[發明專利]一種對象檢測方法、裝置、介質和電子設備在審
| 申請號: | 202111115532.6 | 申請日: | 2021-09-23 |
| 公開(公告)號: | CN113869298A | 公開(公告)日: | 2021-12-31 |
| 發明(設計)人: | 王法爭;蔡苗苗;劉華平;曹偲 | 申請(專利權)人: | 杭州網易云音樂科技有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/20 | 分類號: | G06K9/20;G06K9/46;G06K9/62;G06N3/04;G06T3/40;G06T7/62 |
| 代理公司: | 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415 | 代理人: | 林祥 |
| 地址: | 310052 浙江省杭州市蕭山區錢江世*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 對象 檢測 方法 裝置 介質 電子設備 | ||
1.一種對象檢測方法,其特征在于,包括:
對輸入圖像進行特征提取,得到用于檢測第一對象的第一特征圖與用于檢測第二對象的第二特征圖;其中,所述第一對象在所述輸入圖像中占據的區域小于所述第二對象在所述輸入圖像中占據的區域;
針對所述第一特征圖包含的至少部分像素生成第一數量的第一先驗框,并基于生成的所述第一先驗框,檢測所述第一對象;
針對所述第二特征圖包含的至少部分像素生成第二數量的第二先驗框,并基于生成的所述第二先驗框,檢測所述第二對象;其中,所述第一數量小于所述第二數量。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對輸入圖像進行特征提取,得到第一特征圖與第二特征圖,包括:
對輸入圖像進行預設次數的下采樣,并在每次下采樣之后得到采樣特征圖;其中,每一次下采樣輸出的采樣特征圖是下一次下采樣的輸入;
基于每次下采樣之后得到的所述采樣特征圖,得到第一特征圖與第二特征圖。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于每次下采樣之后得到的所述采樣特征圖,得到第一特征圖與第二特征圖,包括:
將基于每次下采樣之后得到的所述采樣特征圖中第一分辨率的第一采樣特征圖確定為所述第一特征圖,第二分辨率的第二采樣特征圖確定為所述第二特征圖;
或,
在每次下采樣之后得到的所述采樣特征圖中,將第三分辨率的第三采樣特征圖,和比該第三采樣特征圖分辨率低的至少一張采樣特征圖進行融合,得到所述第一特征圖,以及,
將第四分辨率的第四采樣特征圖,和比該第四采樣特征圖的分辨率低的至少一張采樣特征圖進行融合,得到所述第二特征圖;
或,
在每次下采樣之后得到的所述采樣特征圖中,將第五分辨率的第五采樣特征圖,和比該第五采樣特征圖分辨率低的至少一張采樣特征圖進行融合,得到所述第二特征圖,以及,
將第六分辨率的第六采樣特征圖,和所述第二特征圖進行融合,得到所述第一特征圖;所述第五分辨率小于所述第六分辨率。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,針對目標特征圖包含的至少部分像素生成目標數量的目標先驗框,包括:
獲取與所述目標特征圖對應的第一預設值,第二預設值;
基于所述第一預設值與所述第二預設值,生成每一所述目標先驗框的邊長;
基于生成的所述邊長,針對所述目標特征圖包含的至少部分像素生成所述目標數量的目標先驗框;
其中,所述目標特征圖包括第一特征圖或第二特征圖;在所述目標特征圖為第一特征圖的情形下,所述目標數量為第一數量,所述目標先驗框為第一先驗框;在所述目標特征圖為第二特征圖的情形下,所述目標數量為第二數量,所述目標先驗框為第二先驗框。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,在所述目標特征圖為第一特征圖的情形下,所述第一數量為四,所述第一先驗框包括邊長不同的第一正方形先驗框、第二正方形先驗框,以及第一長方形先驗框和第二長方形先驗框,所述第一長方形先驗框為豎框,所述第二長方形為橫框。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,基于生成的目標先驗框,檢測目標對象,包括:
對所述目標先驗框進行調整,得到預測框;
基于對所述預測框在目標特征圖中圍成的區域圖像進行分類得到的分類結果,以及預設的檢測框篩選方法,得到所述目標對象的檢測框,以完成對象檢測;
其中,所述目標先驗框包括第一先驗框或第二先驗框;在所述目標先驗框為第一先驗框的情形下,所述目標特征圖為第一特征圖,所述目標對象為第一對象,在所述目標先驗框為第二先驗框的情形下,所述目標特征圖為第二特征圖,所述目標對象為第二對象。
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