[發明專利]一種基于空間總磁場強度獲取視電阻率的電磁方法和裝置在審
| 申請號： | 202210098547.4 | 申請日： | 2022-01-27 |
| 公開（公告）號： | CN114578433A | 公開（公告）日： | 2022-06-03 |
| 發明（設計）人： | 李帝銓;何繼善;朱云起 | 申請（專利權）人： | 中南大學 |
| 主分類號： | G01V3/08 | 分類號： | G01V3/08;G01N27/04 |
| 代理公司： | 長沙啟昊知識產權代理事務所(普通合伙) 43266 | 代理人： | 謝珍貴 |
| 地址： | 410083 湖南*** | 國省代碼： | 湖南;43 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 空間 磁場強度 獲取 電阻率 電磁 方法 裝置 | ||
1.一種基于空間總磁場強度獲取視電阻率的電磁方法，其特征在于，包括：
控制預先布設的場源中的發送機通過兩個電極發送電流信號；
在測點獲取所述測點的兩個水平磁場信號和垂直磁場信號；
根據所述兩個水平磁場信號和垂直磁場信號獲取所述測點的總磁場；
獲取所述總磁場和視電阻率的函數關系；
根據所述總磁場和視電阻率的所述函數關系計算所述測點在各個頻率的視電阻率。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述兩個水平磁場信號和垂直磁場信號獲取所述測點的總磁場包括：
根據如下公式得到所述總磁場：
其中，Hx、Hy為直角坐標系測量得到的水平磁場信號，Hz是垂直磁場信號。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在得到所述總磁場之前，還包括：
測量磁場水平方向的徑向分量和切向分量；
根據如下坐標轉換得到Hx和Hy：
其中，Hr、分別是磁場水平方向的徑向分量和切向分量。
4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，獲取所述總磁場和視電阻率的函數關系包括：
根據所述Hx、Hy、Hz與所述視電阻率的函數關系得到所述總磁場與所述視電阻率的函數關系。
5.根據權利要求2至4中任一項所述的方法，其特征在于，根據所述總磁場和視電阻率的所述函數關系計算所述測點在各個頻率的視電阻率包括：
根據所述函數關系采用迭代計算對應所述測點的各個頻率的視電阻率。
6.一種基于空間總磁場強度獲取視電阻率的電磁裝置，其特征在于，包括：
控制模塊，用于控制預先布設的場源中的發送機通過兩個電極發送電流信號；
第一獲取模塊，用于在測點獲取所述測點的兩個水平磁場信號和垂直磁場信號；
第二獲取模塊，用于根據所述兩個水平磁場信號和垂直磁場信號獲取所述測點的總磁場；
第三獲取模塊，用于獲取所述總磁場和視電阻率的函數關系；
計算模塊，用于根據所述總磁場和視電阻率的所述函數關系計算所述測點在各個頻率的視電阻率。
7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述第二獲取模塊用于：
根據如下公式得到所述總磁場：
其中，Hx、Hy為直角坐標系測量得到的水平磁場信號，Hz是垂直磁場信號。
8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，在得到所述總磁場之前，所述第二獲取模塊還用于：
測量磁場水平方向的徑向分量和切向分量；
根據如下坐標轉換得到Hx和Hy：
其中，Hr、分別是磁場水平方向的徑向分量和切向分量。
9.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述第三獲取模塊用于：
根據所述Hx、Hy、Hz與所述視電阻率的函數關系得到所述總磁場與所述視電阻率的函數關系。
10.根據權利要求7至9中任一項所述的裝置，其特征在于，所述計算模塊用于：
根據所述函數關系采用迭代計算對應所述測點的各個頻率的視電阻率。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中南大學，未經中南大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210098547.4/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
