[發明專利]一種顆粒物混勻系統以及檢測儀器校準方法有效
| 申請號: | 202210101456.1 | 申請日: | 2022-01-27 |
| 公開(公告)號: | CN114486440B | 公開(公告)日: | 2023-06-20 |
| 發明(設計)人: | 高捷;李學慶;牟文春;王樹德;趙光磊;李侃;時海建;劉琳;孫延康;周星彤;宋媛媛;劉衍慶;于濱;崔磊;王巖;馬嫣;楊中元;閆妍;史潔 | 申請(專利權)人: | 山東大學;山東省計量科學研究院;青島菲斯特環境科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N1/28 | 分類號: | G01N1/28;G01N1/38;G01N15/06 |
| 代理公司: | 青島申達知識產權代理有限公司 37243 | 代理人: | 蔣遙明 |
| 地址: | 250000 *** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 顆粒 物混勻 系統 以及 檢測 儀器 校準 方法 | ||
1.一種顆粒物混勻系統,包括依次連接的靜態混勻裝置以及動態混勻裝置,其特征在于,所述靜態混勻裝置中設置有順次連接的靜電中和器、靜態混勻管以及顆粒物切割器轉換器,所述顆粒物切割器轉換器連通至所述動態混勻裝置,所述動態混勻裝置包括混勻箱以及顆粒物采樣口,所述混勻箱為圓柱狀中空結構,所述混勻箱的頂部連通所述顆粒物切割器轉換器,所述混勻箱的側面設置有混勻機構,所述混勻箱上設置有至少三個檢測接口,所述檢測接口至少包括被檢儀器接口、標準檢測儀接口以及重量法標準采樣器接口,所述混勻箱的底部連接所述顆粒物采樣口;所述混勻箱的頂部以及所述靜態混運管均連通至潔凈空氣管路;所述混勻箱側壁上設置有進風口和出風口,所述混勻機構包括風機、第一過濾器以及第二過濾器,所述進風口上連通有所述風機以及所述第一過濾器;所述出風口上設置有所述第二過濾器。
2.根據權利要求1所述的顆粒物混勻系統,其特征在于,所述進風口設置有兩個,對稱設置于所述混勻箱的兩側。
3.根據權利要求1所述的顆粒物混勻系統,其特征在于,所述顆粒物切割器轉換器中設置有若干切割器,所述切割器包括Ⅰ級顆粒物切割器、Ⅱ級顆粒物切割器、Ⅲ級顆粒物切割器以及空白連接管。
4.一種采用權利要求1至3任一項所述顆粒物混勻系統的顆粒物質量濃度示值誤差檢測方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟11:調節顆粒物切割器轉換器至所需的切割器;
步驟12:由顆粒物發生器發生多分散顆粒物,通過靜態混勻裝置后到達動態混勻裝置中;
步驟13:利用被檢測儀和標準檢測儀同時監測并記錄混勻箱中的顆粒物濃度;
步驟14:調節顆粒物發生器發生的顆粒物濃度,使顆粒物濃度分別調節為被檢儀器量程的高中低三點,并記錄標準儀器和被檢儀器的數值,通過以下公式計算其被檢儀器的顆粒物濃度示值誤差;
其中::質量濃度示值誤差,%;
:被檢儀器示值的平均值,mg/m3;
:標準儀器示值的平均值,mg/m3。
5.一種采用權利要求1至3任一項所述顆粒物混勻系統的顆粒物切割器切割效率檢測方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟21:調節顆粒物切割器轉換器至所需的切割器;
步驟22:由顆粒物發生器分別發生單分散顆粒物,通過靜態混勻裝置后到達動態混勻裝置中;
步驟23:混勻箱中的多分散顆粒物經顆粒物采樣頭發送至被檢測顆粒物切割器,由氣溶膠光度計記錄通過被檢測切割器的顆粒物濃度;
步驟24:改變顆粒物發生器發生的單分散顆粒物的粒徑,記錄粒徑譜儀的示值得到得到穿透率,通過曲線擬合,最后計算得到切割效率。
6.根據權利要求5所述的顆粒物切割器切割效率檢測方法,其特征在于,在步驟24中,PM10切割器切割效率檢測時,顆粒物發生器發生的單分散顆粒物的粒徑為:3μm、5μm、7μm、9μm、11μm、13μm、15μm和17μm;
PM2.5切割器切割效率檢測時,顆粒物發生器發生的單分散顆粒物的粒徑為:1.5μm、2μm、2.2μm、2.5μm、2.8μm、3.0μm、3.5μm和4.0μm;
PM1.0切割器切割效率檢測時,顆粒物發生器發生的單分散顆粒物的粒徑為:0.6μm、0.8μm、1.0μm、1.2μm和1.4μm。
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