[發明專利]一種LCD電阻標識測試配合裝置及使用方法

在審

• 申請號: 202210004068.1
• 申請日: 2022-01-05
• 公開（公告）號: CN114387902A
• 公開（公告）日: 2022-04-22
• 發明（設計）人: 馬小飛;丁軍
• 申請（專利權）人: 蚌埠高華電子股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/36;G01R27/02;G01R1/04
• 代理公司: 合肥鴻知運知識產權代理事務所(普通合伙) 34180
• 代理人: 張林鋒

本發明公開了一種LCD電阻標識測試配合裝置及使用方法，涉及LCD檢測技術領域。本發明中：LCD玻璃的臺階位置處設有標識電阻，標識電阻包括電阻線路和位于電阻線路兩側端的測試端點，標識定位器位于LCD玻璃的臺階位置處，標識定位器包括與兩個測試端點相配合的觀察缺口。標識定位器的內推導槽位置處插入安裝有導電測試板，導電測試板包括一個塑料推片和兩個導電片，導電片粘合在塑料推片的前端位置，兩個導電片的插接部分配合插接有測試插頭。本發明在LCD玻璃臺階位置設置標識電阻，通過對標識電阻蝕刻前后的電阻線路阻值變化進行測量，判斷當前LCD電阻是否正常，同時通過測量輔助裝置的間接轉換，使得標識電阻的電阻線路。

技術領域

本發明涉及LCD檢測技術領域，尤其涉及一種LCD電阻標識測試配合裝置及使用方法。

背景技術

LCD在量產后可能因為其材料的阻值規格使用錯誤而導致顯示明暗不均等問題。LCD蝕刻不足可能導致比較細的線路未被蝕刻，出現線路短路或者電阻過高，而蝕刻過度可能導致原本不應被蝕刻部分被蝕刻，出現短路，圖案變形等情況。

LCD在出現顯示明暗不均時，可能原因為原材料玻璃不同導致，也可能因為蝕刻程度不同造成錯誤，但兩種錯誤的識別方法比較繁瑣，測試比較浪費時間。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種LCD電阻標識測試配合裝置及使用方法，在LCD玻璃臺階位置設置標識電阻，通過對標識電阻蝕刻前后的電阻線路阻值變化進行測量，判斷當前LCD電阻是否正常，同時通過測量輔助裝置的間接轉換，使得標識電阻的電阻線路。

為解決上述技術問題，本發明是通過以下技術方案實現的：

本發明涉及一種LCD電阻標識測試配合裝置，LCD玻璃的臺階位置處設有標識電阻，標識電阻包括電阻線路和位于電阻線路兩側端的測試端點。

標識定位器，為一體化注塑成型的絕緣塑料材質結構體，置于LCD玻璃的臺階位置處。標識定位器包括置于LCD玻璃上側的上平板，標識定位器包括位于上平板一側的邊側擋板，標識定位器包括與兩個測試端點相配合的觀察缺口，觀察缺口位于上側平板、邊側擋板的中間位置，上側平板上側面開設有位于觀察缺口兩側的邊側磁片槽，邊側擋板、上平板開設有位于邊側磁片槽兩側的內推導槽。邊側磁片槽內放置磁吸塊，LCD玻璃下側面配置有與磁吸塊磁吸配合的磁鐵片。

標識定位器的內推導槽位置處插入安裝有導電測試板，導電測試板包括一個塑料推片和兩個導電片，導電片粘合在塑料推片的前端位置，塑料推片兩側設有推片導板，塑料推片包括位于兩個導電片之間的隔斷部分，導電片外側設有導電導板，導電片包括與塑料推片上側面齊平的插接部分，插接部分開設有插接孔，兩個導電片的插接部分配合插接有測試插頭，測試插頭包括配合插接在插接孔內的插接極柱。

作為本發明中LCD電阻標識測試配合裝置的一種優選技術方案：測試端點的寬度尺寸大于電阻線路的寬度尺寸，設測試端點的寬度尺寸為Da、電阻線路的寬度尺寸為Db，則Da≥10Db。另外，測試端點為方形金屬區域或圓形金屬區域。

作為本發明中LCD電阻標識測試配合裝置的一種優選技術方案：上平板包括一段遮擋板，遮擋板覆蓋標識電阻的電阻線路區域，遮擋板未覆蓋標識電阻的測試端點。

作為本發明中LCD電阻標識測試配合裝置的一種優選技術方案：內推導槽下側延伸至上平板的下側面，內推導槽延伸至標識定位器的遮擋板位置。

作為本發明中LCD電阻標識測試配合裝置的一種優選技術方案：塑料推片上側面設有若干增阻條，同側方位的推片導板上側面與導電導板上側面齊平，同側方位的導電導板下側面水平位置低于推片導板下側面水平位置，推片導板、導電導板配合插入標識定位器的內推導槽。

作為本發明中LCD電阻標識測試配合裝置的一種優選技術方案：推片導板的豎直高度尺寸小于內推導槽的開口高度尺寸，導電導板的豎直高度尺寸與內推導槽的開口高度尺寸相配合。