[發明專利]一種輻照實驗線不均勻度優化方法

在審

• 申請號: 202111644023.2
• 申請日: 2021-12-29
• 公開（公告）號: CN114355425A
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: 張智博;童好學;史詩
• 申請（專利權）人: 天津金鵬源輻照技術有限公司
• 主分類號: G01T1/02
• 分類號: G01T1/02
• 代理公司: 天津盛理知識產權代理有限公司 12209
• 代理人: 劉丹舟

本發明涉及一種輻照實驗線不均勻度優化方法，優化地增加了待輻照箱體層次劃分及劑量計分布位點換位步驟，本發明方法設計科學合理，通過在輻照托箱內對滿載的待輻照箱進行坐標系建立，并確定劑量計布設位點，同時對各位點進行位置互換從而有效提高輻照均勻度，通過實驗驗證，不換位測試最低點位在245，劑量值為8.5KGy；最高點位在011，劑量值為16.88KGy；不均勻度為1.99；換位后，測試最低點位在100，劑量值為10.19KGy；最高點位在221，劑量值為13.39KGy；不均勻度為1.31。對于輻照不均勻度的研究具有重要的指導意義，適用于轉化推廣應用，為輻照產品均勻度的把控提供優化方法。

技術領域

本發明屬于輻照加工領域，涉及產品輻照技術，尤其是一種輻照實驗線不均勻度優化方 法。

背景技術

輻照是利用放射性元素的輻射去改變分子結構的一種化工技術，輻照加工技術作為一種 新興的加工行業在食品、醫療、工業等領域有著廣泛的應用。其中輻照均勻度這一參數尤為 重要，輻照的均勻度對產品質量有很大的影響，也是輻照效果的重要衡量指標。

現有的輻照均勻度的檢測方式主要時通過劑量計的吸收計量來確定的，某產品輻照劑量 分布是指產品內各位點的吸收劑量的相對比值u＝D_i/D_j，其不均勻度(U)等于該批產品輻照吸 收劑量的最大值(D_max)與最小值(D_minx)之比，即U＝D_max/D_min。降低產品輻照劑量的不均勻度可以 提高輻照利用率且進一步指導輻照生產，故研發一種高效的降低輻照不均勻度的輻照方法具 有重要的應用價值。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的不足之處，提供一種高效的輻照實驗線不均勻度優化 方法，通過實驗驗證能有效降低輻照產品的不均勻度，具有較大的實際轉化應用價值。

本發明解決其技術問題是采取以下技術方案實現的：

一種輻照實驗線不均勻度優化方法，包括如下方法步驟：

步驟1，待輻照產品滿載裝箱；

步驟2，裝箱后確定基本參數：包括單元輻照箱體長度、寬度及高度；單箱毛重、產品 密度、裝載密度及材質；

步驟3，確定待輻照箱體在托箱中的裝載方式：單元輻照箱體依次組合，托箱內待輻照 箱體的寬度方向為單元輻照箱體的長度組合疊加，長度方向為輻照箱體寬度，高度方向為輻 照箱體高度，輻照托箱進入輻照室的方向為待輻照箱體長度方向；

步驟4，待輻照箱體層次劃分：以輻照箱體最先進入輻照室的高度方向的邊線的最低位 置為坐標原點(0，00，00)，以輻照箱體寬度方向為X軸，長度方向為Y軸，高度方向為Z軸，在輻照箱體滿載時，將整個輻照箱體內的產品在X軸方向等距分割若干等份，依次編號，在Y軸方向等距分割若干等份，依次編號，在Z軸方向等距分割若干等份，依次編號，在X、 Y、Z軸等分線的交叉點處設置劑量計點位，坐標點表示為“XYZ”，如“(1,0,1)”，表示 的是，X軸方向的“1”面、Y軸方向的“0”面、Z軸方向的“1”面，三面相交的交叉點， 當輻照箱體進入輻射場時，在第一路徑中X軸方向“0”面最接近輻射源；輻照箱體Y軸方向 的“0”面位置首先接受到輻射源的照射(列向點位0最先接受到輻射源的照射)；

步驟5，在上述步驟4確認好的劑量計點位上放置劑量計，同時準備每個劑量計位點的 換位劑量計紙板，即在紙板上粘貼劑量計，所使用的劑量計為Harwell4034劑量計；

步驟6，確認鈷源活度并設定輻照時間；

步驟7，每次輻照結束后對劑量計進行換位再次進行輻照，換位方式包括同層互換及上、 下層及間隔層排列組合互換；

步驟8，輻照結束，劑量計測量并獲取數據，得到最優的劑量計放置位點以優化輻照均 勻度。