[發(fā)明專(zhuān)利]一種深紫外LED及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111492919.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-12-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114420800A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-04-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郭康賢;程權(quán)煒 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 廣州大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L33/00 | 分類(lèi)號(hào): | H01L33/00;H01L33/12;H01L33/20;H01L33/22;H01L33/48 |
| 代理公司: | 廣州市華學(xué)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245 | 代理人: | 陳文姬 |
| 地址: | 510006 廣東省*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 深紫 led 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種深紫外LED的制備方法,包括以下步驟:(1)在SiC襯底上制備GaN薄膜;(2)在步驟(1)制備得到的GaN薄膜上制備AlN薄膜,得到SiC/GaN/AlN;(3)將SiC/GaN/AlN的AlN薄膜鍵合到藍(lán)寶石襯底的上表面;(4)剝離SiC襯底,然后再利用膜分離技術(shù)去除GaN層,得到藍(lán)寶石/AlN模板襯底;(5)在藍(lán)寶石/AlN模板襯底的AlN薄膜上依次生長(zhǎng)AlGaN過(guò)渡層、n?AlGaN層、量子阱層、p?AlGaN薄膜、p?GaN薄膜和p型電極反射層。本發(fā)明還公開(kāi)了上述方法制備的深紫外LED。本發(fā)明解決了晶格失配而導(dǎo)致AlN存在較多位錯(cuò)的問(wèn)題,同時(shí)提高了深紫外LED的出光效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及深紫外LED領(lǐng)域,特別涉及一種深紫外LED及其制備方法。
背景技術(shù)
氮化鋁作為直接帶隙半導(dǎo)體,禁帶寬度為6.2eV,使其在深紫外光電子器件具有廣泛的應(yīng)用前景,而高性能LED器件的實(shí)現(xiàn)需要高質(zhì)量AlN襯底作為基礎(chǔ)。由于同質(zhì)襯底的缺乏,目前商用化的紫外LED的外延大多采用異質(zhì)襯底,比如硅、碳化硅和藍(lán)寶石。但是硅由于晶格失配和熱失配,對(duì)AlGaN外延有影響,而碳化硅容易吸收360nm的紫外光,因此都不適用于生長(zhǎng)AlN,而盡管藍(lán)寶石也存在晶格失配和熱失配,對(duì)AlGaN外延有影響,但是生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)豐富,而且?guī)缀醪晃?00~400nm紫外光,適合用作生長(zhǎng)AlN的襯底,但是需要解決晶格失配而導(dǎo)致AlN存在較多位錯(cuò)的問(wèn)題。
由于紫外LED外延層中存在大量位錯(cuò)和缺陷,不僅使得晶體質(zhì)量變差,位錯(cuò)還可能會(huì)延伸到量子阱區(qū),作為非輻射復(fù)合中心,降低了復(fù)合效率。此外,由于材料折射率差等問(wèn)題,在芯片和空氣界面存在全反射,嚴(yán)重降低了紫外LED的出光效率。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有技術(shù)的上述缺點(diǎn)與不足,本發(fā)明的目的在于提供一種深紫外LED的制備方法,解決了晶格失配而導(dǎo)致AlN存在較多位錯(cuò)的問(wèn)題。
本發(fā)明的另一目的在于提供上述深紫外LED的制備方法制備得到的深紫外LED,出光效率及強(qiáng)度高。
本發(fā)明的目的通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
一種深紫外LED的制備方法,包括以下步驟:
(1)在SiC襯底上制備GaN薄膜;
(2)在步驟(1)制備得到的GaN薄膜上制備AlN薄膜,得到SiC/GaN/AlN;
(3)將SiC/GaN/AlN的AlN薄膜鍵合到藍(lán)寶石襯底的上表面;
(4)剝離SiC襯底,然后再利用膜分離技術(shù)去除GaN層,得到藍(lán)寶石/AlN模板襯底;
(5)在藍(lán)寶石/AlN模板襯底的AlN薄膜上依次生長(zhǎng)AlGaN過(guò)渡層、n-AlGaN薄膜、量子阱層、p-AlGaN薄膜、p-GaN薄膜和p型電極反射層。
優(yōu)選的,步驟(5)之前還進(jìn)行以下步驟:
對(duì)步驟(4)得到的藍(lán)寶石/AlN模板襯底上的AlN薄膜進(jìn)行刻蝕,使其呈周期性柱狀結(jié)構(gòu)。
優(yōu)選的,所述周期性柱狀結(jié)構(gòu)的AlN柱之間的間距為AlN柱的橫截面尺寸的6%~20%。
優(yōu)選的,所述周期性柱狀結(jié)構(gòu)的AlN柱的頂部為凹半球形。
優(yōu)選的,所述AlGaN過(guò)渡層為Al0.3Ga0.7N薄膜。
優(yōu)選的,所述的深紫外LED的制備方法,還包括以下步驟:將所述藍(lán)寶石襯底的出光面刻蝕為半球形陣列結(jié)構(gòu)。
優(yōu)選的,步驟(3)所述鍵合,具體為:采用原子擴(kuò)散技術(shù)或表面活化技術(shù)進(jìn)行鍵合。
優(yōu)選的,所述GaN薄膜采用金屬有機(jī)化合物化學(xué)氣相制備;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L33-00 至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的專(zhuān)門(mén)適用于光發(fā)射的半導(dǎo)體器件;專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或設(shè)備;這些半導(dǎo)體器件的零部件
H01L33-02 .以半導(dǎo)體為特征的
H01L33-36 .以電極為特征的
H01L33-44 .以涂層為特征的,例如鈍化層或防反射涂層
H01L33-48 .以半導(dǎo)體封裝體為特征的
H01L33-50 ..波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件





