[發(fā)明專(zhuān)利]一種馬赫曾德?tīng)栒{(diào)制器半波電壓的測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210291049.1
• 申請(qǐng)日: 2022-03-23
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114814331B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-03-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張尚劍;衡英杰;徐映;朱峻峰;劉永
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 電子科技大學(xué)
• 主分類(lèi)號(hào): G01R19/00
• 分類(lèi)號(hào): G01R19/00
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種馬赫曾德?tīng)栒{(diào)制器半波電壓的測(cè)試方法，其特征在于包括以下步驟：

步驟a：搭建測(cè)試裝置，激光器(1)輸出的光載波直接送入待測(cè)馬赫曾德?tīng)栒{(diào)制器(2)，第一信號(hào)發(fā)生模塊(3-1)輸出頻率為f_d，幅度為V_d的正弦電信號(hào)加載到待測(cè)馬赫曾德?tīng)栒{(diào)制器的調(diào)制端，第二信號(hào)發(fā)生模塊(3-2)輸出頻率為f₁，幅度平均值為V₁的正弦電信號(hào)加載到待測(cè)馬赫曾德?tīng)栒{(diào)制器的偏置端，調(diào)制后的光信號(hào)被送入光電探測(cè)器(4)進(jìn)行拍頻，頻譜分析模塊(5)對(duì)獲取到的拍頻信號(hào)進(jìn)行分析測(cè)量；

步驟b：調(diào)節(jié)V₁，使光電探測(cè)器(4)輸出的頻率為f₁±f_d的譜線幅度最大，記為A(f₁±f_d)；步驟c：調(diào)節(jié)V₁，使光電探測(cè)器(4)輸出的頻率為f₁的譜線幅度最大，記為A(f₁)；

步驟d：將步驟b測(cè)量得到的A(f₁±f_d)和步驟c測(cè)量得到的A(f₁)，按照下式

求出待測(cè)馬赫曾德?tīng)栒{(diào)制器的調(diào)制系數(shù)m(f_d)，其中J₁(·)，J₀(·)分別為1階，0階第一類(lèi)貝塞爾函數(shù)；

步驟e：根據(jù)步驟a中設(shè)置的V_d和步驟d得到的調(diào)制系數(shù)m(f_d)，按照下式

求出待測(cè)馬赫曾德?tīng)栒{(diào)制器對(duì)應(yīng)于調(diào)制端驅(qū)動(dòng)信號(hào)頻率為f_d時(shí)的半波電壓V_π(f_d)；

步驟f：改變f_d，依次重復(fù)上述步驟a、b、c、d、e，獲取待測(cè)馬赫曾德?tīng)栒{(diào)制器調(diào)制端在不同頻率f_d時(shí)的半波電壓V_π(f_d)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種馬赫曾德?tīng)栒{(diào)制器半波電壓的測(cè)試方法，其特征在于該方法同樣適用于馬赫曾德?tīng)栒{(diào)制器偏置端半波電壓的測(cè)量。