[發(fā)明專利]微流體分析設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111216475.0
• 申請日: 2018-06-21
• 公開（公告）號: CN113967488A
• 公開（公告）日: 2022-01-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 托馬斯·亨利·艾薩克;佩德羅·昆哈;艾厄因·謝里丹;大衛(wèi)·拉烏;麗貝卡·帕爾莫;道格拉斯·J·凱利;加雷斯·鮑德
• 申請（專利權(quán)）人: 光投發(fā)現(xiàn)有限公司
• 主分類號: B01L3/00
• 分類號: B01L3/00;C12Q1/6869
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 文潔

1.一種通過光學(xué)介導(dǎo)的電潤濕(oEWOD)在微流體基片上同時操控數(shù)千個微滴的方法，所述方法包括：

快速地創(chuàng)建高度復(fù)雜的暫時電潤濕位置的圖案以便使用被緊密控制的電潤濕力來精確地導(dǎo)控微滴；

其中所述暫時電潤濕位置的圖案包括多個相伴延伸的第一電潤濕路徑；

其中所述暫時電潤濕位置的圖案包括多個第三電潤濕路徑，所述第三電潤濕路徑與第一電潤濕路徑相交以產(chǎn)生至少一個微滴匯聚位置；

利用第二電磁輻射詢檢在所述位置上的微滴并且檢測由每個微滴發(fā)射的任何熒光或拉曼散射。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述多個相伴延伸的第一電潤濕路徑是平行的。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，所述第一電潤濕路徑和所述第三電潤濕路徑彼此成直角相交。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項所述的方法，還包括在所述微滴匯聚位置處合并微滴的步驟。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項所述的方法，其中，使用一個或多個LED作為第二電磁輻射來執(zhí)行詢檢所述微滴的步驟。

6.一種通過光學(xué)介導(dǎo)的電潤濕(oEWOD)同時操控數(shù)千個微滴的設(shè)備，所述設(shè)備包括：

基片，所述基片包括第一介電層；

反射屏，所述反射屏被由LED發(fā)出的光照射，并配置成能夠在第一介電層中快速地創(chuàng)建和破壞高度復(fù)雜的暫時電潤濕位置的圖案，從而使用被緊密控制的電潤濕力使得微滴能夠被精確地導(dǎo)控；

微處理器，所述微處理器被配置成操控作用點以便創(chuàng)建所述微滴沿其通過的路徑，并還配置為使每個微滴的運動相對于彼此同步；以及

熒光或拉曼散射檢測系統(tǒng)，所述熒光或拉曼散射檢測系統(tǒng)包括第二電磁輻射和光電檢測器，所述第二電磁輻射被配置為刺激來自微滴的熒光發(fā)射，所述光電檢測器用于檢測所述熒光發(fā)射。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的設(shè)備，其中所述基片還包括第一復(fù)合壁和第二復(fù)合壁，所述第一復(fù)合壁和所述第二復(fù)合壁包括第一基底和第二基底、第一導(dǎo)體層和第二導(dǎo)體層、光敏層和第一介電層和第二介電層。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的設(shè)備，其中所述第一復(fù)合壁和第二復(fù)合壁還包括分別在所述第一介電層和第二介電層上的第一防污層和第二防污層。

9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的設(shè)備，其中設(shè)置有間隔物以用于保持第一壁和第二壁分開預(yù)定的深度。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述間隔物是柱。

11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述間隔物是珠。

12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述間隔物是脊。

13.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述間隔物設(shè)置為錐形通道。

14.根據(jù)權(quán)利要求6所述的設(shè)備，還包括A/C電源，所述A/C電源附接到導(dǎo)體層以在其間提供10-50伏的范圍的電勢差。