[發明專利]一種鋰電池隔膜的顆粒檢測方法、裝置及系統

在審

• 申請號: 202111137156.0
• 申請日: 2021-09-27
• 公開（公告）號: CN114046748A
• 公開（公告）日: 2022-02-15
• 發明（設計）人: 張俊峰;徐永昌;顧宏文;藍明觀;梁錦堂
• 申請（專利權）人: 廣州超音速自動化科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/28
• 分類號: G01B11/28;G01N15/00
• 代理公司: 北京隆達恒晟知識產權代理有限公司 11899
• 代理人: 楊青

1.一種鋰電池隔膜的顆粒檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟S1：獲取所述鋰電池隔膜經過輥軸時的圖像；

步驟S2：獲取所述圖像上的測量區域面積；

步驟S3：測量所述圖像上的測量區域內各個顆粒的面積；

步驟S4：計算所述圖像上的測量區域內所有所述顆粒的面積之和；

步驟S5：根據所述測量區域面積以及所有顆粒的面積之和計算得到所述測量區域的顆粒面積覆蓋率。

2.根據權利要求1所述的鋰電池隔膜的顆粒檢測方法，其特征在于：所述步驟S3具體包括：獲取各個所述顆粒的區域，進一步計算各個所述顆粒的區域內所覆蓋的像素點數量，最后將所述像素點數量乘以單個像素點的面積以得到各個顆粒的面積。

3.根據權利要求1所述的鋰電池隔膜的顆粒檢測方法，其特征在于：所述步驟S5中根據以下計算公式計算得到所述測量區域的顆粒面積覆蓋率：

測量區域的顆粒面積覆蓋率＝(測量區域內所有顆粒的面積之和/測量區域面積)*100％。

4.根據權利要求1所述的鋰電池隔膜的顆粒檢測方法，其特征在于：將所述鋰電池隔膜劃分為多個測量區域，在計算得到一個所述測量區域的顆粒面積覆蓋率之后，繼續重復執行所述步驟S1-S5以計算得到下一個測量區域的顆粒面積覆蓋率，直至計算得到所有測量區域的顆粒面積覆蓋率。

5.根據權利要求4所述的鋰電池隔膜的顆粒檢測方法，其特征在于：在計算得到所有測量區域的顆粒面積覆蓋率之后還包括：以SPC圖形展示各個所述測量區域的顆粒面積覆蓋率數據。

6.根據權利要求1所述的鋰電池隔膜的顆粒檢測方法，其特征在于：在所述步驟S5之后還包括：判斷所述測量區域的顆粒面積覆蓋率是否處于預設的面積覆蓋率合格范圍內，若是則所述測量區域的顆粒檢測結果為合格。

7.一種鋰電池隔膜的顆粒檢測裝置，其特征在于，包括：

圖像獲取模塊，用于獲取所述鋰電池隔膜經過輥軸時的圖像；

區域面積獲取模塊，用于獲取所述圖像上的測量區域面積；

顆粒面積計算模塊，用于測量所述圖像上的測量區域內各個顆粒的面積；

所述顆粒面積計算模塊還用于計算所述圖像上的測量區域內所有所述顆粒的面積之和；

面積覆蓋率計算模塊，用于根據所述測量區域面積以及所有顆粒的面積之和計算得到所述測量區域的顆粒面積覆蓋率。

8.一種鋰電池隔膜的顆粒檢測系統，其特征在于，包括：線陣相機以及如權利要求7所述的顆粒檢測裝置，所述線陣相機與所述圖像獲取模塊連接，所述線陣相機用于抓拍所述鋰電池隔膜經過輥軸時的圖像。

9.一種電子設備，包括存儲器、處理器以及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于：所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1-6任一項所述的鋰電池隔膜的顆粒檢測方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于：所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1-6任一項所述的鋰電池隔膜的顆粒檢測方法。