[發明專利]光學組件、控制光學組件的方法以及投射曝光設備在審
| 申請號: | 202180051929.5 | 申請日: | 2021-08-02 |
| 公開(公告)號: | CN116209939A | 公開(公告)日: | 2023-06-02 |
| 發明(設計)人: | M·拉布;A·拉巴;J·利珀特;M·曼格 | 申請(專利權)人: | 卡爾蔡司SMT有限責任公司 |
| 主分類號: | G02B26/06 | 分類號: | G02B26/06 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 王蕊瑞 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 組件 控制 方法 以及 投射 曝光 設備 | ||
1.一種用于半導體光刻的光學組件(20),包括
光學元件(21),以及
致動器(26.4),用于使所述光學元件(21)變形,其中,
所述致動器(26.4)由至少三個截面段(27)構成,并且
具有在不同情況下借助于控制器可控制的至少第一組(31)和第二組(32)的截面段(27),
其中,所述第一組(31)用于粗略致動,所述第二組(32)用于精細致動,
其中,所述控制器(29)被配置成彼此獨立地控制所述組(31、32)以及共同地控制組(31、32)中的截面段(27),
其中,所述控制器還被配置成可變地設置每組(31、32)中共同控制的截面段(27)的數量。
2.如權利要求1所述的光學組件(20),其中,
至少兩個截面段(27)連接至電極(33.1、33.2),以使得能夠在所述至少兩個截面段(27)中的每一個中產生單獨的電場。
3.如前述權利要求中任一項所述的光學組件(20),其中,
所述致動器(26.4)被配置成借助于所述致動器(26.4)的橫向收縮使所述光學元件(21)變形。
4.如權利要求1或2所述的光學組件(20),其中,
所述致動器(26.4)被配置成基于所述致動器(26.4)的縱向膨脹使所述光學元件(21)變形。
5.一種投射曝光設備(1、101),包括如前述權利要求中任一項所述的光學組件(20)。
6.一種用于控制投射曝光設備(1、101)中的光學組件(20)的方法,其中,所述光學組件包括光學元件(21)和用于使所述光學元件(21)變形的致動器(26.4),其中所述致動器(26.4)包括在不同情況下借助于控制器可控制的第一組(31)和第二組(32)的截面段(27),
所述方法包括以下方法步驟:
將所述第二組(32)致動至中間位置,
確定所述光學元件(21)的光學有效表面(23)在特定測量時間與目標值的偏差,
控制所述致動器的所述第一組(31),以便校正先前確定的偏差,
控制所述第二組(32),以便校正在所述測量時間之后出現的偏差,而不控制所述第一組(31)。
7.如權利要求6所述的方法,其中,
兩個組(31、32)中的至少一組的截面段(27)的數量是可變的。
8.如權利要求7所述的方法,其中,
所述第一組(31)和所述第二組(32)中的截面段(27)的數量是可變的。
9.如權利要求6至8中任一項所述的方法,其中,
通過沒有反饋變量的控制來控制所述第二組(32)。
10.如權利要求6至9中任一項所述的方法,其中,
所述致動器(26.4)實施為壓電致動器或電致伸縮致動器。
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