[發明專利]前顳區異常放電的檢測系統、方法、電子設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202210189039.7
• 申請日: 2022-02-28
• 公開（公告）號: CN114652329A
• 公開（公告）日: 2022-06-24
• 發明（設計）人: 廖宇晗;吳原;馬美剛;孫蘭鳳;黃琪;韋興
• 申請（專利權）人: 廣西醫科大學第一附屬醫院;廣西醫科大學
• 主分類號: A61B5/37
• 分類號: A61B5/37;A61B5/291;A61B5/271;A61B5/374;A61B5/00;G16H10/60;G16H50/20
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 趙秀斌

1.一種前顳區異常放電的檢測系統，其特征在于，包括：

數據采集模塊，用于獲取多個導聯中每個導聯在每個采樣間隔內的原始腦電數據，所述多個導聯至少包括左前顳導聯和右前顳導聯；

第一數據處理模塊，用于對于每個所述導聯，根據該導聯對應的原始腦電數據，確定該導聯在每個所述采樣間隔內對應的離均差；

第二數據處理模塊，用于在采樣總時長內，對每個導聯對應的各個離均差進行濾波處理，獲取每個導聯對應的各個離均差中滿足設定頻率條件的目標頻段，其中，所述采樣總時長為所有采樣間隔之和；

第三數據處理模塊，用于利用動態時間規劃算法，獲取任意兩個導聯的目標頻段之間的動態時間規劃距離，并根據各個所述動態時間規劃距離，獲得各個所述導聯中的每個導聯對應的動態時間規劃距離均值，從各個所述動態時間規劃距離均值中確定最小動態時間規劃距離均值；

第四數據處理模塊，用于確定所述左前顳導聯對應的動態時間規劃距離均值與所述最小動態時間規劃距離均值的第一比值，以及所述右前顳導聯對應的動態時間規劃距離均值與所述最小動態時間規劃距離均值的第二比值；

結果輸出模塊，用于當所述第一比值或第二比值中的任一比值大于第一預設值時，則提示前顳區異常放電。

2.根據權利要求1所述的一種前顳區異常放電的檢測系統，其特征在于，所述結果輸出單元，還用于當所述第一比值或第二比值中的任一比值小于第二預設值時，則提示前顳區正常；

其中，所述第二預設值小于所述第一預設值。

3.根據權利要求2所述的一種前顳區異常放電的檢測系統，其特征在于，所述第一預設值為1.3，所述第二預設值為1.1。

4.根據權利要求1所述的一種前顳區異常放電的檢測系統，其特征在于，所述設定頻率條件為：頻段大于8Hz且不大于13Hz。

5.根據權利要求1所述的一種前顳區異常放電的檢測系統，其特征在于，所述前顳區異常放電包括左前顳區異常放電和右前顳區異常放電，

所述結果輸出單元，具體用于：當所述第一比值大于第一預設值時，則提示左前顳區異常放電，當所述第二比值大于第一預設值時，則提示右前顳區異常放電。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的一種前顳區異常放電的檢測系統，其特征在于，所述多個導聯包括：左前額導聯、右前額導聯、左額導聯、右額導聯、左中央導聯、右中央導聯、左頂導聯、右頂導聯、左枕導聯、右枕導聯、左前顳導聯、右前顳導聯、左中顳導聯、右中顳導聯、左后顳導聯、右后顳導聯、額中線導聯、中央中線導聯、頂中線導聯。

7.一種前顳區異常放電的檢測方法，其特征在于，包括：

獲取多個導聯中每個導聯在每個采樣間隔內的原始腦電數據，所述多個導聯至少包括左前顳導聯和右前顳導聯；

對于每個所述導聯，根據該導聯對應的原始腦電數據，確定該導聯在每個所述采樣間隔內對應的離均差；

在采樣總時長內，對每個導聯對應的各個離均差進行濾波處理，獲取每個導聯對應的各個離均差中滿足設定頻率條件的目標頻段，其中，所述采樣總時長為所有采樣間隔之和；

利用動態時間規劃算法，獲取任意兩個導聯的目標頻段之間的動態時間規劃距離，并根據各個所述動態時間規劃距離，獲得各個所述導聯中的每個導聯對應的動態時間規劃距離均值，從各個所述動態時間規劃距離均值中確定最小動態時間規劃距離均值；

確定所述左前顳導聯對應的動態時間規劃距離均值與所述最小動態時間規劃距離均值的第一比值，以及所述右前顳導聯對應的動態時間規劃距離均值與所述最小動態時間規劃距離均值的第二比值；

當所述第一比值或第二比值中的任一比值大于第一預設值時，則提示前顳區異常放電。

8.根據權利要求7所述的一種前顳區異常放電的檢測方法，其特征在于，還包括：當所述第一比值或第二比值中的任一比值小于第二預設值時，則提示前顳區正常；

其中，所述第二預設值小于所述第一預設值。