[發(fā)明專利]鬼像測試方法、鬼像測試系統(tǒng)和計算機可讀存儲介質

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• 申請?zhí)枺?/td>: 202111000192.2
• 申請日: 2021-08-30
• 公開（公告）號: CN113852803A
• 公開（公告）日: 2021-12-28
• 發(fā)明（設計）人: 彭旭;韓欣欣
• 申請（專利權）人: 歌爾光學科技有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00;G06T7/00;G06T7/62
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 張志江

1.一種鬼像測試方法，其特征在于，所述鬼像測試方法包括步驟：

光源向待測光學系統(tǒng)發(fā)出檢測光線；其中，所述檢測光線經所述待測光學系統(tǒng)傳播后，能于所述待測光學系統(tǒng)的像面形成檢測圖像；

采樣相機于所述待測光學系統(tǒng)的像面采樣，以獲取所述檢測圖像，光功率計于所述待測光學系統(tǒng)的像面檢測，以獲取主光線的光功率及雜光的光功率；以及

處理器獲取鬼像彌散比和雜光能量比；其中，所述檢測圖像包括主像以及鬼像，所述主光線于所述待測光學系統(tǒng)的像面形成所述主像，所述雜光于所述待測光學系統(tǒng)的像面形成所述鬼像，所述鬼像彌散比為所述鬼像與所述主像的面積之比，所述雜光能量比為所述雜光與所述主光線的光功率之比。

2.如權利要求1所述的鬼像測試方法，其特征在于，所述處理器獲取鬼像彌散比和雜光能量比的步驟之后還包括步驟：

當所述鬼像彌散比大于第一閾值且所述雜光能量比小于第二閾值時，處理器判定所述待測光學系統(tǒng)的鬼像滿足要求。

3.如權利要求1所述的鬼像測試方法，其特征在于，所述處理器獲取鬼像彌散比的步驟具體為：

處理器獲取所述檢測圖像；

處理器獲取所述鬼像的面積及所述主像的面積，并獲取所述鬼像彌散比；

處理器計算所述鬼像的面積與所述主像的面積的比值，以獲取所述鬼像彌散比。

4.如權利要求3所述的鬼像測試方法，其特征在于，所述處理器獲取所述鬼像的面積的步驟具體為：

處理器將所述鬼像擬合為橢圓；

處理器以橢圓面積公式計算所述鬼像的面積。

5.如權利要求1所述的鬼像測試方法，其特征在于，所述光功率計包括第一探頭和第二探頭，所述第一探頭設于所述主像所在的區(qū)域，所述第二探頭設于所述鬼像所在的區(qū)域，所述主像所在的區(qū)域和所述鬼像所在的區(qū)域具有重合區(qū)域，所述第一探頭和所述第二探頭中的至少一者不位于所述重合區(qū)域；

所述處理器獲取雜光能量比的步驟具體為：

處理器獲取所述第一探頭檢測的第一光功率及所述第二探頭檢測的第二光功率；

處理器獲取主光線的光功率及雜光的光功率，并計算所述雜光能量比。

6.如權利要求5所述的鬼像測試方法，其特征在于，所述處理器獲取所述第一探頭檢測的第一光功率及所述第二探頭檢測的第二光功率的步驟之前還包括步驟：

處理器判斷所述主像所在的區(qū)域或所述鬼像所在的區(qū)域是否具有位于所述重合區(qū)域外的獨立區(qū)域；

若所述主像所在的區(qū)域和所述鬼像所在的區(qū)域均具有位于所述重合區(qū)域外的獨立區(qū)域，則令所述第一探頭設置于所述主像的獨立區(qū)域，所述第二探頭設置于所述鬼像的獨立區(qū)域。

7.如權利要求6所述的鬼像測試方法，其特征在于，所述處理器判斷所述主像所在的區(qū)域或所述鬼像所在的區(qū)域是否具有位于所述重合區(qū)域外的獨立區(qū)域的步驟之后，還包括步驟：

若僅所述鬼像所在的區(qū)域具有位于所述重合區(qū)域外的獨立區(qū)域，則所述處理器判定所述待測光學系統(tǒng)的鬼像滿足要求。

8.如權利要求1至7任一項所述的鬼像測試方法，其特征在于，所述光源為點光源；

和/或，所述檢測光線為均勻白光；

和/或，至少所述暗箱的內壁的材質為防反光材質；

和/或，所述采樣相機為CCD相機或CMOS相機。

9.一種鬼像測試系統(tǒng)，其特征在于，所述鬼像測試系統(tǒng)包括用于容置待測光學系統(tǒng)的暗箱以及設于所述暗箱內的光源、采樣相機、光功率計，所述鬼像測試系統(tǒng)還包括存儲器、與所述采樣相機和所述光功率計電連接的處理器、以及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的鬼像測試程序，所述鬼像測試程序被所述處理器執(zhí)行時，實現(xiàn)如權利要求1至8任一項所述的鬼像測試方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有鬼像測試程序，所述鬼像測試程序被處理器執(zhí)行時，實現(xiàn)如權利要求1至8任一項所述的鬼像測試方法的步驟。