[發(fā)明專利]一種用于測量扭振的測試裝置及其測試方法

有效

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• 申請日: 2022-01-11
• 公開（公告）號: CN114383714B
• 公開（公告）日: 2023-03-14
• 發(fā)明（設計）人: 陳林;洪健;葉常景;李森;艾鵬
• 申請（專利權）人: 襄陽達安汽車檢測中心有限公司
• 主分類號: G01H11/02
• 分類號: G01H11/02;G01H11/06;G01M13/028
• 代理公司: 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) 42225
• 代理人: 牛晶晶

本發(fā)明涉及一種用于測量扭振的測試裝置及其測試方法，其包括：整齒圈，所述整齒圈用于套設于傳動軸外；至少三個調節(jié)螺栓，所述調節(jié)螺栓的一端螺紋連接于所述整齒圈，另一端用于抵觸所述傳動軸，所述調節(jié)螺栓的延伸方向相交于所述整齒圈的圓心；支架，所述支架靠近所述整齒圈的一端安裝有磁電傳感器，所述磁電傳感器用于測量所述整齒圈的扭振。本發(fā)明涉及一種用于測量扭振的測試裝置及其測試方法，可通過磁電傳感器測量不具有齒輪結構的傳動軸的扭振，且可通過改變調節(jié)螺栓的長度或伸長量，適應不同直徑傳動軸的扭振測量，解決了目前磁電傳感器測量軸類零件的扭振時，無法測量沒有安裝齒輪的傳動軸的扭振性能的問題。

技術領域

本發(fā)明涉及傳動軸測試領域，特別涉及一種用于測量扭振的測試裝置及其測試方法。

背景技術

扭振是指旋轉部件沿旋轉方向的往復圓周運動，也稱為角振動；同線振動一樣，扭振也會引起結構的振動、噪聲、舒適性及疲勞問題，也存在扭轉共振現(xiàn)象，在檢驗關鍵的旋轉零件時，常常需要針對零件的扭振性能進行測量。

相關技術中，通過在轉動軸上貼碼帶，通過光電傳感器測量轉動軸的轉速變化以獲得被測零件的扭振數(shù)據(jù)，其可以在不破壞傳動軸的情況下直接測量轉動軸的扭振數(shù)據(jù)，但是，光電傳感器對振動以及環(huán)境光很敏感，在測量過程中常由于振動導致測量偏差較大，且要求被測軸直徑夠大才能得到高精度的測量數(shù)據(jù)，為適應振動環(huán)境的扭振測量，會選用磁電傳感器測量被測零件的扭振數(shù)據(jù)，通過采用磁電傳感器測量扭振數(shù)據(jù)，不僅受振動影響小，價格便宜，且其通過霍爾效應測量，無需外部供電，能適應很多光電傳感器無法適應的安裝環(huán)境。

但是，磁電傳感器需要通過測量齒輪之類的零件實現(xiàn)扭振數(shù)據(jù)的測量，對于一些沒有安裝齒輪的軸的扭振無法測量。

發(fā)明內容

本發(fā)明實施例提供一種用于測量扭振的測試裝置及其測試方法，以解決相關技術中磁電傳感器測量軸類零件的扭振時，無法測量沒有安裝齒輪的傳動軸的扭振性能的問題。

第一方面，提供了一種用于測量扭振的測試裝置，其包括：整齒圈，所述整齒圈用于套設于傳動軸外；至少三個調節(jié)螺栓，所述調節(jié)螺栓的一端螺紋連接于所述整齒圈，另一端用于抵觸所述傳動軸，所述調節(jié)螺栓的延伸方向相交于所述整齒圈的圓心；支架，所述支架靠近所述整齒圈的一端安裝有磁電傳感器，所述磁電傳感器用于測量所述整齒圈的扭振。

一些實施例中，所述整齒圈的中間設置有容納空間，所述容納空間用于收容所述傳動軸，所述整齒圈靠近所述容納空間的一側設置有凸臺，所述凸臺開設有安裝孔，所述安裝孔的延伸方向與所述整齒圈的徑向方向相同；所述調節(jié)螺栓遠離所述傳動軸的一端安裝于所述安裝孔中。

一些實施例中，所述凸臺的側面設置有觀察孔，所述觀察孔與所述安裝孔相連通，所述觀察孔沿徑向方向設置有刻度線。

一些實施例中，所述測試裝置還包括：定位工裝，所述定位工裝的一端可拆卸的套設于所述凸臺，所述定位工裝的另一端伸出所述整齒圈，所述定位工裝遠離所述凸臺的一端設置有定位孔，所述定位孔的延伸方向沿所述整齒圈的徑向方向，所述定位孔用于安裝所述磁電傳感器。

一些實施例中，所述凸臺具有對稱設置的定位側面，所述定位側面的對稱面為第一對稱面，所述第一對稱面沿所述整齒圈的徑向方向設置；所述定位工裝遠離所述定位孔的一端設置有定位槽，所述凸臺收容于所述定位槽內，所述定位槽的內表面與所述定位側面相貼合，且所述定位槽與兩個所述定位側面相貼合的內表面關于第二對稱面對稱，所述第二對稱面與所述定位孔的軸線位于同一平面。

一些實施例中，所述整齒圈包括至少兩個的齒圈組件，所述整齒圈的所述齒圈組件按圓周方向均勻分布，且不同的所述齒圈組件的尺寸大體相同。

一些實施例中，兩個相鄰的所述齒圈組件在對應位置上設置有固定孔，兩個相鄰的所述齒圈組件之間通過螺釘連接，所述螺釘穿過兩個相鄰的所述齒圈組件的所述固定孔。