[發明專利]一種集成式內存老化測試裝置

在審

• 申請號: 202111594265.5
• 申請日: 2021-12-23
• 公開（公告）號: CN114420193A
• 公開（公告）日: 2022-04-29
• 發明（設計）人: 谷新亮;劉德旺
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56;G11C29/50
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 薛晨光

1.一種集成式內存老化測試裝置，其特征在于，包括設有集成電路的測試板卡(1)，所述測試板卡(1)設置用于模擬整機工作條件的輔助元器件，所述輔助元器件包括處理器、電源；

所述測試板卡(1)設置至少兩組規格不同的內存插座(2)，每組所述內存插座(2)能夠插裝若干塊相應規格的內存條；所述內存插座(2)由所述測試板卡(1)供電并模擬工作狀態；

所述測試板卡(1)設置老化罩(3)，殼體狀的所述老化罩(3)能夠環繞罩設在所述內存插座(2)的外周，能夠為待測內存條提供制冷和/或制熱環境。

2.根據權利要求1所述的集成式內存老化測試裝置，其特征在于，每組所述內存插座(2)分別設置高電壓測試位和低電壓測試位。

3.根據權利要求2所述的集成式內存老化測試裝置，其特征在于，所述高電壓測試位的電壓為DC+5％，所述低電壓測試位的電壓為DC-5％。

4.根據權利要求3所述的集成式內存老化測試裝置，其特征在于，所述內存插座(2)包括標準、中型、微型三種尺寸規格，每種尺寸規格設置四個插座，其中兩個為高電壓測試位，另外兩為低電壓測試位。

5.根據權利要求3所述的集成式內存老化測試裝置，其特征在于，所述老化罩(3)設置風扇(31)和通風網(32)，所述風扇(31)用于驅動氣流流動，所述通風網(32)作為氣流的內外交流通道。

6.根據權利要求5所述的集成式內存老化測試裝置，其特征在于，所述老化罩(3)的上表面設置所述風扇(31)，其中一個側壁設置所述通風網(32)，與所述通風網(32)相對的側壁設置一個所述風扇(31)。

7.根據權利要求6所述的集成式內存老化測試裝置，其特征在于，所述測試板卡(1)設置顯示器(5)，所述顯示器(5)用于顯示內存條的工作狀態及環境條件。

8.根據權利要求1至7任一項所述的集成式內存老化測試裝置，其特征在于，所述老化罩(3)為半導體控溫罩，通過改變半導體的電流方向實現制冷或制熱。

9.根據權利要求8所述的集成式內存老化測試裝置，其特征在于，所述測試板卡(1)設置老化供電模塊(4)，所述老化供電模塊(4)將輸入的交流電轉換為直流電，向所述老化罩(3)供電。

10.根據權利要求1至7任一項所述的集成式內存老化測試裝置，其特征在于，所述老化罩(3)為外表面設置保溫層的金屬外殼，內部采用加熱絲加熱。