[發(fā)明專利]測(cè)量方法及系統(tǒng)、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210074803.6 | 申請(qǐng)日: | 2022-01-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN116524171A | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-08-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳魯;王紫媛;呂肅;黃有為;張嵩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳中科飛測(cè)科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06V10/24 | 分類號(hào): | G06V10/24;G06V10/25;G06V10/74 |
| 代理公司: | 上海知錦知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人: | 吳凡 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市龍華區(qū)大浪街*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)量方法 系統(tǒng) 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
一種測(cè)量方法及系統(tǒng)、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì),方法包括:獲取待測(cè)標(biāo)記的檢測(cè)圖像和模板圖像,模板圖像中具有檢測(cè)范圍,模板圖像包括第一感興趣區(qū)域相對(duì)于檢測(cè)范圍的預(yù)設(shè)位置關(guān)系;利用模板圖像對(duì)檢測(cè)圖像進(jìn)行感興趣區(qū)域定位處理,感興趣區(qū)域定位處理包括:將檢測(cè)圖像與檢測(cè)范圍內(nèi)的模板圖像進(jìn)行匹配處理,在檢測(cè)圖像中獲取與檢測(cè)范圍內(nèi)的模板圖像具有最大相似度的區(qū)域作為匹配區(qū)域,匹配區(qū)域的檢測(cè)圖像作為匹配圖像;根據(jù)模板圖像中第一感興趣區(qū)域相對(duì)于檢測(cè)范圍的預(yù)設(shè)位置關(guān)系,在檢測(cè)圖像中確定第二感興趣區(qū)域,第二感興趣區(qū)域內(nèi)的檢測(cè)圖像作為感興趣圖像。本發(fā)明有利于提高對(duì)待測(cè)標(biāo)記的定位精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)施例涉及光學(xué)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種測(cè)量方法及系統(tǒng)、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體器件的制造過(guò)程中,為了對(duì)待測(cè)目標(biāo)進(jìn)行檢測(cè),需要先定位待測(cè)目標(biāo)的位置,以確定感興趣區(qū)域(ROI),并利用感興趣區(qū)域的圖像獲取待測(cè)參數(shù)。
特別是在對(duì)準(zhǔn)誤差的檢測(cè)過(guò)程中,為了保證不同膜層或不同工藝形成的圖案之間能夠精確對(duì)準(zhǔn),需要檢測(cè)套刻標(biāo)記(overlay?mark)的對(duì)準(zhǔn)誤差。然而隨著半導(dǎo)體器件的縮小,對(duì)套刻標(biāo)記的定位精度也提出了更高的要求。
目前對(duì)待測(cè)目標(biāo)的機(jī)械定位的精度較低,難以滿足實(shí)際需求。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例解決的問(wèn)題是提供一種測(cè)量方法及系統(tǒng)、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì),有利于提高對(duì)待測(cè)標(biāo)記的定位精度。
為解決上述問(wèn)題,本發(fā)明實(shí)施例提供一種測(cè)量方法,用于對(duì)待測(cè)標(biāo)記進(jìn)行測(cè)量,所述待測(cè)標(biāo)記具有感興趣區(qū)域,所述測(cè)量方法包括:獲取所述待測(cè)標(biāo)記的檢測(cè)圖像和模板圖像,所述模板圖像中具有檢測(cè)范圍,且所述模板圖像包括第一感興趣區(qū)域相對(duì)于所述檢測(cè)范圍的預(yù)設(shè)位置關(guān)系,所述第一感興趣區(qū)域?yàn)樗龃郎y(cè)標(biāo)記的感興趣區(qū)域在所述模板圖像中的區(qū)域;利用所述模板圖像對(duì)所述檢測(cè)圖像進(jìn)行感興趣區(qū)域定位處理,所述感興趣區(qū)域定位處理包括:將所述檢測(cè)圖像與所述檢測(cè)范圍內(nèi)的模板圖像進(jìn)行匹配處理,在所述檢測(cè)圖像中,獲取與所述檢測(cè)范圍內(nèi)的模板圖像具有最大相似度的區(qū)域作為匹配區(qū)域,所述匹配區(qū)域的檢測(cè)圖像作為匹配圖像;根據(jù)所述模板圖像中第一感興趣區(qū)域相對(duì)于所述檢測(cè)范圍的預(yù)設(shè)位置關(guān)系,在所述檢測(cè)圖像中確定第二感興趣區(qū)域,所述第二感興趣區(qū)域?yàn)樗龃郎y(cè)標(biāo)記的感興趣區(qū)域在所述檢測(cè)圖像中的區(qū)域,所述第二感興趣區(qū)域內(nèi)的檢測(cè)圖像作為感興趣圖像,所述感興趣圖像與所述匹配圖像的相對(duì)位置關(guān)系與所述預(yù)設(shè)位置關(guān)系相同。
相應(yīng)的,本發(fā)明實(shí)施例還提供一種測(cè)量系統(tǒng),用于對(duì)待測(cè)標(biāo)記進(jìn)行測(cè)量,所述待測(cè)標(biāo)記具有感興趣區(qū)域,所述測(cè)量系統(tǒng)包括:圖像獲取模塊,用于獲取所述待測(cè)標(biāo)記的檢測(cè)圖像和模板圖像,所述模板圖像中具有檢測(cè)范圍,且所述模板圖像包括第一感興趣區(qū)域相對(duì)于所述檢測(cè)范圍的預(yù)設(shè)位置關(guān)系,所述第一感興趣區(qū)域?yàn)樗龃郎y(cè)標(biāo)記的感興趣區(qū)域在所述模板圖像中的區(qū)域;定位模塊,用于利用所述模板圖像對(duì)所述檢測(cè)圖像進(jìn)行感興趣區(qū)域定位處理,所述定位模塊包括:匹配單元,用于將所述檢測(cè)圖像與所述檢測(cè)范圍內(nèi)的模板圖像進(jìn)行匹配處理,在所述檢測(cè)圖像中,獲取與所述檢測(cè)范圍內(nèi)的模板圖像具有最大相似度的區(qū)域作為匹配區(qū)域,所述匹配區(qū)域的檢測(cè)圖像作為匹配圖像;感興趣區(qū)域確定單元,用于根據(jù)所述模板圖像中第一感興趣區(qū)域相對(duì)于所述檢測(cè)范圍的預(yù)設(shè)位置關(guān)系,在所述檢測(cè)圖像中確定第二感興趣區(qū)域,所述第二感興趣區(qū)域?yàn)樗龃郎y(cè)標(biāo)記的感興趣區(qū)域在所述檢測(cè)圖像中的區(qū)域,所述第二感興趣區(qū)域內(nèi)的檢測(cè)圖像作為感興趣圖像,所述感興趣圖像與所述匹配圖像的相對(duì)位置關(guān)系與所述預(yù)設(shè)位置關(guān)系相同。
相應(yīng)地,本發(fā)明實(shí)施例還提供一種設(shè)備,包括至少一個(gè)存儲(chǔ)器和至少一個(gè)處理器,所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有一條或多條計(jì)算機(jī)指令,其中,所述一條或多條計(jì)算機(jī)指令被所述處理器執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)本發(fā)明實(shí)施例所述的測(cè)量方法。
相應(yīng)地,本發(fā)明實(shí)施例還提供一種存儲(chǔ)介質(zhì),所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有一條或多條計(jì)算機(jī)指令,所述一條或多條計(jì)算機(jī)指令用于實(shí)現(xiàn)本發(fā)明實(shí)施例所述的測(cè)量方法。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案具有以下優(yōu)點(diǎn):
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