[發明專利]信號檢測天線、方法、系統、裝置、檢測設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202111138623.1 | 申請日: | 2021-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN113871840A | 公開(公告)日: | 2021-12-31 |
| 發明(設計)人: | 顏天佑;蔡蒂;劉福來;盧灝;王學良 | 申請(專利權)人: | 廣東電網有限責任公司廣州供電局 |
| 主分類號: | H01Q1/22 | 分類號: | H01Q1/22;H01Q1/36;H01Q1/38;H01Q1/50;G01R31/12 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 繆成珠 |
| 地址: | 510665 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 信號 檢測 天線 方法 系統 裝置 設備 存儲 介質 | ||
本申請涉及一種信號檢測天線、方法、系統、裝置、檢測設備及存儲介質。該信號檢測天線包括:非對稱構件、雪花形輻射器、信號傳輸構件和信號檢測構件。信號檢測天線中的非對稱構件和信號檢測構件可以輔助雪花形輻射器檢測來自各個方向電力設備輻射的電磁波信號,并且降低下限截止頻率提高檢測帶寬、增大了信號檢測天線的增益,使得該信號檢測天線可以同時滿足帶寬、體積、增益和保真度等性能參數的需求。
技術領域
本申請涉及天線技術領域,特別是涉及一種信號檢測天線、方法、系統、裝置、檢測設備及存儲介質。
背景技術
局部放電對絕緣的破壞作用是一個緩慢發展過程,長期的局部放電會破壞絕緣結構,造成絕緣老化,絕緣失效區域由小變大、由局部擴大到整體,最終發展成貫穿性擊穿或沿面閃絡而引起突發性絕緣故障。目前,局部放電在線監測方法主要有超聲波法和特高頻法。其中,特高頻法具有靈敏度高和抗干擾能力強的優點,在特高頻法局部放電檢測系統中,特高頻天線是核心部件,其優良性能是成功檢測局部放電信號的基本保障。
傳統技術中,特高頻天線按照形狀和原理,大致分為圓盤耦合器、螺旋天線、環形天線、分形天線、Vivaldi天線、微帶單極子天線和立體結構天線。但是,這些天線不能同時滿足檢測過程中對帶寬、體積、增益和保真度等性能參數的需求。
發明內容
基于此,有必要針對上述技術問題,提供一種信號檢測天線、方法、系統、裝置、檢測設備及存儲介質。
一種信號檢測天線,所述信號檢測天線包括:非對稱構件、雪花形輻射器、信號傳輸構件和信號檢測構件;
所述非對稱構件和所述信號傳輸構件分別設置于所述雪花形輻射器的兩端,所述信號傳輸構件和所述信號檢測構件相背設置,所述雪花形輻射器的邊界為Koch向外分形曲線結構。
在其中一個實施例中,所述非對稱構件為非對稱銅條,所述雪花形輻射器為雪花形銅片,所述信號傳輸構件為信號傳輸銅條,所述信號檢測構件為信號檢測銅片。
在其中一個實施例中,所述非對稱銅條包括第一銅條和第二銅條,所述第一銅條和第二銅條之間首尾垂直相連,其中,所述第二銅條的一端與所述第一銅條的一端垂直相連,所述第二銅條的另一端與所述雪花形銅片的上端連接。
在其中一個實施例中,所述第一銅條和所述第二銅條的形狀均為矩形,且所述第一銅條的長度大于第二銅條的長度,所述第一銅條的寬度小于所述第二銅條的寬度。
在其中一個實施例中,所述信號傳輸銅條的形狀為矩形,且所述信號傳輸銅條的寬度小于所述第一銅條的寬度和所述第二銅條的寬度。
在其中一個實施例中,所述信號檢測天線還包括絕緣板,所述非對稱銅條、所述雪花形銅片和所述信號傳輸銅條均設置于所述絕緣板的正面,所述信號檢測銅片設置于所述絕緣板的下部背面。
在其中一個實施例中,所述絕緣板的表面積大于所述非對稱銅條、所述雪花形銅片、所述信號傳輸銅條和所述信號檢測銅片的表面積之和。
在其中一個實施例中,所述絕緣板的形狀為正方形,且材質為聚四氟乙烯。
一種信號檢測方法,所述方法包括:
獲取特高頻天線檢測到的電磁波信號;其中,所述特高頻天線為上述任一實施例中的信號檢測天線;
對所述電磁波信號進行分析處理,得到分析結果;
將所述分析結果的特征與標準局部放電譜圖特征進行比較,并根據比較結果確定所述電磁波信號為局部放電信號。
在其中一個實施例中,所述將所述分析結果的特征與標準局部放電譜圖特征進行比較,并根據比較結果確定所述電磁波信號為局部放電信號,包括:
若所述分析結果的特征與標準局部放電譜圖特征一致,則將所述電磁波信號確定為所述局部放電信號。
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