[發明專利]半導體存儲裝置在審
| 申請號: | 202180013655.0 | 申請日: | 2021-02-03 |
| 公開(公告)號: | CN115066752A | 公開(公告)日: | 2022-09-16 |
| 發明(設計)人: | 廣瀨雅庸;村瀨泰規 | 申請(專利權)人: | 株式會社索思未來 |
| 主分類號: | H01L27/11 | 分類號: | H01L27/11;H01L21/82;H01L21/3205;H01L21/768;H01L23/522;H01L21/8244;H01L29/41;H01L29/423;H01L29/49;H01L29/786 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 柯瑞京 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 存儲 裝置 | ||
納米片(21~23)沿X方向按照納米片(21~23)的順序排列而成。納米片(24~26)沿X方向按照納米片(24~26)的順序排列而成。在埋入式布線層中,在俯視時在納米片(22)與納米片(25)之間形成有電源布線(11)。納米片(22)的X方向上的一側即第一側的面從柵極布線(32)露出。納米片(25)的X方向上的另一側即第二側的面從柵極布線(35)露出。
技術領域
本公開涉及一種包括納米片FET(Field Effect Transistor:場效應晶體管)的半導體存儲裝置,尤其涉及一種使用納米片FET的單端口SRAM(Static Random AccessMemory:靜態隨機存取存儲器)單元(以下亦適當地簡稱為單元)的版圖構造。
背景技術
SRAM廣泛應用于半導體集成電路。
LSI的基本構成要素即晶體管通過縮小柵極長度(按比例縮小:scaling)而實現了集成度的提高、工作電壓的降低以及工作速度的提高。但是,近年來,出現的問題是過度地按比例縮小會引起截止電流,截止電流又會引起功耗顯著增大。為解決該問題,人們已開始積極對立體構造晶體管進行研究,即讓晶體管構造從現有的平面型變為立體型。納米片FFT(納米線FET)作為立體構造晶體管之一而備受矚目。
納米片FET中得到提倡的是柵極電極呈叉形的叉片(fork sheet)晶體管。在非專利文獻1、2中公開了使用叉片晶體管的SRAM單元的版圖,實現了半導體存儲裝置的小面積化。
非專利文獻1:P.Weckx et al.,“Stacked nanosheet fork architecture forSRAM design and device co-optimization toward 3nm”,2017 IEEE InternationalElectron Devices Meeting(IEDM),December 2017,IEDM17-505~508
非專利文獻2:P.Weckx et al.,“Novel forksheet device architecture asultimate logic scaling device towards 2nm”,2019 IEEE International ElectronDevices Meeting(IEDM),December 2019,IEDM19-871~874
發明內容
-發明要解決的技術問題-
在本說明書中,按照現有技術將柵極電極呈叉形的納米片FET稱為叉片晶體管。
然而,在非專利文獻1中,對于單端口SRAM單元,僅示出了各晶體管的布置結構,并未對包括布線在內的結構進行詳細的研究。
本公開的目的在于:在使用叉片晶體管的單端口SRAM單元的版圖構造中,抑制半導體存儲裝置的面積增大,同時實現半導體存儲裝置的高速化和寫入特性的提高。
-用以解決技術問題的技術方案-
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- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





