[發(fā)明專利]一種鎖相環(huán)校準(zhǔn)電路、校準(zhǔn)方法以及一種壓控振蕩器

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210277975.3
• 申請日: 2022-03-21
• 公開（公告）號: CN114614815A
• 公開（公告）日: 2022-06-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 宋瑞佳;康希;黃志敏;唐嘉蔓;李學(xué)建
• 申請（專利權(quán)）人: 湖南國科微電子股份有限公司
• 主分類號: H03L7/089
• 分類號: H03L7/089;H03L7/091
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 柳虹

本申請公開了一種鎖相環(huán)校準(zhǔn)電路，包括：鎖相環(huán)；偏置轉(zhuǎn)換模塊，用于根據(jù)鎖相環(huán)中電荷泵的目標(biāo)輸出信號和校準(zhǔn)模塊的輸出信號生成目標(biāo)監(jiān)測信號；校準(zhǔn)模塊，用于對目標(biāo)輸出信號和目標(biāo)監(jiān)測信號進行比較，得到目標(biāo)比較信號，并利用目標(biāo)比較信號對鎖相環(huán)的導(dǎo)通狀態(tài)進行控制，以使目標(biāo)輸出信號保持在預(yù)設(shè)范圍之內(nèi)。相較于現(xiàn)有技術(shù)而言，由于該電路能夠根據(jù)鎖相環(huán)中電荷泵的目標(biāo)輸出信號對鎖相環(huán)的導(dǎo)通狀態(tài)進行控制，這樣就可以避免鎖相環(huán)一直處于導(dǎo)通狀態(tài)，由此就可以顯著降低鎖相環(huán)校準(zhǔn)電路所需要的功耗量。相應(yīng)的，本申請所提供的一種壓控振蕩器以及一種鎖相環(huán)的校準(zhǔn)方法同樣具有上述有益效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電力電子技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種鎖相環(huán)校準(zhǔn)電路、一種壓控振蕩器以及一種鎖相環(huán)的校準(zhǔn)方法。

背景技術(shù)

鎖相環(huán)校準(zhǔn)電路被廣泛應(yīng)用于各種設(shè)備的時鐘校準(zhǔn)場景中。在現(xiàn)有技術(shù)中，傳統(tǒng)的鎖相環(huán)校準(zhǔn)電路會一直處于導(dǎo)通狀態(tài)，并連續(xù)不斷地對鎖相環(huán)的輸出電壓進行校準(zhǔn)。顯然，這樣的設(shè)置方式就會極大的增加鎖相環(huán)校準(zhǔn)電路所需要的功耗量。但是，隨著集成電路的不斷發(fā)展，對于各種設(shè)備的低功耗要求越來越高。因此，如何降低鎖相環(huán)校準(zhǔn)電路的功耗量，是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種鎖相環(huán)的校準(zhǔn)電路、一種壓控振蕩器以及一種鎖相環(huán)的校準(zhǔn)方法，以降低鎖相環(huán)校準(zhǔn)電路所需要的功耗量。

其具體方案如下：

一種鎖相環(huán)校準(zhǔn)電路，包括：

鎖相環(huán)；

偏置轉(zhuǎn)換模塊，用于根據(jù)所述鎖相環(huán)中電荷泵的目標(biāo)輸出信號和校準(zhǔn)模塊的輸出信號生成目標(biāo)監(jiān)測信號；

所述校準(zhǔn)模塊，用于對所述目標(biāo)輸出信號和所述目標(biāo)監(jiān)測信號進行比較，得到目標(biāo)比較信號，并利用所述目標(biāo)比較信號對所述鎖相環(huán)的導(dǎo)通狀態(tài)進行控制，以使所述目標(biāo)輸出信號保持在預(yù)設(shè)范圍之內(nèi)。

優(yōu)選的，所述校準(zhǔn)模塊包括：

動態(tài)比較鎖存器，用于對所述目標(biāo)輸出信號和所述目標(biāo)監(jiān)測信號進行比較，得到比較輸出信號；

信號觸發(fā)模塊，用于產(chǎn)生目標(biāo)時鐘信號，并和所述動態(tài)比較鎖存器所輸出的所述比較輸出信號共同作用產(chǎn)生用于對所述鎖相環(huán)進行關(guān)斷或?qū)ǖ氖鼓苄盘枺?/p>

SAR ADC，用于根據(jù)所述目標(biāo)時鐘信號對所述動態(tài)比較鎖存器所輸出的所述比較輸出信號進行采樣，以得到對所述偏置轉(zhuǎn)換模塊進行控制的數(shù)字控制信號。

優(yōu)選的，所述動態(tài)比較鎖存器包括：

動態(tài)比較器，用于對所述目標(biāo)輸出信號和所述目標(biāo)監(jiān)測信號進行比較，得到所述比較輸出信號；

鎖存器，用于對所述比較輸出信號進行鎖存。

優(yōu)選的，所述動態(tài)比較器包括：第一NMOS管、第二NMOS管、第三NMOS管、第一PMOS管、第二PMOS管和第三PMOS管；

其中，所述第一PMOS管的源極和所述第二PMOS管的源極相連，所述第一PMOS管的漏極分別與所述第三PMOS管的漏極和所述第一NMOS管的漏極相連，所述第二PMOS管的漏極分別與所述第三PMOS管的源極和所述第二NMOS管的漏極相連，所述第一NMOS管的源極和所述第二NMOS管的源極均與所述第三NMOS管的漏極相連，所述第三NMOS管的源極接地；

相應(yīng)的，所述第一PMOS管的柵極、所述第二PMOS管的柵極、所述第三PMOS管的柵極和所述第三NMOS管的柵極均用于接收目標(biāo)時鐘信號；所述第一NMOS管的柵極用于接收所述目標(biāo)監(jiān)測信號，所述第二NMOS管的柵極用于接收所述目標(biāo)輸出信號。