[發明專利]實時熒光定量PCR儀熱電模塊用半導體元件有效
| 申請號: | 202210024945.1 | 申請日: | 2022-01-11 |
| 公開(公告)號: | CN114068795B | 公開(公告)日: | 2022-07-01 |
| 發明(設計)人: | 章賢駿;宣兆康;方涌;章佩娟 | 申請(專利權)人: | 杭州安譽科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L35/22 | 分類號: | H01L35/22;H01L35/34;B01L7/00;C12M1/00;G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京國翰知識產權代理事務所(普通合伙) 11696 | 代理人: | 李宇翔 |
| 地址: | 310016 浙江省杭州市江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 實時 熒光 定量 pcr 熱電 模塊 半導體 元件 | ||
1.一種半導體元件,包括陶瓷基片與涂覆在所述陶瓷基片的納米顆粒膜;
所述納米顆粒膜由(Sn1-a-bSr2aMb)O2制備得到;其中,
0.1≤a<0.3,0.2≤b<0.5;
金屬M為Ti、Zr、Hf中的一種。
2.根據權利要求1所述的一種半導體元件,其特征在于:所述陶瓷基片為α-氧化鋁、α-氮化硅或β-氮化硅中的一種。
3.根據權利要求1所述的一種半導體元件,其特征在于:所述半導體元件的功率因子高于0.63μw/(m·K2)。
4.權利要求1所述的一種半導體元件在制備實時熒光定量PCR儀熱電模塊中的用途。
5.權利要求1中所述的(Sn1-a-bSr2aMb)O2在提高半導體元件熱電性中的用途。
6.權利要求1中所述的(Sn1-a-bSr2aMb)O2在提高半導體元件抗彎強度中的用途。
7.權利要求1所述的一種半導體元件的制備方法,包括以下步驟:
將錫鹽溶于無水乙醇中,回流,然后添加鍶鹽、金屬M鹽,繼續回流,陳化,得到溶膠;
采用浸漬-提拉工藝,將陶瓷基片浸漬在所述溶膠中,提拉,再在75~100℃下干燥20~30min,然后在550~650℃熱處理2~4h,制得納米顆粒膜;
將銀漿稀釋,并涂覆在所述納米顆粒膜兩端進行熱處理,在銀電極兩端焊接引線制得半導體元件。
8.根據權利要求7所述的一種半導體元件的制備方法,其特征在于:所述金屬M鹽為TiCl4、ZrCl4、HfCl4中的一種。
9.根據權利要求7所述的一種半導體元件的制備方法,其特征在于:所述回流溫度為85~100℃,回流時間為18~24h。
10.根據權利要求7所述的一種半導體元件的制備方法,其特征在于:所述熱處理條件為在135~145℃干燥15~25min,然后在500~600℃處理5~15min。
11.根據權利要求7所述的一種半導體元件的制備方法,其特征在于:所述銀漿稀釋的過程中添加β-桉葉醇。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于杭州安譽科技有限公司,未經杭州安譽科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210024945.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種校準方法以及校準裝置
- 下一篇:一種線纜材料防護層連續鍍膜裝置





