[發(fā)明專利]磁盤狀態(tài)檢測方法、系統(tǒng)、介質(zhì)和存儲設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111421102.7
• 申請日: 2021-11-26
• 公開（公告）號: CN114048106B
• 公開（公告）日: 2022-10-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鄒全
• 申請（專利權(quán)）人: 北京志凌海納科技有限公司
• 主分類號: G06F11/30
• 分類號: G06F11/30;G06F11/34;G06F3/06
• 代理公司: 上海漢聲知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31236
• 代理人: 胡晶

1.一種磁盤狀態(tài)檢測方法，其特征在于，所述的方法包括：

接收并解析第一訪問請求，所述第一訪問請求用于發(fā)起針對所述磁盤的數(shù)據(jù)塊第一讀寫；

在所述數(shù)據(jù)塊處于待檢測狀態(tài)的情況下，根據(jù)所述數(shù)據(jù)塊生成第二訪問請求，添加至待檢測狀態(tài)隊(duì)列；

獲取服務(wù)器集群中對應(yīng)的節(jié)點(diǎn)服務(wù)器在第一預(yù)設(shè)時段的讀寫負(fù)載信息；

在所述第一預(yù)設(shè)時段的所述節(jié)點(diǎn)服務(wù)器讀寫負(fù)載信息滿足第一預(yù)設(shè)性能指標(biāo)的情況下，所述待檢測狀態(tài)隊(duì)列獲取所述第二訪問請求，用于發(fā)起針對待主動寫入磁盤的第二讀寫；

在所述第一讀寫以及所述第二讀寫對應(yīng)的讀寫性能指標(biāo)中的任意一個滿足第二預(yù)設(shè)性能指標(biāo)的情況下,標(biāo)記所述磁盤處于亞健康狀態(tài)；

其中，所述第一預(yù)設(shè)性能指標(biāo)包括節(jié)點(diǎn)服務(wù)器總的單位時間讀寫指令數(shù)量小于節(jié)點(diǎn)服務(wù)器的預(yù)設(shè)單位時間讀寫指令數(shù)量閾值，和/或節(jié)點(diǎn)服務(wù)器總的讀寫速度小于節(jié)點(diǎn)服務(wù)器的預(yù)設(shè)讀寫速度閾值；

所述第二預(yù)設(shè)性能指標(biāo)包括磁盤的第一讀寫和/或第二讀寫平均延遲大于預(yù)設(shè)延遲閾值；磁盤的第一讀寫和/或第二讀寫指令數(shù)量的處理速度小于預(yù)設(shè)指令數(shù)量閾值；磁盤的第一讀寫和/或第二讀寫吞吐量小于預(yù)設(shè)讀寫吞吐量閾值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁盤狀態(tài)檢測方法，其特征在于，生成所述第一讀寫及所述第二讀寫對應(yīng)的數(shù)據(jù)信息，包括：

所述數(shù)據(jù)塊編號、所述磁盤序列號及所述數(shù)據(jù)塊對應(yīng)的數(shù)據(jù)讀寫請求中攜帶的讀寫時間信息；

其中，

所述數(shù)據(jù)信息在第二預(yù)設(shè)時段內(nèi)保存至少一次的所述讀寫時間信息的更新，并生成記錄文件。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種磁盤狀態(tài)檢測方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)塊處于待檢測狀態(tài)的情況包括：

在小于等于第三預(yù)設(shè)時段的所述數(shù)據(jù)信息未更新的情況下，所述數(shù)據(jù)塊處于待檢測狀態(tài)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁盤狀態(tài)檢測方法，其特征在于，所述第一預(yù)設(shè)時段的所述節(jié)點(diǎn)服務(wù)器讀寫負(fù)載信息滿足第一預(yù)設(shè)性能指標(biāo)，包括：

所述節(jié)點(diǎn)服務(wù)器總的單位時間讀寫指令數(shù)量小于所述節(jié)點(diǎn)服務(wù)器的預(yù)設(shè)單位時間讀寫指令數(shù)量閾值，和/或

所述節(jié)點(diǎn)服務(wù)器總的讀寫速度小于所述節(jié)點(diǎn)服務(wù)器的預(yù)設(shè)讀寫速度閾值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁盤狀態(tài)檢測方法，其特征在于，所述待檢測狀態(tài)隊(duì)列獲取所述第二訪問請求用于發(fā)起針對所述待主動寫入磁盤的第二讀寫包括：

獲取所述待主動寫入磁盤的物理地址；

在所述第二訪問請求指向所述物理地址的情況下，發(fā)起針對所述待主動寫入磁盤的所述數(shù)據(jù)塊的所述第二讀寫；

其中，所述待主動寫入磁盤的所述數(shù)據(jù)塊處于所述待檢測狀態(tài)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁盤狀態(tài)檢測方法，其特征在于，所述第一讀寫和/或所述第二讀寫對應(yīng)的讀寫性能指標(biāo)滿足第二預(yù)設(shè)指標(biāo)，包括：

所述磁盤的所述第一讀寫和/或所述第二讀寫平均延遲大于預(yù)設(shè)延遲閾值；

所述磁盤的所述第一讀寫和/或所述第二讀寫指令數(shù)量的處理速度小于預(yù)設(shè)速度閾值；

所述磁盤的所述第一讀寫和/或所述第二讀寫吞吐量小于預(yù)設(shè)讀寫吞吐量閾值；

其中，所述第二預(yù)設(shè)指標(biāo)包括所述預(yù)設(shè)延遲閾值，所述預(yù)設(shè)速度閾值，所述預(yù)設(shè)讀寫吞吐量閾值，

所述第二預(yù)設(shè)指標(biāo)由所述磁盤的類型決定。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁盤狀態(tài)檢測方法，其特征在于，所述的方法還包括：獲取所述磁盤的所述數(shù)據(jù)塊的數(shù)據(jù)讀寫結(jié)果；

在所述數(shù)據(jù)讀寫結(jié)果為失敗的情況下，生成所述數(shù)據(jù)讀寫結(jié)果為失敗的時間序列圖；

在當(dāng)前第四預(yù)設(shè)時段對應(yīng)的所述時間序列圖的趨勢與按時間序列連續(xù)且時間上位于當(dāng)前第四預(yù)設(shè)時段前面的至少一個所述第四預(yù)設(shè)時段的所述趨勢相比呈現(xiàn)增長的情況下，標(biāo)記所述磁盤處于亞健康狀態(tài)。