[發明專利]鏡面形體檢測方法、裝置及系統

在審

• 申請號: 202111544530.9
• 申請日: 2021-12-16
• 公開（公告）號: CN114218795A
• 公開（公告）日: 2022-03-22
• 發明（設計）人: 劉治京;張淑興;位召祥;劉世學;吳昊;荊汝林;林彬
• 申請（專利權）人: 中廣核研究院有限公司;中國廣核集團有限公司;中國廣核電力股份有限公司
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06F17/18;G01M11/02;G01B11/24
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

1.一種鏡面形體檢測方法，其特征在于，包括：

獲取數據采集器投射到定目鏡的鏡面不同位置的采集點參數；

根據所述采集點參數進行非均勻有理B樣條曲面構建，得到所述鏡面對應的擬合鏡面模型；

根據所述擬合鏡面模型和預設理論鏡面模型進行誤差分析，得到所述定目鏡的鏡面形體檢測結果。

2.根據權利要求1所述的鏡面形體檢測方法，其特征在于，所述根據所述采集點參數進行非均勻有理B樣條曲面構建，得到所述鏡面對應的擬合鏡面模型的步驟，包括：

根據所述采集點參數進行插值補充，得到所述鏡面對應的擬合點參數；

根據所述擬合點參數進行非均勻有理B樣條曲面構建，得到所述鏡面對應的擬合鏡面模型。

3.根據權利要求2所述的鏡面形體檢測方法，其特征在于，所述根據所述采集點參數進行插值補充，得到所述鏡面對應的擬合點參數的步驟，包括：

采用距離倒數加權法對所述采集點參數進行插值補充，得到所述鏡面對應的擬合點參數。

4.根據權利要求2所述的鏡面形體檢測方法，其特征在于，所述根據所述擬合點參數進行非均勻有理B樣條曲面構建，得到所述鏡面對應的擬合鏡面模型的步驟，包括：

對所述擬合點參數進行參數方向定義，得到第一參數方向對應的第一截面曲線和第二參數方向對應的第二截面曲線；

根據所述第一參數方向上的擬合點參數和所述第二參數方向上的擬合點參數，得到構建非均勻有理B樣條曲面所需的控制點；

根據所述控制點、所述第一截面曲線和所述第二截面曲線，得到所述鏡面對應的擬合鏡面模型。

5.根據權利要求4所述的鏡面形體檢測方法，其特征在于，所述控制點包括第一控制點和第二控制點；所述根據所述第一參數方向上的擬合點參數和所述第二參數方向上的擬合點參數，得到構建非均勻有理B樣條曲面所需的控制點的步驟，包括：

根據所述第一參數方向上的擬合點參數和預設非均勻有理B樣條曲線控制點反算模型，得到第一控制點；

將所述第一控制點作為所述第二參數方向上的擬合參考點，根據所述預設非均勻有理B樣條曲線控制點反算模型，得到第二控制點。

6.根據權利要求1所述的鏡面形體檢測方法，其特征在于，所述根據所述擬合鏡面模型和預設理論鏡面模型進行誤差分析，得到所述定目鏡的鏡面形體檢測結果的步驟，包括：

采用分割逼近法計算所述擬合鏡面模型到預設理論鏡面模型的最小距離并建立相應的誤差計算模型；

根據所述誤差計算模型、所述擬合鏡面模型下的目標擬合點參數以及該擬合點參數在所述預設理論鏡面模型下對應的原始點參數，得到所述定目鏡的鏡面形體檢測結果。

7.根據權利要求6所述的鏡面形體檢測方法，其特征在于，所述采用分割逼近法計算所述擬合鏡面模型到預設理論鏡面模型的最小距離并建立相應的誤差計算模型的步驟之前，還包括：

分別對所述擬合鏡面模型和預設理論鏡面模型構造局部坐標系，并將所述擬合鏡面模型的局部坐標和所述預設理論鏡面模型的局部坐標進行對齊。

8.一種鏡面形體檢測裝置，其特征在于，包括：

采集點參數獲取模塊，用于獲取數據采集器投射到定目鏡的鏡面不同位置的采集點參數；

擬合鏡面構建模塊，用于根據所述采集點參數進行非均勻有理B樣條曲面構建，得到所述鏡面對應的擬合鏡面模型；

形體檢測模塊，用于根據所述擬合鏡面模型和預設理論鏡面模型進行誤差分析，得到所述定目鏡的鏡面形體檢測結果。

9.一種鏡面形體檢測系統，其特征在于，包括定目鏡、數據采集器和終端設備，所述數據采集器連接所述終端設備，所述數據采集器用于采集所述定目鏡的鏡面不同位置的采集點參數，并發送至所述終端設備，所述終端設備用于根據權利要求1-7任一項所述的方法進行定目鏡的鏡面形體檢測。

10.根據權利要求9所述的鏡面形體檢測系統，其特征在于，所述數據采集器為激光數據采集器。