[發(fā)明專利]一種鼻黏膜PPG光衰指數(shù)快速預測方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210312135.6 | 申請日： | 2022-03-28 |
| 公開（公告）號： | CN114822811A | 公開（公告）日： | 2022-07-29 |
| 發(fā)明（設計）人： | 顧斌;李益飛;其他發(fā)明人請求不公開姓名 | 申請（專利權(quán)）人： | 南京信息職業(yè)技術(shù)學院 |
| 主分類號： | G16H50/20 | 分類號： | G16H50/20;G06K9/00;A61B5/00 |
| 代理公司： | 南京縱橫知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32224 | 代理人： | 王麗霞 |
| 地址： | 210023 江蘇省*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 黏膜 ppg 指數(shù) 快速 預測 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種鼻黏膜PPG光衰指數(shù)快速預測方法及裝置，主要用于鼻腔過敏原刺激反應試驗。方法包括：自鼻黏膜受到刺激開始至時間T1內(nèi)按設定時間間隔連續(xù)采集光衰指數(shù)數(shù)據(jù)，其中，T1滿足2.3≤T2/T1≤3.5，T2為自鼻黏膜受到刺激開始至腫脹達到穩(wěn)態(tài)的通常的數(shù)據(jù)采集時間；對采集的數(shù)據(jù)進行多項式擬合，得到多項式函數(shù)P(t)；對多項式函數(shù)P(t)求解二階導數(shù)，令二階導數(shù)等于零得到方程，通過求解方程求得P(t)斜率變化率最大的時刻根據(jù)如下公式求得光衰指數(shù)穩(wěn)態(tài)值：其中δ為誤差修正因子。本發(fā)明較基于其它函數(shù)擬合的算法復雜度更低，可將鼻黏膜厚度測量時間縮短之原來的一半甚至更短，從而減輕了受檢者的痛苦。
技術(shù)領域
本發(fā)明屬于醫(yī)學檢測數(shù)據(jù)處理技術(shù)領域，具體涉及一種基于鼻黏膜光電容積描記(plethysmograph,PPG)法的光衰指數(shù)(通光率)快速預測方法及裝置。
背景技術(shù)
鼻炎、鼻竇炎和鼻腔過敏等鼻類疾患的發(fā)病率極高，因此鼻腔疾患診測是醫(yī)療服務領域中較為頻繁的活動，上述疾患的一個共同的病理特征是鼻黏膜水腫，其主要表象是鼻黏膜厚度增加，其主要癥狀是上細胞分泌物增加和上呼吸道阻塞，因此測量鼻黏膜厚度成為上述疾患診測的主要手段。
鼻腔阻塞程度的測量，較為常用的傳統(tǒng)的方法是前鼻測壓法(簡稱鼻壓法)和鼻聲測量法(簡稱鼻聲法)，例如文獻[P.A.R.Clement,Committee report on standardizationof rhinomanometry,Rhinology,vol.22,pp.151–155,1984.]提出的前鼻測壓法(anteriorrhinomanometry)，通過測量鼻壓評估鼻腔氣道的通暢度，口罩內(nèi)埋設了壓力傳感器；文獻[E.W.Fisher,Acoustic rhinometry,Clin.Otolaryngol.,vol.22,pp.307–317,1997.]提出鼻聲測量法(acoustic rhinometry)，通過埋設聲學傳感器檢測鼻腔回聲，經(jīng)過數(shù)據(jù)處理后，得到氣道剖面從而檢測其通暢度。文獻[Hampel,U.,et al.Optical measurement ofnasal swellings.IEEE Transactions on Biomedical Engineering,2004,51(9):1673-1679.]指出，上述測壓法和測聲法的缺點在于，一，受檢者舒適度很低，例如前鼻測壓法必須讓受檢者閉上嘴對一個不透氣的口罩進行呼吸；二，誤差較大；三，局部輕微堵塞容易漏檢；四，持續(xù)長時間測量不便；針對上述缺點，學界和業(yè)界提出了光學法，其主要原理是基于鼻黏膜對近紅外線(Near Infrared,NI)波段中短波(波長范圍780～1100nm，一般采用880和950nm兩種波長)的透光度，即光衰指數(shù)隨鼻黏膜厚度的變化進行測量。由于鼻黏膜腫脹(水腫)主要反映于其含水量增加，水對上述兩種波長的光衰指數(shù)的差異性非常顯著，而血紅蛋白對上述兩種波長的光衰指數(shù)非常接近，通過檢測上述兩種波長的光衰指數(shù)的差異性檢測鼻黏膜增加的厚度，從而診測其腫脹程度。上述方法在較大程度上解決了鼻壓法和鼻聲法的前述缺陷，然而，依然存在如下缺陷：由于自鼻黏膜受到刺激至腫脹達到穩(wěn)態(tài)通常需要較長時間，獲得完整數(shù)據(jù)需要十多分鐘，受檢者需要忍受較長時間的痛苦。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種鼻黏膜PPG光衰指數(shù)快速預測方法，以在很大程度上將鼻黏膜厚度測量時間縮短，從而減輕受檢者的痛苦。
為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：
一方面，一種鼻黏膜PPG光衰指數(shù)快速預測方法，包括：
自鼻黏膜受到刺激開始至時間T1內(nèi)按設定時間間隔連續(xù)采集光衰指數(shù)數(shù)據(jù)，其中，T1滿足2.3≤T2/T1≤3.5，T2為自鼻黏膜受到刺激開始至腫脹達到穩(wěn)態(tài)的通常的數(shù)據(jù)采集時間；
對采集的數(shù)據(jù)進行多項式擬合，得到多項式函數(shù)P(t)；
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