[發明專利]一種TP支架水平檢測線

有效

• 申請號: 202111006936.1
• 申請日: 2021-08-30
• 公開（公告）號: CN113680688B
• 公開（公告）日: 2023-01-24
• 發明（設計）人: 王兼;嚴樹剛;陳文科
• 申請（專利權）人: 重慶世達科技有限公司
• 主分類號: B07C5/10
• 分類號: B07C5/10;B07C5/36;B07C5/02
• 代理公司: 重慶天成卓越專利代理事務所(普通合伙) 50240
• 代理人: 譚春艷

本發明提出了一種TP支架水平檢測線，包括轉盤，圍繞轉盤上方依次劃分有上料工位、激光檢測工位和分揀工位，轉盤底部設有帶動其間歇轉動的轉動電機，轉盤上圍繞轉盤的轉動中心均勻分布有若干個治具，并通過轉動電機將治具依次轉動至上料工位、激光檢測工位和分揀工位；激光檢測工位設有用于檢測水平數據的激光檢測器和壓緊機構，激光檢測器的檢測頭朝下設置，激光檢測器的檢測頭朝下設置，壓緊機構包括伸出端朝下設置的壓緊氣缸、與壓緊氣缸伸出端連接的豎向設置的連接桿和安裝在連接桿底部的壓手，壓緊氣缸位于激光檢測器的后側，連接桿的頂端與壓緊氣缸伸出端連接。能夠有效檢測出TP支架的表面平整度的數據，并對合格與不合格的產品進行分揀。

技術領域

本發明涉及激光水平檢測技術領域，具體涉及一種TP支架水平檢測線。

背景技術

時至今日，越來越多的電子產品融入到我們的生活中，并時時刻刻改變著我們的生活。在電子產品的制造過程中，為提高產品的質量，需要對電子產品進行水平檢測，尤其是TP支架這種筆記本的重要零件。TP支架在加工成型后，需要檢測其表面平整度。常見的TP支架激光水平檢測均是采用人工的方式進行一個一個地檢測，這樣地檢測方式工作效率低下，同時還容易存在誤差。檢測完成后，還通過人工對合格或不合格地產品進行分揀，費時費力，影響工作效率。特此研發一種可以自動檢測出TP支架的表面平整度并自動分揀地的水平檢測生產線。

發明內容

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題，特別創新地提出了一種TP支架水平檢測線，能夠有效檢測出TP支架的表面平整度的數據，并對合格與不合格的產品進行分揀。

為了實現本發明的上述目的，本發明提供了一種TP支架水平檢測線，包括轉盤，圍繞轉盤上方依次劃分有上料工位、激光檢測工位和分揀工位，所述轉盤底部設有帶動其間歇轉動的轉動電機，所述轉盤上圍繞轉盤的轉動中心均勻分布有若干個治具，并通過轉動電機將治具依次轉動至上料工位、激光檢測工位和分揀工位；

所述激光檢測工位設有用于檢測水平數據的激光檢測器和用于壓住TP支架的壓緊機構，所述激光檢測器的檢測頭朝下設置，所述激光檢測器的檢測頭朝下設置，所述壓緊機構包括伸出端朝下設置的壓緊氣缸、與壓緊氣缸伸出端連接的豎向設置的連接桿和安裝在連接桿底部的壓手，所述壓緊氣缸位于激光檢測器的后側，所述連接桿的頂端與壓緊氣缸伸出端連接；

所述壓手包括左右間隔設置的壓緊支架，兩個壓緊支架的四個角上分別設置有向外延伸的壓塊支桿，兩個所述壓緊支架相鄰的兩個壓塊支桿之間通過橫向設置的橫桿連接在一起，每個壓塊支桿外端的底部均設有用于壓在TP支架上的壓緊塊，所有的壓緊塊呈矩陣分布；

所述連接桿為由豎向部分和位于下側的橫向部分連成的L形桿，所述壓手的位于后側橫桿的中部設有向后延伸的連接支桿，并通過連接支桿與橫向部分連接，使得所述壓手位于激光檢測器的正下方。

上述方案中：所述分揀工位包括良品下料機構和次品下料機構，所述良品下料機構和次品下料機構沿轉盤的轉動方向間隔設置。能夠根據檢測結果，直接進行良次品分揀，便于直截了當地分離出次品，避免良次混合。

上述方案中：所述良品下料機構和次品下料機構均包括固設在轉盤上方的橫向設置的軌道，所述軌道的末端延伸到轉盤外，所述軌道上設有滑動座，所述滑動座上設有伸出端朝下設置的取件氣缸，所述取件氣缸的伸出端連接有吸取爪，通過吸取爪吸取工件。

上述方案中：所述吸取爪包括取件支架，所述取件支架與取件氣缸的伸出端固定連接，所述取件支架的底部設有若干個吸盤，所述吸盤連通有氣管，所述氣管末端聯通氣體輸送機構，通過氣體輸送機構調節吸盤正負壓，以此將吸取TP支架。采用吸盤地方式吸取工件，相比夾爪，能夠避免在工件上留下夾痕，保護工件。同時采用氣體輸送機構調節吸盤的正負壓，能夠很好的把握吸取時間，穩定高效。