[發明專利]集成電路測試設備在審
| 申請號： | 202111577205.2 | 申請日： | 2021-12-22 |
| 公開（公告）號： | CN115327339A | 公開（公告）日： | 2022-11-11 |
| 發明（設計）人： | 蘇建華;曾昱瑋;徐上茹 | 申請（專利權）人： | 南亞科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270 | 代理人： | 康艷青;王琳 |
| 地址： | 中國臺灣新*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 集成電路 測試 設備 | ||
1.一種集成電路測試設備用以測試待測集成電路裝置，其特征在于，該集成電路測試設備包含：
電源供應器，用以通過并聯連接的第一路徑或第二路徑向該待測集成電路裝置的電源端子供電，其中該第一路徑包括第一開關元件，該第一開關元件用以根據第一控制信號進行控制；以及
電源補償電路，位于該第二路徑，該電源補償電路包括第二開關元件，該第二開關元件用以根據第二控制信號進行控制，該電源補償電路用以在該第一開關元件斷路且該第二開關元件導通時產生補償脈沖電流。
2.根據權利要求1所述的集成電路測試設備，其特征在于，該電源供應器用以在該第一開關元件導通且該第二開關元件斷路時通過該第一路徑向該待測集成電路裝置的該電源端子供電。
3.根據權利要求1所述的集成電路測試設備，其特征在于，還包含分配給該第二開關元件的驅動器。
4.根據權利要求1所述的集成電路測試設備，其特征在于，該待測集成電路裝置包含在組裝工序后封裝的集成電路裝置。
5.根據權利要求1所述的集成電路測試設備，其特征在于，該待測集成電路裝置包含在組裝工序后封裝的存儲器集成電路裝置。
6.根據權利要求5所述的集成電路測試設備，其特征在于，該存儲器集成電路裝置包含雙倍數據率同步動態隨機存取存儲器。
7.根據權利要求5所述的集成電路測試設備，其特征在于，該存儲器集成電路裝置包含低功率雙倍數據率同步動態隨機存取存儲器。
8.根據權利要求1所述的集成電路測試設備，其特征在于，該電源供應器配置為由軟件應用程序調制以在該電源補償電路發生故障時補償電源電壓降。
9.一種集成電路測試設備用以測試待測集成電路裝置，其特征在于，該集成電路測試設備包含：
第一電源供應器，用以通過第一路徑向該待測集成電路裝置的電源端子供電；
第二電源供應器，用以通過第二路徑向該待測集成電路裝置的電源端子供電；以及
電源補償電路，位于該第二路徑，該電源補償電路包括開關元件，該開關元件用以根據控制信號進行控制，該電源補償電路用以在該開關元件導通時且該第二電源供應器運作供電時產生補償脈沖電流。
10.根據權利要求9所述的集成電路測試設備，其特征在于，該第一電源供應器用以在該開關元件斷路時通過該第一路徑向該待測集成電路裝置的該電源端子供電。
11.根據權利要求9所述的集成電路測試設備，其特征在于，該第一電源供應器用以在該第二電源供應器不運作供電時通過該第一路徑向該待測集成電路裝置的該電源端子供電。
12.根據權利要求9所述的集成電路測試設備，其特征在于，還包含分配給該第二開關元件的驅動器。
13.根據權利要求9所述的集成電路測試設備，其特征在于，該待測集成電路裝置包含在組裝工序后封裝的集成電路裝置。
14.根據權利要求9所述的集成電路測試設備，其特征在于，該待測集成電路裝置包含在組裝工序后封裝的存儲器集成電路裝置。
15.根據權利要求14所述的集成電路測試設備，其特征在于，該存儲器集成電路裝置包含雙倍數據率同步動態隨機存取存儲器。
16.根據權利要求14所述的集成電路測試設備，其特征在于，該存儲器集成電路裝置包含低功率雙倍數據率同步動態隨機存取存儲器。
17.根據權利要求9所述的集成電路測試設備，其特征在于，該電源補償電路用以補償電源電壓降。
18.根據權利要求9所述的集成電路測試設備，其特征在于，該第一電源供應器配置為由軟件應用程序調制以在該電源補償電路發生故障時補償電源電壓降。
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