[發(fā)明專利]一種測量串聯(lián)同質(zhì)傳輸線駐波比及回波損耗的簡便方法

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• 申請?zhí)枺?/td>: 202210017560.2
• 申請日: 2022-01-07
• 公開（公告）號: CN114545084A
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉俊永
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電子科技集團公司第四十三研究所
• 主分類號: G01R27/06
• 分類號: G01R27/06;G01R27/26
• 代理公司: 合肥天明專利事務(wù)所(普通合伙) 34115
• 代理人: 金凱

本發(fā)明公開了射頻及微波電路設(shè)計與測試領(lǐng)域的一種測量串聯(lián)同質(zhì)傳輸線駐波比及回波損耗的簡便方法，其中對于待測均質(zhì)長傳輸線的測試方法如下所述：步驟1：測量獲得待測長傳輸線的長度；步驟2：制作一段與待測長傳輸線結(jié)構(gòu)、材料相同的短傳輸線，短傳輸線的長度為待測長傳輸線的1/n，n大于1；步驟3：測量獲得該短傳輸線的回波損耗數(shù)值RL1以及駐波比數(shù)值VSWR1；步驟4：采用公式1獲得待測長傳輸線的回波損耗數(shù)值RLn，RLn＝10logn+RL1；采用公式2獲得待測長傳輸線的駐波比數(shù)值VSWRn，本發(fā)明可簡單方便地測量出串聯(lián)多段同質(zhì)短傳輸線形成的長傳輸線的回波損耗與駐波比，并在已知長傳輸線的回波損耗與駐波比時，可測量出短傳輸線的回波損耗與駐波比。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及射頻及微波電路設(shè)計與測試領(lǐng)域，具體是一種測量串聯(lián)同質(zhì)傳輸線駐波比及回波損耗的簡便方法。

背景技術(shù)

在射頻及微波電路工程中，有時需要測試一段長傳輸線的回波損耗及駐波比的數(shù)值，現(xiàn)有測試方法采用長射頻線纜和連接器將傳輸線的2個端頭分別與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀或其它適用的儀器設(shè)備的輸入/輸出端口連接進行測試。一般的檢測儀器的測試線纜的長度較短，而待測傳輸線的長度較長，需要額外延長射頻線纜，并且還需要在測試結(jié)果中對延長段射頻線纜的回波損耗和駐波比數(shù)值進行“去嵌入”處理，因此存在測試不方便，且引入額外誤差，測試結(jié)果不準確等缺陷。

在射頻及微波電路工程中，有時需要測試一段短傳輸線的回波損耗及駐波比的數(shù)值，但是由于種種原因，難以對該段短傳輸線的回波損耗及駐波比進行測量。例如，對于QFN型陶瓷外殼的射頻I/O共面波導(dǎo)傳輸線，傳輸線的一端在外殼腔體內(nèi)部陶瓷基板的上表面，傳輸線的另一端在外殼腔體外部陶瓷基板的下表面，采用現(xiàn)有的測試方法難以對該傳輸線的回波損耗及駐波比進行測量。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提出了一種簡便測量方法，只需對單段短傳輸線的回波損耗或駐波比數(shù)值進行測量，不需要額外延長射頻線纜，也不需要對測試結(jié)果進行“去嵌入”處理，即可方便地獲得串聯(lián)多段同質(zhì)短傳輸線形成的長傳輸線的回波損耗數(shù)值及駐波比數(shù)值。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：

一種測量串聯(lián)同質(zhì)傳輸線駐波比及回波損耗的簡便方法，對于待測均質(zhì)長傳輸線的測試方法如下所述：

步驟1：測量獲得待測均質(zhì)長傳輸線的長度；

步驟2：制作一段與待測長傳輸線結(jié)構(gòu)、材料相同的短傳輸線，短傳輸線的長度為待測長傳輸線的1/n，n大于1；

步驟3：通過檢測儀器測量獲得該均質(zhì)短傳輸線的回波損耗數(shù)值RL1以及駐波比數(shù)值VSWR1；

步驟4：采用公式1獲得待測長傳輸線的回波損耗數(shù)值RLn，所述公式1為：

RLn＝10logn+RL1；

采用公式2獲得待測長傳輸線的駐波比數(shù)值VSWRn，所述公式2為：

在一些實施例中，對于待測短傳輸線的測試方法如下所述：

步驟1：測量獲得待測短傳輸線的長度；

步驟2：制作一段與待測短傳輸線結(jié)構(gòu)、材料相同的均質(zhì)長傳輸線作為測試樣品，均質(zhì)長傳輸線的長度為待測短傳輸線長度的n倍，其中n為整數(shù)，且n＞1；

步驟3：通過檢測儀器獲得該長傳輸線的回波損耗數(shù)值RLn以及駐波比數(shù)值VSWRn；

步驟4：采用公式3獲得待測短傳輸線的回波損耗數(shù)值RL1，所述公式3為：

RL1＝RLn-10logn；

采用公式4獲得待測短傳輸線的駐波比數(shù)值VSWRn，所述公式4為：