[發明專利]一種信息技術芯片測試裝置

在審

• 申請號: 202111504041.0
• 申請日: 2021-12-09
• 公開（公告）號: CN114184938A
• 公開（公告）日: 2022-03-15
• 發明（設計）人: 譚文靜
• 申請（專利權）人: 譚文靜
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種信息技術芯片測試裝置，包括殼體和放置件，以及通過第三伸縮件活動設置在殼體內部的測試部件，用于對放置件上放置的芯片進行測試，其特征在于，還包括抽真空機構，用于對芯片進行吸附固定；

所述抽真空機構包括開設在放置件內部的空腔，空腔的內壁開設有穿孔，還包括抽真空部件，用于對空腔的內部進行抽真空；

空腔的內部設置有活動座，活動座靠近測試部件的一側設置有測溫部件；

還包括位于放置件底部的支撐部件，支撐部件和放置件之間設置有與活動座相互磁吸的第一活動部件，第一活動部件的一側設置有第二活動部件；

還包括隨測試部件移動而移動的撥動機構，所述撥動機構包括中空的延伸部件，延伸部件靠近支撐部件的一端活動設置有連接部件，用于與第二活動部件磁吸并撥動第二活動部件水平移動。

2.根據權利要求1所述的一種信息技術芯片測試裝置，其特征在于，所述空腔的底部內壁設置有滾動件，用于在活動座移動時減小活動座與空腔內壁之間的摩擦力。

3.根據權利要求2所述的一種信息技術芯片測試裝置，其特征在于，所述連接部件的一側設置有安裝件，安裝件延伸至延伸部件內部的一端與延伸部件彈性連接。

4.根據權利要求3所述的一種信息技術芯片測試裝置，其特征在于，所述第三伸縮件活塞桿的一端連接有升降部件，升降部件靠近放置件的一側活動設置有轉動件，測試部件位于轉動件靠近放置件的一側；

還包括第二驅動部件，用于驅動轉動件轉動。

5.根據權利要求4所述的一種信息技術芯片測試裝置，其特征在于，還包括清潔機構，用于在測試前后對放置件的表面進行清潔；

所述清潔機構包括清潔部件，還包括第一驅動部件，用于驅動清潔部件轉動。

6.根據權利要求1所述的一種信息技術芯片測試裝置，其特征在于，還包括上料機構，用于對芯片進行上料；

所述上料機構包括儲料殼體，儲料殼體的內部活動設置有升降框，還包括第二伸縮件，用于推動裝有待測試芯片的升降框向上移動。

7.根據權利要求6所述的一種信息技術芯片測試裝置，其特征在于，還包括推動機構，用于將隨升降框移動至放置件頂部的芯片推動至穿孔的開口處；

所述推動機構包括推動部件，以及用于推動推動部件的第一伸縮件。

8.根據權利要求7所述的一種信息技術芯片測試裝置，其特征在于，還包括下料機構，用于對測試完成后的芯片進行下料；

所述下料機構包括活動設置在放置件頂部的下料部件，下料部件靠近穿孔開口的一側開設有凹槽。

9.根據權利要求8所述的一種信息技術芯片測試裝置，其特征在于，所述凹槽的內壁通過彈性件設置有按壓片，按壓片和凹槽內壁之間設置有壓力傳感器；

還包括提示燈。

10.根據權利要求2所述的一種信息技術芯片測試裝置，其特征在于，活動座底部的四周為弧形結構，用于避免活動座移動時與滾動件卡住。