[實用新型]一種針對半導體的真空測試計

有效

• 申請號: 202121805159.2
• 申請日: 2021-08-04
• 公開（公告）號: CN215493719U
• 公開（公告）日: 2022-01-11
• 發明（設計）人: 劉國清;胡旭偉
• 申請（專利權）人: 杭州必耕自動化設備有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 杭州融方專利代理事務所(普通合伙) 33266
• 代理人: 沈相權

本實用新型公開了一種針對半導體的真空測試計，包括便攜箱和測試件，測試件上表面右側的前部設有卡接機構，卡接機構包括固定箱座和調節盤，固定箱座的底部與調節盤轉動連接，固定箱座的內部設有多組滑座，滑座與固定箱座之間固定連接有第一彈簧，固定箱座的上下表面均開設有多組限位滑槽，本實用新型涉及半導檢測技術領域。該針對半導體的真空測試計，通過轉動手推桿帶動調節盤轉動，從而使弧形槽道帶動推桿連接的滑座向外側移動，放置待測試的半導體，第一彈簧推動滑座向內側移動，使卡座卡住半導體，通過轉動壓座抵壓在半導體的上部，使待測試半導體固定穩定，適用于不同尺寸規格的產品，可以減低成本，方便操作和使用。

技術領域

本實用新型涉及半導檢測技術領域，具體為一種針對半導體的真空測試計。

背景技術

隨著科技的發展，芯片的功能也愈來愈多、愈來愈復雜，關于半導體，無論是集成電路或芯片的半導體測試，在制造過程中的不同階段都是必須的，如此才能確保其功能。

現有的半導體測試儀器中，基本根據實際檢測的半導體的尺寸需求來制作對應尺寸的測試裝置，如果需要測試其他型號的半導體，需要重新進行制作測試裝置，一方面測試成本增加，另一方面也會極大地降低檢測效率，而且現有的測試儀器在攜帶運輸過程中，內部元件容易受損，降低設備的使用壽命。

實用新型內容

針對現有技術的不足，本實用新型提供了一種針對半導體的真空測試計，解決了現有的半導體測試儀器不適用于不同尺寸規格的產品測試，致使成本增加，同時降低檢測效率，測試儀器在攜帶運輸過程中，內部元件容易受損的問題。

為實現以上目的，本實用新型通過以下技術方案予以實現：一種針對半導體的真空測試計，包括便攜箱和測試件，所述測試件上表面右側的前部設有卡接機構，所述卡接機構包括固定箱座和調節盤，所述固定箱座的底部與調節盤轉動連接，所述固定箱座的內部設有多組滑座，且滑座與固定箱座之間固定連接有第一彈簧，所述固定箱座的上下表面均開設有多組限位滑槽，所述滑座的上部和下部分別固定連接有卡座和推桿，所述卡座和推桿分別貫穿于固定箱座上下兩側表面的限位滑槽處，且卡座和推桿分別與固定箱座上下兩側表面的限位滑槽處滑動連接，所述卡座的上部轉動連接有壓座，所述調節盤的表面開設有多組弧形槽道，所述推桿的底端貫穿于弧形槽道處。

優選的，所述調節盤的后部固定連接有連接桿，所述連接桿后端的上部固定連接有手推桿。

優選的，所述測試件上表面右側的后部設有推桿弧形槽，所述手推桿的上端貫穿于推桿弧形槽處，且手推桿與推桿弧形槽滑動連接。

優選的，所述測試件上表面的右側設有顯控機構，所述顯控機構包括顯示面板和按鍵。

優選的，所述測試件的兩側通過滑組與便攜箱內腔的左右兩側滑動連接，所述測試件的底部與便攜箱內腔的底部之間固定連接有第二彈簧。

優選的，所述便攜箱包括箱體和箱蓋，所述箱體的上部與箱蓋鉸接，所述箱蓋上表面的中心鉸接有把手。

有益效果

本實用新型提供了一種針對半導體的真空測試計。與現有技術相比具備以下有益效果：

(1)、該針對半導體的真空測試計，通過在固定箱座的底部與調節盤轉動連接，且滑座與固定箱座之間固定連接有第一彈簧，卡座和推桿分別貫穿于固定箱座上下兩側表面的限位滑槽處，且卡座和推桿分別與固定箱座上下兩側表面的限位滑槽處滑動連接，卡座的上部轉動連接有壓座，調節盤的表面開設有多組弧形槽道，推桿的底端貫穿于弧形槽道處，連接桿后端的上部固定連接有手推桿，通過轉動手推桿帶動調節盤轉動，從而使弧形槽道帶動推桿連接的滑座向外側移動，放置待測試的半導體，第一彈簧推動滑座向內側移動，使卡座卡住半導體，通過轉動壓座抵壓在半導體的上部，使待測試半導體固定穩定，可以適用于不同尺寸規格的產品，可以減低成本，方便操作和使用。