[發(fā)明專利]一種OIS測試設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210048082.1
• 申請日: 2022-01-17
• 公開（公告）號: CN114414207A
• 公開（公告）日: 2022-04-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王青海;王富浩;周旭輝;周少豐;胡左厚
• 申請（專利權(quán)）人: 湖南健坤激光科技有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;B65G29/00
• 代理公司: 廣東政道慧權(quán)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 44775
• 代理人: 何華林

本發(fā)明公開了OIS技術(shù)領(lǐng)域的一種OIS測試設(shè)備；包括測試轉(zhuǎn)盤、固定測試架、上料架和上料盤，固定測試架和上料架呈水平對稱設(shè)置于測試轉(zhuǎn)盤兩側(cè)，測試轉(zhuǎn)盤、固定測試架和上料架的底部共同設(shè)置底板，測試轉(zhuǎn)盤包括轉(zhuǎn)盤，轉(zhuǎn)盤上對稱設(shè)置有四個固定裝置，轉(zhuǎn)盤的上方設(shè)置固定板，固定板靠近上料架一側(cè)的頂部設(shè)有推動氣缸。本發(fā)明的有益效果是：實(shí)現(xiàn)OIS零部件的自動上料，減少OIS零部件性能檢測時的人工成本浪費(fèi)。同時通過多個固定裝置上的多個放置槽進(jìn)行OIS零部件的放置，使一次動作即可對兩個OIS零部件進(jìn)行同一項(xiàng)性能測試，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)OIS零部件的性能比對測試，使OIS零部件的測試結(jié)果更加趨向于單批次零部件的平均水平。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及OIS技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種OIS測試設(shè)備。

背景技術(shù)

OIS，它的全稱是Optical Image Stabilization，從字面理解就是穩(wěn)定的光學(xué)圖像；通過鏡頭的浮動透鏡來糾正“光軸偏移”，其原理是通過鏡頭內(nèi)的陀螺儀偵測到微小的移動，然后將信號傳至微處理器，處理器立即計(jì)算需要補(bǔ)償?shù)奈灰屏浚缓笸ㄟ^補(bǔ)償鏡片組，根據(jù)鏡頭的抖動方向及位移量加以補(bǔ)償；從而有效地克服因相機(jī)的振動產(chǎn)生的影像模糊。

在OIS零部件生產(chǎn)時，需要對OIS零部件的性能進(jìn)行測試。在現(xiàn)有技術(shù)中，多數(shù)OIS零部件均采用單一設(shè)備進(jìn)行測試，測試速度受測試裝置的測試速度限制，同時單程測試裝置單次僅能對OIS零部件的一項(xiàng)數(shù)據(jù)進(jìn)行測試，嚴(yán)重耽誤了OIS零部件的測試速度，同時現(xiàn)有的OIS零部件測試設(shè)備或人工進(jìn)行上下料進(jìn)行抽樣測試，或安裝在流水線上對OIS零部件進(jìn)行測試，人工抽樣測試時，測試所得數(shù)據(jù)不全面，同時耗費(fèi)人工成本，而將測試設(shè)備加載于流水線上進(jìn)行檢測時，單個OIS零部件檢測時間較短，無法對OIS零部件的性能進(jìn)行全面檢測。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種OIS測試設(shè)備，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：一種OIS測試設(shè)備，包括測試轉(zhuǎn)盤、固定測試架、上料架和上料盤，所述固定測試架和上料架呈水平對稱設(shè)置于測試轉(zhuǎn)盤兩側(cè)，所述測試轉(zhuǎn)盤、固定測試架和上料架的底部共同設(shè)置底板，所述測試轉(zhuǎn)盤包括轉(zhuǎn)盤，所述轉(zhuǎn)盤上對稱設(shè)置有四個固定裝置，所述轉(zhuǎn)盤的上方設(shè)置固定板，所述固定板靠近上料架一側(cè)的頂部設(shè)有推動氣缸，所述固定板遠(yuǎn)離推動氣缸的一端及垂直兩個方向均設(shè)置轉(zhuǎn)盤頂部測試器，三個所述轉(zhuǎn)盤頂部測試器的底端均設(shè)置轉(zhuǎn)盤頂部測試探針，所述固定板垂直推動氣缸兩端的底端均設(shè)置轉(zhuǎn)盤底部測試器，兩個所述轉(zhuǎn)盤底部測試器的頂部均設(shè)置底部控制器，兩個所述底部控制器與轉(zhuǎn)盤頂部測試探針位置相匹配的頂部均設(shè)置轉(zhuǎn)盤底部測試探針，所述固定測試架底端設(shè)置有第一測試架，所述第一測試架靠近測試轉(zhuǎn)盤的一端設(shè)置兩個定位檢測器，所述第一測試架位于定位檢測器的下端設(shè)置第一檢測探針，所述第一測試架靠近測試轉(zhuǎn)盤的一側(cè)設(shè)置第二測試架，所述第二測試架兩側(cè)的上方均設(shè)置探針控制器，兩個所述探針控制器靠近第一測試架的一側(cè)均設(shè)置第二檢測探針。

作為本發(fā)明進(jìn)一步的方案：所述固定裝置靠近上料盤一側(cè)的底部設(shè)置支撐柱，四個所述固定裝置頂端的兩側(cè)均設(shè)置放置槽，多個所述放置槽靠近轉(zhuǎn)盤的一側(cè)均設(shè)置夾板，多個所述夾板靠近轉(zhuǎn)盤打的一側(cè)均設(shè)置復(fù)位彈簧，所述推動氣缸位置與夾板位置相匹配，通過推動氣缸推動夾板動作，進(jìn)而對放置槽內(nèi)部的OIS零部件進(jìn)行限位或解除限位，當(dāng)固定裝置隨轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動時，推動氣缸解除與夾板的觸接，復(fù)位彈簧帶動夾板自動復(fù)位，進(jìn)而對放置槽內(nèi)部的OIS零部件進(jìn)行夾緊限位。

作為本發(fā)明再進(jìn)一步的方案：所述第一測試架和第二測試架均與底板連接，所述第一測試架遠(yuǎn)離第二測試架一側(cè)的頂端設(shè)置兩個固定架，兩個所述第二檢測探針與第一檢測探針位置相匹配，通過第一測試架和第二測試架配合測試轉(zhuǎn)盤上的測試裝置對OIS零部件進(jìn)行全面的檢測。