[發明專利]一種輻照實驗線不均勻度優化方法

在審

• 申請號: 202111644023.2
• 申請日: 2021-12-29
• 公開（公告）號: CN114355425A
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: 張智博;童好學;史詩
• 申請（專利權）人: 天津金鵬源輻照技術有限公司
• 主分類號: G01T1/02
• 分類號: G01T1/02
• 代理公司: 天津盛理知識產權代理有限公司 12209
• 代理人: 劉丹舟

1.一種輻照實驗線不均勻度優化方法，其特征在于：包括如下方法步驟：

步驟1，待輻照產品滿載裝箱；

步驟2，裝箱后確定基本參數；

步驟3，確定待輻照箱體在托箱中的裝載方式：單元輻照箱體依次組合，托箱內待輻照箱體的寬度方向為單元輻照箱體的長度組合疊加，長度方向為輻照箱體寬度，高度方向為輻照箱體高度，輻照托箱進入輻照室的方向為待輻照箱體長度方向；

步驟4，待輻照箱體層次劃分：以輻照箱體最先進入輻照室的高度方向的邊線的最低位置為坐標原點，以輻照箱體寬度方向為X軸，長度方向為Y軸，高度方向為Z軸，在輻照箱體滿載時，將整個輻照箱體內的產品在X軸方向等距分割若干等份，依次編號，在Y軸方向等距分割若干等份，依次編號，在Z軸方向等距分割若干等份，依次編號，在X、Y、Z軸等分線的交叉點處設置劑量計點位，坐標點表示為“XYZ”；

步驟5，在上述步驟4確認好的劑量計點位上放置劑量計，同時準備每個劑量計位點的換位劑量計紙板，即在紙板上粘貼劑量計；

步驟6，確認鈷源活度并設定輻照時間；

步驟7，每次輻照結束后對劑量計進行換位再次進行輻照，換位方式包括同層互換及上、下層及間隔層排列組合互換；

步驟8，輻照結束，劑量計測量并獲取數據，得到最優的劑量計放置位點以優化輻照均勻度。

2.根據權利要求1所述的一種輻照實驗線不均勻度優化方法，其特征在于：所述的基本參數包括：單元輻照箱體長度、寬度及高度；單箱毛重、產品密度、裝載密度及材質。

3.根據權利要求1所述的一種輻照實驗線不均勻度優化方法，其特征在于：步驟4中，設“XYZ”為“1,0,1”，表示的是，X軸方向的“1”面、Y軸方向的“0”面、Z軸方向的“1”面，三面相交的交叉點，當輻照箱體進入輻射場時，在第一路徑中X軸方向“0”面最接近輻射源；輻照箱體Y軸方向的“0”面位置首先接受到輻射源的照射，即列向點位0最先接受到輻射源的照射。

4.根據權利要求1所述的一種輻照實驗線不均勻度優化方法，其特征在于：所使用的劑量計為Harwell4034劑量計。