[發明專利]一種OIS測試設備

在審

• 申請號: 202210048082.1
• 申請日: 2022-01-17
• 公開（公告）號: CN114414207A
• 公開（公告）日: 2022-04-29
• 發明（設計）人: 王青海;王富浩;周旭輝;周少豐;胡左厚
• 申請（專利權）人: 湖南健坤激光科技有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;B65G29/00
• 代理公司: 廣東政道慧權專利代理事務所(普通合伙) 44775
• 代理人: 何華林

1.一種OIS測試設備，包括測試轉盤(100)、固定測試架(200)、上料架(300)和上料盤(400)，其特征在于：所述固定測試架(200)和上料架(300)呈水平對稱設置于測試轉盤(100)兩側，所述測試轉盤(100)、固定測試架(200)和上料架(300)的底部共同設置底板(500)，所述測試轉盤(100)包括轉盤(120)，所述轉盤(120)上對稱設置有四個固定裝置(110)，所述轉盤(120)的上方設置固定板(140)，所述固定板(140)靠近上料架(300)一側的頂部設有推動氣缸(141)，所述固定板(140)遠離推動氣缸(141)的一端及垂直兩個方向均設置轉盤頂部測試器(142)，三個所述轉盤頂部測試器(142)的底端均設置轉盤頂部測試探針(143)，所述固定板(140)垂直推動氣缸(141)兩端的底端均設置轉盤底部測試器(130)，兩個所述轉盤底部測試器(130)的頂部均設置底部控制器(132)，兩個所述底部控制器(132)與轉盤頂部測試探針(143)位置相匹配的頂部均設置轉盤底部測試探針(131)，所述固定測試架(200)底端設置有第一測試架(210)，所述第一測試架(210)靠近測試轉盤(100)的一端設置兩個定位檢測器(212)，所述第一測試架(210)位于定位檢測器(212)的下端設置第一檢測探針(213)，所述第一測試架(210)靠近測試轉盤(100)的一側設置第二測試架(220)，所述第二測試架(220)兩側的上方均設置探針控制器(222)，兩個所述探針控制器(222)靠近第一測試架(210)的一側均設置第二檢測探針(221)。

2.根據權利要求1所述的一種OIS測試設備，其特征在于：所述固定裝置(110)靠近上料盤(400)一側的底部設置支撐柱(111)，四個所述固定裝置(110)頂端的兩側均設置放置槽(113)，多個所述放置槽(113)靠近轉盤(120)的一側均設置夾板(114)，多個所述夾板(114)靠近轉盤(120)打的一側均設置復位彈簧(112)，所述推動氣缸(141)位置與夾板(114)位置相匹配。

3.根據權利要求1所述的一種OIS測試設備，其特征在于：所述第一測試架(210)和第二測試架(220)均與底板(500)連接，所述第一測試架(210)遠離第二測試架(220)一側的頂端設置兩個固定架(211)，兩個所述第二檢測探針(221)與第一檢測探針(213)位置相匹配。

4.根據權利要求1所述的一種OIS測試設備，其特征在于：所述轉盤(120)的底端設置轉動電機(160)，所述轉動電機(160)的轉動端與轉盤(120)底部連接，所述轉動電機(160)的外壁設置電機控制器(161)，所述轉動電機(160)的底部設置固定座(150)，所述固定座(150)與底板(500)連接。

5.根據權利要求1所述的一種OIS測試設備，其特征在于：所述上料架(300)包括兩個支撐架(310)，兩個所述支撐架(310)的底端均與底板(500)連接，兩個所述支撐架(310)的頂部共同設置橫桿(320)，所述橫桿(320)的頂端設置運動軌(330)，所述運動軌(330)靠近測試轉盤(100)的一側設置夾取臂(350)。

6.根據權利要求5所述的一種OIS測試設備，其特征在于：所述夾取臂(350)的底部平行設置兩個豎桿(351)，兩個所述豎桿(351)的底端均設置夾取爪(352)，兩個所述豎桿(351)的側壁均設置夾取氣缸(353)，兩個所述夾取氣缸(353)分別與兩個夾取爪(352)連接。

7.根據權利要求5所述的一種OIS測試設備，其特征在于：所述運動軌(330)靠近夾取臂(350)的一側均設置伺服電機(340)，連個所述伺服電機(340)的側壁均設置信號接口(341)，所述伺服電機(340)的輸出端與夾取臂(350)連接。

8.根據權利要求1所述的一種OIS測試設備，其特征在于：所述底板(500)靠近上料架(300)一側的頂部設置多個備料架(410)，多個所述備料架(410)頂端均設置多個備料盤(420)。