[發(fā)明專利]目標(biāo)檢測方法、裝置和設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210109393.4 | 申請日: | 2022-01-28 |
| 公開(公告)號: | CN114494835A | 公開(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳太波 | 申請(專利權(quán))人: | 中國農(nóng)業(yè)銀行股份有限公司 |
| 主分類號: | G06V20/00 | 分類號: | G06V20/00;G06V10/22;G06V10/46;G06V10/764;G06V10/80;G06V10/82;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 吳梅錫;黃健 |
| 地址: | 100005 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 目標(biāo) 檢測 方法 裝置 設(shè)備 | ||
1.一種目標(biāo)檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取待檢測圖像;
對所述待檢測圖像進(jìn)行特征提取,得到所述待檢測圖像對應(yīng)的多通道特征圖;
將所述多通道特征圖進(jìn)行通道分組,對各組通道特征圖分別進(jìn)行特征提取,得到各通道的特征,將所有通道的特征進(jìn)行重組,獲得重組特征圖;
對所述重組特征圖進(jìn)行下采樣,得到多種預(yù)設(shè)尺度的第一特征圖;
基于所述多種預(yù)設(shè)尺度的第一特征圖進(jìn)行目標(biāo)檢測,確定從所述待檢測圖像中檢測出來的目標(biāo)對象的類別和位置信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,對各組通道特征圖分別進(jìn)行特征提取,得到各通道的特征,包括:
對于每組通道特征圖,提取各通道的第一通道特征;
根據(jù)所有通道的第一通道特征確定各通道的權(quán)重,基于各通道的權(quán)重分別對各通道的第一通道特征進(jìn)行加權(quán),獲得各通道的第二通道特征;
分別對各通道的第一通道特征和第二通道特征進(jìn)行相加,得到各通道的特征。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述多種預(yù)設(shè)尺寸的第一特征圖進(jìn)行目標(biāo)檢測,確定從所述待檢測圖像中檢測出來的目標(biāo)對象的類別和位置信息,包括:
基于所述多種預(yù)設(shè)尺度的第一特征圖進(jìn)行特征融合,得到所述多種預(yù)設(shè)尺度的融合特征圖;
基于所述多種預(yù)設(shè)尺度的融合特征圖進(jìn)行目標(biāo)檢測,確定從所述待檢測圖像中檢測出來的目標(biāo)對象的類別和位置信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述多種預(yù)設(shè)尺度包括第一尺度、第二尺度和第三尺度,所述第二尺度小于所述第一尺度,所述第三尺度小于所述第二尺度;
基于所述多種預(yù)設(shè)尺度的第一特征圖進(jìn)行特征融合,得到所述多種預(yù)設(shè)尺寸的融合特征圖,包括:
將所述第一尺度的第一特征圖,確定為所述第一尺度的融合特征圖;
對所述第一尺度的第一特征圖進(jìn)行多通道上采樣,獲得所述第二尺度的第二特征圖,將所述第二尺度的第二特征圖與所述第二尺度的第一特征圖進(jìn)行融合,得到所述第二尺度的融合特征圖;
對所述第二尺度的融合特征圖進(jìn)行多通道上采樣,獲得所述第三尺度的第二特征圖,將所述第三尺度的第二特征圖與所述第三尺度的第一特征圖進(jìn)行融合,得到所述第三尺度的融合特征圖。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,對所述第一尺度的第一特征圖進(jìn)行多通道上采樣,獲得所述第二尺度的第二特征圖,包括:
將所述第一尺度的第一特征圖分成第一通道特征、第二通道特征和第三通道特征;
對所述第一通道特征進(jìn)行反卷積得到第一上采樣特征,對所述第二通道特征依次進(jìn)行反卷積和卷積得到第二上采樣特征,對所述第三通道特征依次進(jìn)行卷積、反卷積和卷積得到第三上采樣特征;其中,所述卷積的卷積核尺寸小于所述反卷積的卷積核尺寸;
將所述第一上采樣特征、所述第二上采樣特征以及所述第三上采樣特征進(jìn)行融合,獲得所述第二尺度的第二特征圖。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,對所述第二尺度的融合特征圖進(jìn)行多通道上采樣,獲得所述第三尺度的第二特征圖,包括:
將所述第二尺度的融合特征圖分成第四通道特征、第五通道特征和第六通道特征;
對所述第四通道特征進(jìn)行反卷積得到第四上采樣特征,對所述第五通道特征依次進(jìn)行反卷積和卷積得到第五上采樣特征,對所述第六通道特征依次進(jìn)行卷積、反卷積和卷積得到第六上采樣特征;其中,所述卷積的卷積核尺寸小于所述反卷積的卷積核尺寸;
將所述第四上采樣特征、所述第五上采樣特征以及所述第六上采樣特征進(jìn)行融合,獲得第三尺度的第二特征圖。
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