[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件和方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210021210.3 | 申請日: | 2022-01-10 |
| 公開(公告)號: | CN114520192A | 公開(公告)日: | 2022-05-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳錫榮;余晟輔;蕭茹雄;盧穎新 | 申請(專利權(quán))人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/8238 | 分類號: | H01L21/8238;H01L27/092 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11258 | 代理人: | 桑敏 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 方法 | ||
本申請?zhí)峁┝税雽?dǎo)體器件和方法。實(shí)施例包括一種半導(dǎo)體器件,該半導(dǎo)體器件包括從襯底延伸的多個鰭結(jié)構(gòu),多個鰭結(jié)構(gòu)具有多個第一鰭結(jié)構(gòu)和多個第二鰭結(jié)構(gòu)。半導(dǎo)體器件還包括位于襯底上并且被布置在多個鰭結(jié)構(gòu)之間的多個隔離區(qū)域。該器件還包括位于多個隔離區(qū)域上的多個柵極結(jié)構(gòu)。該器件還包括位于多個第一鰭結(jié)構(gòu)上的多個外延結(jié)構(gòu)。該器件還包括位于多個外延結(jié)構(gòu)上的多個接觸件結(jié)構(gòu),其中多個第一鰭結(jié)構(gòu)、多個柵極結(jié)構(gòu)、多個外延結(jié)構(gòu)和多個接觸件結(jié)構(gòu)是一個或多個諧振器的元件。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開總體涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,更具體地涉及半導(dǎo)體器件和方法。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體器件用于各種電子應(yīng)用(例如,個人計(jì)算機(jī)、手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)和其他電子設(shè)備)中。半導(dǎo)體器件通常通過以下步驟來制造:在半導(dǎo)體襯底上方順序地沉積絕緣或電介質(zhì)材料層、導(dǎo)電材料層和半導(dǎo)體材料層,并使用光刻對各種材料層進(jìn)行圖案化以在其上形成電路元件和組件。
半導(dǎo)體工業(yè)通過不斷減小最小特征尺寸來不斷提高各種電子元件(例如,晶體管、二極管、電阻器、電容器等)的集成密度,這允許將更多元件集成到給定區(qū)域中。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本申請的一方面,提供一種半導(dǎo)體器件,包括:從襯底延伸的多個鰭結(jié)構(gòu),所述多個鰭結(jié)構(gòu)具有多個第一鰭結(jié)構(gòu)和多個第二鰭結(jié)構(gòu);多個隔離區(qū)域,位于所述襯底上并且被布置在所述多個鰭結(jié)構(gòu)之間;多個柵極結(jié)構(gòu),位于所述多個隔離區(qū)域上;多個外延結(jié)構(gòu),位于所述多個第一鰭結(jié)構(gòu)上;以及多個接觸件結(jié)構(gòu),位于所述多個外延結(jié)構(gòu)上,其中所述多個第一鰭結(jié)構(gòu)、所述多個柵極結(jié)構(gòu)、所述多個外延結(jié)構(gòu)和所述多個接觸件結(jié)構(gòu)是一個或多個諧振器的元件。
根據(jù)本申請的另一方面,提供一種半導(dǎo)體器件,包括:襯底,具有第一表面和第二表面;隔離結(jié)構(gòu),位于所述襯底的所述第一表面上方;多個柵極結(jié)構(gòu),位于所述隔離結(jié)構(gòu)上方;諧振器,包括多個第一鰭結(jié)構(gòu)、至少一個外延結(jié)構(gòu)和接觸件結(jié)構(gòu),所述多個第一鰭結(jié)構(gòu)位于所述襯底的所述第一表面上,所述至少一個外延結(jié)構(gòu)位于所述第一鰭結(jié)構(gòu)上,所述接觸件結(jié)構(gòu)位于所述至少一個外延結(jié)構(gòu)上;以及至少一個第二鰭結(jié)構(gòu),位于所述襯底的所述第一表面上,并且所述至少一個第二鰭結(jié)構(gòu)被布置在所述多個第一鰭結(jié)構(gòu)中的兩個第一鰭結(jié)構(gòu)之間,所述至少一個第二鰭結(jié)構(gòu)沒有外延結(jié)構(gòu)。
根據(jù)本申請的另一方面,提供一種制備半導(dǎo)體器件的方法,包括:形成從襯底延伸的多個鰭結(jié)構(gòu),所述鰭結(jié)構(gòu)具有多個第一鰭結(jié)構(gòu)和多個第二鰭結(jié)構(gòu);形成多個隔離區(qū)域,所述多個隔離區(qū)域位于所述襯底上并且被布置在所述多個鰭結(jié)構(gòu)之間;在所述多個隔離區(qū)域上形成多個柵極結(jié)構(gòu);在所述多個第一鰭結(jié)構(gòu)上生長多個外延結(jié)構(gòu),所述多個第二鰭結(jié)構(gòu)沒有外延結(jié)構(gòu);以及在所述多個外延結(jié)構(gòu)上形成多個接觸件結(jié)構(gòu),其中所述多個第一鰭結(jié)構(gòu)、所述多個柵極結(jié)構(gòu)、所述多個外延結(jié)構(gòu)和所述多個接觸件結(jié)構(gòu)是一個或多個諧振器的元件。
附圖說明
當(dāng)結(jié)合附圖閱讀下面的具體實(shí)施方式時,得以從下面的具體實(shí)施方式中最佳地理解本公開的各方面。要注意的是,根據(jù)行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)做法,各種特征不是按比例繪制的。事實(shí)上,為了討論的清楚起見,各種特征的尺寸可能被任意增大或減小。
圖1以三維視圖圖示了根據(jù)一些實(shí)施例的FinFET的示例。
圖2、圖3A、圖3B、圖4、圖5、圖6、圖7、圖8A、圖8B、圖9A、圖9B、圖10A、圖10B、圖10C、圖10D、圖10E、圖11A、圖11B、圖12A、圖12B、圖13A、圖13B、圖14A、圖14B、圖14C、圖15A、圖15B、圖16A、圖16B、圖17是根據(jù)一些實(shí)施例的FinFET的制造中的中間階段的橫截面圖。
圖18A、圖18B、圖18C、圖19A、圖19B、圖20A、圖20B、圖21A、圖21B、圖22、圖23、圖24和圖25圖示了根據(jù)一些實(shí)施例的半導(dǎo)體器件的各種配置的頂視圖和橫截面圖。
圖26和圖27圖示了根據(jù)一些實(shí)施例的半導(dǎo)體器件的各種配置的頂視圖。
具體實(shí)施方式
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





