組件能夠通過干涉儀本體的上升從而將所述蓋板組件進行開啟。
如上述的一種用于白光干涉儀的多功能新型檢測平臺,在所述伸縮蓋板上還設有離合組件,所述離合組件能夠與傳動組件連接或脫離,當所述離合組件與傳動組件連接時,干涉儀本體上升過程中能夠同時帶動伸縮蓋板上升,當所述離合組件與傳動組件脫離時,干涉儀本體上升過程中伸縮蓋板保持在主蓋板內。
如上述的一種用于白光干涉儀的多功能新型檢測平臺,所述狀態選擇機構包括有設置在所述儀器固定臺端面且位于開口兩側的限位座,所述主蓋板的一側能貼合在限位座的一側從而使其保持豎直向上狀態,在所述儀器固定臺端面貫通設有能與第一通槽對應相連通通孔,所述主蓋板能豎直縮入所述通孔內,在所述儀器固定臺端面還左右滑動有擋板,所述擋板能左右滑動在通孔內從而限制主蓋板的移動。
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