[發明專利]艦船定位系統浮態瞄星工藝方法在審
| 申請號: | 202111374601.5 | 申請日: | 2021-11-19 |
| 公開(公告)號: | CN114136272A | 公開(公告)日: | 2022-03-04 |
| 發明(設計)人: | 池洪鵬;田慶園;于海東;徐志強 | 申請(專利權)人: | 大連遼南船廠 |
| 主分類號: | G01C1/00 | 分類號: | G01C1/00;G01B11/00 |
| 代理公司: | 大連千益智行專利代理有限公司 21270 | 代理人: | 佟蕊 |
| 地址: | 116014 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 艦船 定位 系統 浮態瞄星 工藝 方法 | ||
本發明公開了艦船定位系統浮態瞄星工藝方法,包括以下步驟:A、定位系統各設備驗收合格;B、定位系統完成設備匹配;C、各分系統完成系泊對接聯調試驗;D、設置艦船瞄星標校用艏艉基準線;E、將全站儀架設在艦船露天甲板中軸線上,保證與艦船運動狀態一致,完成浮態補償;F、選取兩個測量基準點,建立空間三維坐標測量基準;G、將被標校設備或系統和全站儀同時瞄準星體,讀取舷角、俯仰角數值;H、計算被標校設備或系統舷角、俯仰角機械零位誤差;I、根據測量結果完成各設備或系統機械零位校正。本發明通過將測量設備與艦船進行浮態補償,建立空間三維坐標測量系統,可直接在海面漂浮狀態下完成艦船定位系統瞄星標校,節省船塢使用周期。
技術領域
本發明涉及一種艦船定位系統浮態瞄星工藝方法。
背景技術
由于在海面漂浮狀態下開展艦船定位系統瞄星標校工作難度大,一直以來國內各船廠艦船定位系統標校工作均在船塢半坐墩狀態下進行,受風速、水流等環境因素干擾,一般標校塢期需要3~5天,嚴重影響核心資源的有效利用。
發明內容
本發明的目的是提供一種在海面漂浮狀態下開展艦船定位系統浮態瞄星標校的工藝方法。
本發明為實現上述目的所采用的技術方案是:一種艦船定位系統浮態瞄星工藝方法,包括以下步驟:
A、需標校的艦船定位系統設備驗收合格,滿足各自安裝階段精度要求;
B、需標校的各定位系統開機,并調整至工作狀態,保證設備運轉正常;
C、各定位系統完成系泊對接聯調試驗,使其具備常規工作條件下捕捉星體能力;
D、設置艦船瞄星標校用艏艉基準線,即檢驗合格的船體中心線;
E、將全站儀架設在艦船露天甲板艏艉線上,將象限儀放置于全站儀機座上表面,沿艦船艏艉、左右兩個方向觀測數值,調整全站儀支架,直至象限儀數值與艦船實際縱、橫傾值一致,之后關閉傾斜補償功能,保證全站儀與艦船運動狀態一致;
F、將全站儀架設于船體中心線上,調整儀器位置,至船體中心線艏點、艉點和儀器中垂點三點成一線后,將儀器鏡頭朝船艉向后置零;
G、在已檢驗合格的船體中心線上,選取長度不小于3m的線段,在線段艏艉兩端點選取兩個測量基準點,建立空間三維坐標測量基準;
H、將被標校設備或系統和全站儀同時瞄準星體,讀取舷角、俯仰角數值;
I、計算被標校設備或系統舷角、俯仰角機械零位誤差;
J、根據測量結果,以全站儀讀取的舷角、俯仰角數值為基準數據,完成各設備或系統機械零位校正。
所述步驟G中,兩個測量基準點所形成的平面應與艦船設計水線面平行,且前兩個基準點所形成的線段應與艦船中縱剖面平行。
所述步驟H中,多次讀取舷角、俯仰角數值并取平均值。
本發明一種艦船定位系統浮態瞄星工藝方法,通過將測量設備與艦船進行浮態補償,建立空間三維坐標測量系統,完成艦船定位系統海上浮態瞄星標校,節省船塢使用周期,避免艦船進塢標校,顯著提高工作效率。
附圖說明
圖1是本發明一種艦船定位系統浮態瞄星工藝方法的舷角、俯仰角標校示意圖。
具體實施方式
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