[發明專利]最上層工件的提取方法、裝置、設備、介質及產品

在審

• 申請號: 202111335386.8
• 申請日: 2021-11-11
• 公開（公告）號: CN114240960A
• 公開（公告）日: 2022-03-25
• 發明（設計）人: 蘇潤民;董斌;徐朝賢
• 申請（專利權）人: 三一建筑機器人（西安）研究院有限公司
• 主分類號: G06T7/11
• 分類號: G06T7/11;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/60;G06T7/00;G06V10/762
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 白袖龍

本發明提供一種最上層工件的提取方法、裝置、設備、介質及產品，方法包括：獲取料框及工件的原始點云數據；去除原始點云數據中工件間的過渡點云，得到第一點云數據；將第一點云數據分割為多個局部點云，得到第二點云數據；基于預設的點云特征篩選條件，從第二點云數據中提取最上層工件對應的點云數據。本發明提供的最上層工件的提取方法、裝置、設備、介質及產品，通過去除工件間的過渡點云，使工件與工件間的邊界更加清晰，便于準確的分割各工件的點云數據，通過預設的點云特征篩選條件可以高效的提取最上層工件對應的點云數據，提高了最上層工件的提取效率和準確性。

技術領域

本發明涉及圖像處理技術領域，尤其涉及一種最上層工件的提取方法、裝置、設備、介質及產品。

背景技術

在智能化產線，通常使用工業機器人配合3D相機來抓取和處理工件，比如將料框中最上層待處理工件抓取到相應的處理平臺，該過程中最上層工件的提取質量和準確性，將直接影響工件抓取定位精度，進而影響后續處理流程。

現有的最上層工件提取方法，由于需要計算的數據量較多，數據處理效率低，且由于料框中工件與工件之間存在堆疊狀態，通過簡單的圖像分割獲得的最上層工件提取結果不夠準確。

因此，現在亟需一種更加高效、準確的最上層工件提取方法以解決上述問題。

發明內容

本發明提供一種最上層工件的提取方法、裝置、設備、介質及產品，用以解決現有技術中上層工件提取過程數據處理效率低、提取結果不夠準確的缺陷。

第一方面，本發明提供一種最上層工件的提取方法，該方法包括：

獲取料框及工件的原始點云數據；

去除所述原始點云數據中工件間的過渡點云，得到第一點云數據；

將所述第一點云數據分割為多個局部點云，得到第二點云數據；

基于預設的點云特征篩選條件，從所述第二點云數據中提取出最上層工件對應的點云數據。

根據本發明提供的一種最上層工件的提取方法，去除所述原始點云數據中工件間的過渡點云，得到第一點云數據之前，還包括：

去除所述原始點云數據中料框背景點云數據以及料框以外的點云數據。

根據本發明提供的一種最上層工件的提取方法，去除所述原始點云數據中料框背景點云以及料框以外的點云數據，包括：

獲取未放置工件的料框對應的料框點云數據；

根據所述料框點云數據，計算所述未放置工件的料框對應的料框平面傾角和料框高度；

基于所述料框平面傾角和料框高度，將預先構建的標準料框平面點云數據移動至所述料框點云數據中與料框平面進行擬合，得到第一擬合參數；其中，所述第一擬合參數為Z軸上的擬合值；

獲取所述料框點云數據對應的外接矩形，根據所述外接矩形分別確定第二擬合參數和第三擬合參數；其中，所述第二擬合參數為X軸上的擬合值，所述第三擬合參數為Y軸上的擬合值；

基于所述第一擬合參數、第二擬合參數以及第三擬合參數，對所述原始點云數據進行直通濾波，去除所述原始點云數據中料框背景點云數據以及料框以外的點云數據。

根據本發明提供的一種最上層工件的提取方法，去除所述原始點云數據中料框背景點云數據以及料框以外的點云數據之前，還包括：

通過統計濾波去除所述原始點云數據中的散點。

根據本發明提供的一種最上層工件的提取方法，去除所述原始點云數據中工件間的過渡點云，得到第一點云數據，包括：

計算所述原始點云數據中各點到預設數量的鄰近點之間的平均距離，并計算得到各點對應的距離標準差；