[發(fā)明專利]樣本處理裝置、測(cè)定裝置及測(cè)定方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110995149.8
• 申請(qǐng)日: 2021-08-27
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114107029A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-03-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 大上創(chuàng)一;佐佐木規(guī)彰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 希森美康株式會(huì)社
• 主分類號(hào): C12M1/38
• 分類號(hào): C12M1/38;C12M1/00
• 代理公司: 北京市安倫律師事務(wù)所 11339
• 代理人: 楊永波

本發(fā)明能夠于在反應(yīng)工序中加熱反應(yīng)容器的樣本處理裝置中，防止用戶誤接觸溫度調(diào)節(jié)部。該樣本處理裝置（1）是一種對(duì)反應(yīng)容器（50）中收放的樣本進(jìn)行處理的裝置，其具備：供反應(yīng)容器（50）設(shè)置的設(shè)置部（10）、對(duì)設(shè)置部（10）中設(shè)置的反應(yīng)容器（50）進(jìn)行加熱的溫度調(diào)節(jié)部（20）、能向開(kāi)放溫度調(diào)節(jié)部（20）的第1位置（P1）和覆蓋溫度調(diào)節(jié)部（20）的第2位置（P2）移動(dòng)的開(kāi)合構(gòu)件（40）。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及樣本處理裝置、測(cè)定裝置及測(cè)定方法。

背景技術(shù)

在專利文獻(xiàn)1中，公開(kāi)了一種如圖22所示的，在核酸擴(kuò)增用盒901中進(jìn)行核酸的擴(kuò)增及測(cè)定的核酸分析裝置900。核酸分析裝置900具備溫調(diào)機(jī)構(gòu)902和測(cè)光機(jī)構(gòu)903。溫調(diào)機(jī)構(gòu)902具有加熱塊904，加熱塊904中形成有與核酸擴(kuò)增用盒901的反應(yīng)檢測(cè)部901a的外觀形狀對(duì)應(yīng)的凹部904a。核酸擴(kuò)增用盒901的反應(yīng)檢測(cè)部901a放置于加熱塊904的凹部904a。核酸和核酸擴(kuò)增及測(cè)定所需試劑收放于反應(yīng)檢測(cè)部901a。溫調(diào)機(jī)構(gòu)902讓加熱塊904的溫度以一定循環(huán)向95℃、54℃、45℃各溫度變化，讓核酸擴(kuò)增。測(cè)光機(jī)構(gòu)903具有發(fā)光部903a及接收部903b，介由加熱塊904中形成的貫通孔904b監(jiān)控?zé)晒獾牧俊?/p>

現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：再公表專利第2005/118772號(hào)。

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題

上述專利文獻(xiàn)1中，核酸擴(kuò)增用盒901設(shè)置在加熱塊904的上側(cè)面上，因此在取下了核酸擴(kuò)增用盒901的狀態(tài)下，加熱塊904在核酸分析裝置900內(nèi)露出。因此，有用戶碰觸到加熱塊904的可能性。加熱塊904加熱到95℃，取下了測(cè)定完成的核酸擴(kuò)增用盒901的加熱塊904會(huì)維持在高溫狀態(tài)，在將其他核酸擴(kuò)增用盒901新放置在加熱塊904的上側(cè)面上時(shí)，用戶可能會(huì)誤接觸到高溫狀態(tài)的加熱塊904。

本發(fā)明目的在于：于在反應(yīng)工序中加熱反應(yīng)容器的樣本處理裝置、測(cè)定裝置及測(cè)定方法中，防止用戶誤接觸溫度調(diào)節(jié)部。

解決技術(shù)問(wèn)題的技術(shù)手段

為達(dá)成上述目的，本發(fā)明第1層面的樣本處理裝置如圖1所示，是一種對(duì)反應(yīng)容器（50）中收放的樣本進(jìn)行處理的樣本處理裝置，其具備：供反應(yīng)容器（50）設(shè)置的設(shè)置部（10）、對(duì)設(shè)置在設(shè)置部（10）的反應(yīng)容器（50）進(jìn)行加熱的溫度調(diào)節(jié)部（20）、以及能向開(kāi)放溫度調(diào)節(jié)部（20）的第1位置（P1）和覆蓋溫度調(diào)節(jié)部（20）的第2位置（P2）移動(dòng)的開(kāi)合構(gòu)件（40）。

如上所述，本發(fā)明的樣本處理裝置具備能向開(kāi)放溫度調(diào)節(jié)部（20）的第1位置（P1）和覆蓋溫度調(diào)節(jié)部（20）的第2位置（P2）移動(dòng)的開(kāi)合構(gòu)件（40）。由此，在從設(shè)置部（10）去除反應(yīng)容器（50）時(shí)，通過(guò)移動(dòng)至第2位置（P2）的開(kāi)合構(gòu)件（40）能夠覆蓋溫度調(diào)節(jié)部（20），阻擋對(duì)溫度調(diào)節(jié)部（20）的接近。因此，通過(guò)第2位置（P2）的開(kāi)合構(gòu)件（40）能夠防止用戶接觸溫度調(diào)節(jié)部（20）。且在將反應(yīng)容器（50）設(shè)置在設(shè)置部（10）時(shí)，讓開(kāi)合構(gòu)件（40）向第1位置（P1）移動(dòng)，由此不會(huì)被開(kāi)合構(gòu)件（40）阻擋，能夠?qū)⒎磻?yīng)容器（50）配置在由溫度調(diào)節(jié)部（20）進(jìn)行加熱的位置，來(lái)進(jìn)行通過(guò)加熱進(jìn)行的反應(yīng)工序。以上，于在反應(yīng)工序中加熱反應(yīng)容器（50）的樣本處理裝置（1）中，能夠防止用戶誤接觸溫度調(diào)節(jié)部（20）。

如圖1及圖2所示，本發(fā)明第2層面的測(cè)定方法是使用測(cè)定試樣的測(cè)定裝置（100）的測(cè)定方法，其中，通過(guò)溫度調(diào)節(jié)部（20）加熱由用戶設(shè)置在測(cè)定裝置（100）的反應(yīng)容器（50），分取并測(cè)定由溫度調(diào)節(jié)部（20）加熱過(guò)的反應(yīng)容器中（50）的試樣，試樣分取后，通過(guò)能夠移動(dòng)的開(kāi)合構(gòu)件（40）覆蓋由用戶取下了反應(yīng)容器（50）的溫度調(diào)節(jié)部（20）的上側(cè)面（20a）。