[發明專利]針對信號源實現用于改善環境溫度影響射頻輸出的補償處理方法、裝置、處理器及存儲介質

在審

• 申請號: 202210176022.8
• 申請日: 2022-02-24
• 公開（公告）號: CN114553330A
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發明（設計）人: 呂世豪
• 申請（專利權）人: 上海創遠儀器技術股份有限公司
• 主分類號: H04B17/11
• 分類號: H04B17/11;H04B17/10
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司 31002
• 代理人: 王潔;鄭暄

本發明涉及一種針對信號源實現用于改善環境溫度影響射頻輸出的補償處理方法，包括以下步驟：對信號源的工作環境溫度進行高低溫劃分；測試信號源在不同頻率的情況下在常溫T時的功率輸出數值；根據常溫下的信號源的功率輸出數值和高低溫下的功率數值，計算得到溫度系數K；針對測試頻點和非測試頻點，分別計算頻點的射頻輸出功率。本發明還涉及一種用于實現針對信號源的改善環境溫度影響射頻輸出的補償處理裝置、處理器及其計算機可讀存儲介質。采用了本發明的針對信號源實現用于改善環境溫度影響射頻輸出的補償處理方法、裝置、處理器及其計算機可讀存儲介質，減小信號源內部射頻器件隨著工作環境溫度變換的誤差，提高信號源的射頻輸出的準確度。

技術領域

本發明涉及信號源領域，尤其涉及射頻輸出領域，具體是指一種針對信號源實現用于改善環境溫度影響射頻輸出的補償處理方法、裝置、處理器及其計算機可讀存儲介質。

背景技術

射頻信號源一般的工作環境溫度在-10℃～50℃，而且信號源的射頻輸出精度通常需要在指定的環境溫度進行校準，當信號源的工作溫度偏離信號源校準溫度越多時，其信號源的射頻輸出精度就會越惡化。信號源一般具有較復雜的整機結構，由多個射頻板卡級聯至功率輸出，隨著溫度的變化會導致信號源整機內部的射頻器件電路性能發生改變，射頻器件受到溫度的影響也不盡相同，這就加大了整機溫度校準的難度，對提高信號源的射頻輸出準確度也帶來了挑戰。

發明內容

本發明的目的是克服了上述現有技術的缺點，提供了一種滿足準確度高、穩定度好、精度高的針對信號源實現用于改善環境溫度影響射頻輸出的補償處理方法、裝置、處理器及其計算機可讀存儲介質。

為了實現上述目的，本發明的針對信號源實現用于改善環境溫度影響射頻輸出的補償處理方法、裝置、處理器及其計算機可讀存儲介質如下：

該針對信號源實現用于改善環境溫度影響射頻輸出的補償處理方法，其主要特點是，所述的方法包括以下步驟：

(1)對信號源的工作環境溫度進行高低溫劃分；

(2)測試信號源在不同頻率的情況下在常溫T時的功率輸出數值；

(3)根據常溫下的信號源的功率輸出數值和高低溫下的功率數值，計算得到溫度系數K；

(4)針對測試頻點和非測試頻點，分別計算頻點的射頻輸出功率。

較佳地，所述的步驟(3)具體包括以下步驟：

(3.1)根據常溫下的信號源的功率輸出數值和高低溫下的功率數值進行差值計算；

(3.2)將差值計算后的值除以溫度傳感器的值變化值，得到不同頻率下隨溫度變換的溫度系數K。

較佳地，所述的步驟(4)具體包括以下步驟：

(4.1)判斷是否為測試頻點，如果是，則計算信號源的射頻輸出功率；否則，頻點為非測試頻點，繼續步驟(4.2)；

(4.2)通過線性擬合得到所述的頻點的溫度補償系數；

(4.3)計算得到頻點的射頻輸出功率。

較佳地，所述的步驟(3.2)中計算溫度系數K，具體為：

根據以下公式計算溫度系數K：

其中，PF1_(T1)為溫度為T1時的功率值，PF1_(T)為常溫時的信號源的輸出功率值，ΔT為溫度傳感器的變化值。

較佳地，所述的步驟(4.1)中計算測試頻點的射頻輸出功率，具體為：

根據以下公式計算測試頻點的射頻輸出功率：

P＝K×ΔT+PF1_(T)；