[發明專利]一種LED線路板測試方法

在審

• 申請號: 202111044722.3
• 申請日: 2021-09-07
• 公開（公告）號: CN113721132A
• 公開（公告）日: 2021-11-30
• 發明（設計）人: 陳志宇;喬鵬程;趙宏靜
• 申請（專利權）人: 廣東通元精密電路有限公司;通元科技（惠州）有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01B11/00
• 代理公司: 深圳眾鼎匯成知識產權代理有限公司 44566
• 代理人: 朱業剛

1.一種LED線路板測試方法，其特征在于，包括：

基于預設的區域拆分方式，將LED線路板的焊錫面測試點陣拆分為N個測試子網絡點陣，每個所述測試子網絡點陣具有相同的電路連接關系，且和所述LED線路板的零件面測試點陣之間存在相同的電連接關系，所述焊錫面測試點陣和所述測試子網絡點陣為行列式矩陣，所述焊錫面測試點陣與所述LED線路板上的LED焊盤一一對應，所述零件面測試點陣與所述LED線路板上的元器件焊盤一一對應，其中，N為大于0的正整數；

在每個所述測試子網絡點陣上設置M個對位光學點，其中，M為大于0的正整數；

根據所述零件面測試點陣和所述測試子網絡點陣在測試治具上種測試針，所述測試治具上設置有CCD攝像設備；

在測試LED線路板時，通過所述CCD攝像設備捕捉所述對位光學點的位置；

根據所述對位光學點的位置對所述測試子網絡點陣進行定位，并采用種有測試針的測試治具依次對N個所述測試子網絡點陣進行測試。

2.如權利要求1所述的LED線路板測試方法，其特征在于，所述零件面測試點陣包括有Y個零件面測試點，種測試針的數量為Y個，所述測試子網絡點陣包括X個焊錫面測試點，種測試針的數量為Y/N個，其中，X、Y為大于0的正整數。

3.如權利要求2所述的LED線路板測試方法，其特征在于，所述零件面測試點與其對應的所述焊錫面測試點之間有電連接關系。

4.如權利要求1至3任一項所述的LED線路板測試方法，其特征在于，所述測試子網絡點陣中第n列和第n+1列的焊錫面測試點之間間隔N-1列焊錫面測試點，其中，所述N-1列焊錫面測試點為剩余所述測試子網絡點陣的第n列焊錫面測試點，其中，n為大于0的正整數。

5.如權利要求1至3任一項所述的LED線路板測試方法，其特征在于，所述測試子網絡點陣中第n列與第n+1列的焊錫面測試點相鄰，且第n+1列和第n+2列的焊錫面測試點之間間隔2*(N-1)列焊錫面測試點，其中，所述2*(N-1)列焊錫面測試點為剩余所述測試子網絡點陣的第n列和第n+1列焊錫面測試點，其中，n為大于0的正整數。

6.如權利要求1所述的LED線路板測試方法，其特征在于，所述采用種有測試針的測試治具依次對N個所述測試子網絡點陣進行測試包括：

將所述測試治具安裝在測試機上，其中，所述測試治具包括上模和下模，所述上模用于種與所述測試子網絡點陣對應的測試針，所述下模用于種與所述零件面測試點陣對應的測試針，所述測試機包括上臺面和下臺面，所述下膜安裝在所述下臺面，所述上模安裝在所述上臺面，且所述上臺面帶有移位測試功能；

將所述LED線路板通過夾爪機構設置在所述下模和所述上模之間，其中，所述測試子網絡點陣與所述上模接觸，所述零件面測試點陣與所述下模接觸；

在測試LED線路板時，通過移動所述上臺面，依次對所述測試子網絡點陣進行測試，且所述下臺面維持不動。

7.如權利要求6所述的LED線路板測試方法，其特征在于，所述通過移動所述上臺面，依次對所述測試子網絡點陣進行測試包括：

在對N個所述測試子網絡點陣中的其中一個測試子網絡點陣完成測試后，所述上臺面自動移動到下一個定位好的測試子網絡點陣進行測試，直至依次完成對N個所述測試子網絡點陣的測試。