[發(fā)明專利]一種有線充電的檢測(cè)方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202111674924.6
• 申請(qǐng)日: 2021-12-31
• 公開（公告）號(hào): CN114325195B
• 公開（公告）日: 2022-09-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊奇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 珠海視熙科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 深圳騰文知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44680
• 代理人: 冼柏龍

本申請(qǐng)實(shí)施例公開了一種有線充電的檢測(cè)方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，用于提高用戶體驗(yàn)。本申請(qǐng)實(shí)施例方法包括：當(dāng)電子設(shè)備通過目標(biāo)數(shù)據(jù)線進(jìn)行充電時(shí)，通過所述電子設(shè)備的PMIC采集所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線連接所述電子設(shè)備端的VBUS引腳電壓和對(duì)應(yīng)的VBUS引腳電流；根據(jù)第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)采集到VBUS引腳電壓和VBUS引腳電流生成第一數(shù)據(jù)報(bào)告；根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)報(bào)告確定是否存在充電異常。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)實(shí)施例涉及數(shù)據(jù)線檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種有線充電的檢測(cè)方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

數(shù)據(jù)線用于電腦與外部設(shè)備的連接和通訊，也可用于手機(jī)的充電和與外部的連接。通俗的說，用于傳輸數(shù)據(jù)和充電。數(shù)據(jù)線生產(chǎn)出來之后，隨著時(shí)間的流逝，數(shù)據(jù)線可能會(huì)出現(xiàn)老化或損壞的情況，使用老化或損壞的數(shù)據(jù)線進(jìn)行充電，存在一些安全隱患例如線材自燃、損壞充電的電子設(shè)備以及導(dǎo)致等等，因此需要檢查數(shù)據(jù)線的工作狀態(tài)。

現(xiàn)有技術(shù)中，通常是將數(shù)據(jù)線從工作現(xiàn)場(chǎng)中取出，使用儀器(例如萬用表、示波器、眼圖測(cè)量儀器等)進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)各種彎折姿勢(shì)的阻抗、通斷狀態(tài)、數(shù)據(jù)信號(hào)質(zhì)量，來判斷數(shù)據(jù)線是否有老化或損壞。

然而，這樣的檢測(cè)方式需要先將數(shù)據(jù)線從工作現(xiàn)場(chǎng)取出，才能用儀器進(jìn)行檢測(cè)，如果對(duì)正在工作中的數(shù)據(jù)線進(jìn)行檢測(cè)，則會(huì)造成工作任務(wù)的中斷，給用戶帶來了不便，用戶體驗(yàn)極差。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種有線充電的檢測(cè)方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，可以提高用戶體驗(yàn)。

本申請(qǐng)實(shí)施例第一方面提供了一種有線充電的檢測(cè)方法，包括：

當(dāng)電子設(shè)備通過目標(biāo)數(shù)據(jù)線進(jìn)行充電時(shí)，通過所述電子設(shè)備的集成電源管理電路(Power Management IC，PMIC)采集所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線連接所述電子設(shè)備端的VBUS引腳電壓和對(duì)應(yīng)的VBUS引腳電流；

根據(jù)第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)采集到VBUS引腳電壓和VBUS引腳電流生成第一數(shù)據(jù)報(bào)告；

根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)報(bào)告確定是否存在充電異常。

可選的，在根據(jù)第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)采集到VBUS引腳電壓和VBUS引腳電流生成第一數(shù)據(jù)報(bào)告之前，所述檢測(cè)方法還包括：

通過所述電子設(shè)備獲取采集所述VBUS引腳電壓和VBUS引腳電流時(shí)對(duì)應(yīng)的時(shí)間信息；

根據(jù)第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)采集到VBUS引腳電壓和VBUS引腳電流生成第一數(shù)據(jù)報(bào)告包括：

根據(jù)第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)采集到VBUS引腳電壓、VBUS引腳電流以及對(duì)應(yīng)的時(shí)間信息生成第一數(shù)據(jù)報(bào)告。

可選的，所述根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)報(bào)告確定是否存在充電異常包括：

獲取第一警戒值；

根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)報(bào)告判斷VBUS引腳電壓是否存在在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)一直低于第一警戒值的情況；

若是，則確定存在充電異常。

可選的，所述獲取第一警戒值包括：

確定此時(shí)所述電子設(shè)備所使用的充電協(xié)議；

根據(jù)所述充電協(xié)議確定協(xié)議VBUS引腳電壓范圍；

將所述協(xié)議VBUS引腳電壓范圍中的最小值作為第一警戒值。

可選的，所述根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)報(bào)告判斷VBUS引腳電壓是否存在在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)一直低于第一警戒值的情況之后，所述檢測(cè)方法還包括：

若否，則根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)報(bào)告判斷是否存在至少2次VBUS引腳電壓隨著VBUS引腳電流的持續(xù)上升而持續(xù)下降，并且VBUS引腳電壓降低到第二警戒值以下時(shí)，VBUS引腳電壓上升而VBUS引腳電流變?yōu)?的情況，所述第二警戒值為所述PMIC預(yù)先配置的值；