[發明專利]圖像處理裝置和測距裝置

在審

• 申請號: 202180046863.0
• 申請日: 2021-06-02
• 公開（公告）號: CN115735134A
• 公開（公告）日: 2023-03-03
• 發明（設計）人: 岡田浩希;高山喜央
• 申請（專利權）人: 京瓷株式會社
• 主分類號: G01S7/497
• 分類號: G01S7/497
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 宋曉寶

本發明提供能夠降低電磁波檢測中的環境變化、隨時間變化的影響的圖像處理裝置和測距裝置。圖像處理裝置具有：反射強度信息獲取部(142)，根據向存在對象(ob)的空間的多個方向照射的電磁波即照射波被對象反射后的反射波，獲取對象的位置處的照射波的反射強度信息，并根據反射強度信息生成表示空間中的照射波的反射強度的反射強度圖像；圖像信息獲取部(141)，獲取空間的亮度圖像；以及對應信息算出部(146)，根據反射強度圖像和亮度圖像各自中的對象的位置，算出將反射強度圖像與亮度圖像建立對應關系的對應信息。

關聯申請的相互參照

本申請要求日本國專利申請2020-114483號(2020年7月1日申請)的優先權，在此其全部公開內容通過引用并入本文。

技術領域

本發明涉及一種圖像處理裝置和測距裝置。

背景技術

近年來，開發了一種根據檢測電磁波的多個檢測器的檢測結果得到與周圍有關的信息的裝置。例如，已知一種降低了各檢測器的檢測結果中的坐標系的差異的電磁波檢測裝置(參照專利文獻1)。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2018-200927號公報。

發明內容

第一方面的圖像處理裝置具有：

反射強度信息獲取部，根據向存在對象的空間的多個方向照射的電磁波即照射波被所述對象反射后的反射波，獲取所述對象的位置處的所述照射波的反射強度信息，并根據所述反射強度信息生成表示所述空間中的所述照射波的反射強度的反射強度圖像；

圖像信息獲取部，獲取所述空間的亮度圖像；以及

對應信息算出部，根據所述反射強度圖像和所述亮度圖像各自中的所述對象的位置，算出將所述反射強度圖像與所述亮度圖像建立對應關系的對應信息。

另外，第二方面的圖像處理裝置具有：

圖像信息獲取部，獲取存在對象的空間的亮度圖像；

反射強度信息獲取部，獲取根據照射到所述空間的電磁波即照射波被所述對象反射后的反射波而生成的、表示所述空間中的位置處的所述照射波的反射強度的反射強度圖像；以及

對應信息算出部，算出與所述空間中的規定的位置對應的、將所述反射強度圖像中包括的位置與所述亮度圖像中包括的位置建立對應關系的對應信息。

另外，第三方面的測距裝置具有：

反射強度信息獲取部，根據向存在對象的空間的多個方向照射的電磁波即照射波被所述對象反射后的反射波，獲取所述對象的位置處的所述照射波的反射強度信息，并根據所述反射強度信息生成表示所述空間中的所述照射波的反射強度的反射強度圖像；

圖像信息獲取部，獲取所述空間的亮度圖像；

對應信息算出部，根據所述反射強度圖像和所述亮度圖像各自中的所述對象的位置，算出將所述反射強度圖像與所述亮度圖像建立對應關系的對應信息；以及

運算部，根據與所述反射強度信息一起獲取的所述反射波的檢測信息，對與所述對象的距離進行運算。

附圖說明

圖1是表示一實施方式的電磁波檢測裝置的概略結構的結構圖。

圖2是用于說明圖1的電磁波檢測裝置的第一狀態和第二狀態下的電磁波的行進方向的圖。

圖3是用于說明包括反射波的電磁波的檢測的圖。

圖4是用于說明距離的運算的時序圖。

圖5是表示存在對象的空間的亮度圖像的一例的圖。