[發明專利]一種厘定地下走滑斷裂滑動方向與走滑距離的方法在審
| 申請號: | 202210396893.0 | 申請日: | 2022-04-15 |
| 公開(公告)號: | CN114996795A | 公開(公告)日: | 2022-09-02 |
| 發明(設計)人: | 李云濤;丁文龍;劉天順;程曉云;石司宇 | 申請(專利權)人: | 中國地質大學(北京) |
| 主分類號: | G06F30/13 | 分類號: | G06F30/13;G06F30/20;G01V1/30;G06F119/02 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 厘定 地下 斷裂 滑動 方向 距離 方法 | ||
1.一種厘定地下走滑斷裂滑動方向與走滑距離的方法,其特征在于,所述方法包括:
S1、獲取走滑斷裂的斷穿層位以及走滑斷裂的走向;根據走滑斷裂的斷穿層位以及走滑斷裂的走向確定走滑斷裂范圍,根據走滑斷裂范圍確定走滑斷裂的延伸長度;
S2、在走滑斷裂兩側等間隔選取數組平行于走滑斷裂走向的測線;
S3、確定目的層,并開展層位追蹤與走滑斷裂兩側局部范圍剝蝕量恢復;
S4、按照同一方向獲取已選取測線的目的層原始厚度,并編制“目的層原始厚度-距離測線一側末端的距離”折線圖;
S5、基于每組平行于走滑斷裂走向的測線的“目的層原始厚度-距離測線一側末端的距離”折線圖判定斷裂滑動方向,基于地層厚度曲線特征點位置偏移量估算走滑距離。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取走滑斷裂的斷穿層位以及走滑斷裂的走向具體包括:
若走滑斷裂斷穿了某地層,則確定某地層為走滑斷裂的斷穿層位;
若沿走滑斷裂的走向其方位角恒定,則認為走滑斷裂走向不變;若沿走滑斷裂的走向其方位角變化,則根據方位角的變化特征將走滑斷裂分為數段。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述S2具體包括:
基于走滑斷裂的走向確定選取測線的走向;
基于走滑斷裂的延伸長度確定選取測線的延伸長度;其中,所選測線的長度與走滑斷裂的延伸長度相等;
基于走滑斷裂的延伸長度及響應用戶第一輸入,確定各測線間的垂直距離及測線數量;所述用戶第一輸入根據研究精度要求設定;具體為,當走滑斷裂的延伸長度較大時,所選測線之間的垂直距離應適當增大;當走滑斷裂的延伸長度較小時,所選測線之間的垂直距離應適當減小;當研究精度要求較高時,所選測線之間的垂直距離應適當增大;當研究精度要求較低時,所選測線之間的垂直距離應適當增大;
將距離走滑斷裂的垂直距離相等且分別位于走滑斷裂兩側的測線編為一組,并按照距離走滑斷裂的垂直距離從小到大對每一組進行編號。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于走滑斷裂的走向確定選取測線的走向具體為:若走滑斷裂的走向恒定,則所選測線的走向恒定,且與走滑斷裂相同;若走滑斷裂的走向變化且具有分段特征,則所選測線的走向變化且與走滑斷裂具有相同分段特征。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述S3具體包括:
獲取走滑斷裂斷穿層位的地震同相軸清晰程度,響應用戶的第二輸入,選取目的層的頂面或底面;具體的,地震同相軸清晰程度包括物理清晰程度與地質清晰程度,所述用戶第二輸入為物理清晰程度與地質清晰程度都較高的斷穿層位;
對選取的目的層頂面和底面開展層位追蹤;
對走滑斷裂兩側局部范圍剝蝕量恢復。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述S4包括:按照同一方向獲取已選取測線的殘余地層厚度;其中,所述殘余地層厚度為選取位置目的層的頂面深度與底面深度差的絕對值;
將殘余地層厚度與選取位置的地層剝蝕量相加,按照同一方向獲取已選取測線的原始地層厚度;
以獲取測線地層厚度方向的起點為原點,編制“目的層原始厚度-距離測線一側末端的距離”折線圖;其中,同一組測線的“目的層原始厚度-距離測線一側末端的距離”折線置于同一折線圖中進行比較。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述S5包括:通過每一組中分別位于走滑斷裂兩側測線的“目的層原始厚度-距離測線一側末端的距離”折線之間的平移后是否重合性判定走滑斷裂的滑動方向;其中,若位于走滑斷裂某一側測線的“目的層原始厚度-距離測線一側末端的距離”折線經平移后可與另一側測線的“目的層原始厚度-距離測線一側末端的距離”折線重合,則相反方向為走滑斷裂的滑動方向;
基于每一組中“目的層原始厚度-距離測線一側末端的距離”折線的幾何特征厘定特征點位置;根據每一組中“目的層原始厚度-距離測線一側末端的距離”折線特征點的偏移量估算斷裂的走滑距;其中,特征點的選取為“目的層原始厚度-距離測線一側末端的距離”折線上的最大值點、最小值點、極大值點、極小值點中的一種或多種。
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