[發明專利]絕緣子缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202210244766.9
• 申請日: 2022-03-10
• 公開（公告）號: CN114693609A
• 公開（公告）日: 2022-07-01
• 發明（設計）人: 張俊鋒;劉奇;王五豐;隗杰;帥率
• 申請（專利權）人: 武漢飛流智能技術有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06N3/08;G06N3/04;G06K9/62;G06V10/77;G06V10/82
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 吳士卿

1.一種絕緣子缺陷檢測方法，其特征在于，所述絕緣子缺陷檢測方法包括：

在獲取到待檢測圖像時，根據訓練好的絕緣子檢測模型從所述待檢測圖像中檢測絕緣子對或絕緣子串，得到絕緣子檢測框；

按照預設比例對所述絕緣子檢測框進行放大，得到目標檢測框；

根據訓練好的絕緣子缺陷檢測模型從所述目標檢測框對應的圖像中檢測絕緣子缺陷，得到絕緣子缺陷檢測結果。

2.如權利要求1所述的絕緣子缺陷檢測方法，其特征在于，所述按照預設比例對所述絕緣子檢測框進行放大，得到目標檢測框之后，所述方法還包括：

確定所述目標檢測框中多個絕緣子片對應的主方向；

根據所述主方向對所述目標檢測框進行旋轉，以使所述目標檢測框中絕緣子對或絕緣子串處于水平方向，得到旋轉處理后的目標檢測框；

根據訓練好的絕緣子缺陷檢測模型從所述旋轉處理后的目標檢測框對應的圖像中檢測絕緣子缺陷，得到絕緣子缺陷檢測結果。

3.如權利要求1所述的絕緣子缺陷檢測方法，其特征在于，所述在獲取到待檢測圖像時，根據訓練好的絕緣子檢測模型從所述待檢測圖像中檢測絕緣子對或絕緣子串，得到絕緣子檢測框之前，所述方法還包括：

獲取樣本圖像和對應的標注信息，其中，所述標注信息包括絕緣子標注信息和缺陷標注信息；

根據所述樣本圖像和所述絕緣子標注信息對絕緣子檢測模型進行訓練，得到訓練好的絕緣子檢測模型；

根據所述樣本圖像和所述缺陷標注信息對絕緣子缺陷檢測模型進行訓練，得到訓練好的絕緣子缺陷檢測模型。

4.如權利要求3所述的絕緣子缺陷檢測方法，其特征在于，所述獲取樣本圖像和對應的標注信息之前，所述方法還包括：

若第一樣本圖像中存在成對的絕緣子串，則框選絕緣子對得到第一標注框，并根據絕緣子串特征為所述第一標注框標注絕緣子對類別，根據所述第一標注框和所述絕緣子對類別生成所述第一樣本圖像對應的絕緣子標注信息，其中，所述絕緣子對類別為玻璃絕緣子對、陶瓷絕緣子對、復合絕緣子對或其他絕緣子對；

若第二樣本圖像中包含單個絕緣子串，則框選絕緣子串得到第二標注框，并根據絕緣子串特征為所述第二標注框標注絕緣子串類別，根據所述第二標注框和所述絕緣子串類別生成所述第二樣本圖像對應的絕緣子標注信息，其中，所述絕緣子串類別為玻璃絕緣子串、陶瓷絕緣子串、復合絕緣子串或其他絕緣子串；

若第三樣本圖像中不包含絕緣子串，則將空標注信息作為所述第三樣本圖像對應的絕緣子標注信息。

5.如權利要求4所述的絕緣子缺陷檢測方法，其特征在于，所述在獲取到待檢測圖像時，根據訓練好的絕緣子檢測模型從所述待檢測圖像中檢測絕緣子對或絕緣子串，得到絕緣子檢測框，包括：

在獲取到待檢測圖像時，將所述待檢測圖像輸入至訓練好的絕緣子檢測模型，以檢測所述待檢測圖像是否存在絕緣子對或絕緣子串；

確定各絕緣子對類別或各絕緣子串類別對應的置信度；

從各絕緣子對類別或各絕緣子串類別選擇置信度最高的目標類別，并確定所述目標類別對應的絕緣子檢測框。

6.如權利要求3所述的絕緣子缺陷檢測方法，其特征在于，所述獲取樣本圖像和對應的標注信息之前，所述方法還包括：

若第四樣本圖像中存在絕緣子串缺失缺陷，則框選缺失位置以及與缺失位置相鄰的絕緣子片，得到第一缺陷標注框，并為所述第一缺陷標注框標注缺失類別，根據所述第一缺陷標注框和所述缺失類別生成所述第四樣本圖像對應的缺陷標注信息；

若第五樣本圖像中存在除絕緣子串缺失缺陷外的其他缺陷，則框選缺陷發生位置生成第二缺陷標注框，并為所述第二缺陷標注框標注缺陷類別，根據所述第二缺陷標注框和所述缺陷類別生成所述第五樣本圖像對應的缺陷標注信息；

若第六樣本圖像中不存在絕緣子缺陷，則將空標注信息作為所述第六樣本圖像對應的缺陷標注信息。